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本次课主要内容:) X2 ~; e/ A% e- a# V+ b- {
$ L7 d% p7 K0 E8 e* ^. H+ F2 p( N/ z
第四章 失效分析
3 I% v8 L+ s+ t4.1 失效模式与失效机理
* ~0 ^8 b9 ]0 a R, b) K- Z8 Q4.2 失效模型
% A* M% W* B" Q. z4.3 失效分析的内容与程序
/ a- M3 N- ~3 D+ a) X- V4.4 微分析的物理基础
+ @# o" D5 `, \9 z4 a {% n6 U4 v' t: |5 \, k3 n/ k [
补充材料:失效分析图片* N: B/ p8 O% z2 p; G U- l
; Y% R7 R* T' j) J9 ^ g0 j本次课要点:
( x8 M: K. D9 b8 C6 ]. N) X: ~1、失效模式与失效机理定义区别
1 r8 M- B6 t$ c' a! z' }2、了解几种失效模型;& r$ K: h. H5 K$ n4 M
3、掌握失效分析基本原则程序;: X; r l0 O# _3 Q) L+ H
4、了解微分析技术的物理基础。$ _3 k( K0 g- O! j' Z' m) X
g3 M8 O3 s( y1 @# [7 m
附件:
微电子器件可靠性的失效分析.zip
(6.16 MB, 下载次数: 1)
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