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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
本次课主要内容:) X2 ~; e/ A% e- a# V+ b- {
$ L7 d% p7 K0 E8 e* ^. H+ F2 p( N/ z
第四章 失效分析
3 I% v8 L+ s+ t4.1 失效模式与失效机理
* ~0 ^8 b9 ]0 a  R, b) K- Z8 Q4.2 失效模型
% A* M% W* B" Q. z4.3 失效分析的内容与程序
/ a- M3 N- ~3 D+ a) X- V4.4 微分析的物理基础
+ @# o" D5 `, \9 z4 a  {% n6 U4 v' t: |5 \, k3 n/ k  [
补充材料:失效分析图片* N: B/ p8 O% z2 p; G  U- l

; Y% R7 R* T' j) J9 ^  g0 j本次课要点:
( x8 M: K. D9 b8 C6 ]. N) X: ~1、失效模式与失效机理定义区别
1 r8 M- B6 t$ c' a! z' }2、了解几种失效模型;& r$ K: h. H5 K$ n4 M
3、掌握失效分析基本原则程序;: X; r  l0 O# _3 Q) L+ H
4、了解微分析技术的物理基础。$ _3 k( K0 g- O! j' Z' m) X
  g3 M8 O3 s( y1 @# [7 m
附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1) 7 {2 J3 u. v2 z5 S8 h- i) h

% b9 B7 Y% f7 Z8 j( p4 Y

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断) V  s5 X- _+ J$ ?5 O# x
这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。6 q* y+ K. S7 z, c0 ?
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。6 N6 q: C5 h" X* w0 R/ L
      (应力不增加额外的失效模式)
# |5 `; u5 D8 C3 }, ?. t7 R
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-22 15:53
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    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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