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失效分析(一)

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发表于 2020-3-9 15:02 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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失效分析
. w3 D0 X; S  K0 I失效分析的总章与目录。- J3 `6 m- P& S

  [! V% K( I) \% ~$ ?失效分析基础; \, Z1 G" |5 e4 y2 L2 o
l 可靠性工作的目的,失效分析的理论基础、工作思路
1 [3 U& @9 R, J. k5 K& C+ K+ H. F4 g0 i# P/ h
l 术语定义与解释:失效、缺陷、失效分析、失效模式、失效机理、应力……
: h7 M; o8 g  _4 Z4 v' h) L( @' i+ I5 J* L& x5 i
l 失效分析的问题来源、入手点、输出物、相关标准  O3 W' E7 M6 p

9 G$ j  F& v# s" x- ?9 Z失效分析技术方法) j2 ~( I) p( `1 E" R
A、失效分析的原则" o8 @' h+ Q/ c" k

  A' o5 ?7 c; XB、失效分析程序' u! I) G0 U" G" V. |

$ E4 x4 o2 C: U: f0 ~; ]l 完整的故障处理流程
" Y+ |+ s5 l/ \) d1 U0 {3 I: s. Q( s+ H- I' B6 Q8 S: s* D& S" g
l 整机和板级故障分析技术程序% Z* {9 F* W  y" `" X& |/ S

% Q9 ]3 N9 Z. J# u+ l+ R- kl 元器件级失效分析技术程序(工作过程和具体的方法手段介绍)
. x2 A# t/ d. i; `1 e- x
4 U( u& y$ ]& TC、失效信息收集的方法与具体工作内容9 ~& s& z( D; ^4 @; y5 l3 N# _  W1 S
4 M  B. E) m# p7 T
l 如何确定失效信息收集的关注点# C, Q9 _  u% C
! a7 M" y' n% Q5 d' k/ u1 D' \
l 样品信息需要包括的内容1 f4 T8 y' I5 F6 p/ H- Q

+ z" U, i" a5 z9 E1 [+ \1 u$ [l 失效现场外部信息的内容
0 v! x5 ]3 ?& O* _7 S7 t$ m1 ~
8 c( Y+ u, n; K4 z# l7 q  Zl 信息收集表格示例2 F, s7 x8 R. f$ l4 i  `( T4 `

- A% @( I) Q( o# rl 信息收集为后面技术分析工作贡献的示例: O# ?% v+ G6 u9 r8 i$ K2 F
D、外观检查: n1 t3 M. E1 J
0 [7 ^7 i8 W3 X3 A  i
l 外观检查应该关注的哪些方面
% b/ w, S: K# t2 ^
8 x4 v' T, T8 v( W5 r) a7 `0 _l 外观检查发现问题示例
- w) F3 B/ {+ |( W2 I+ F( E9 |5 g% E# p) M- C6 ^& H
l 外观检查的仪器设备工具
- w* Z8 i) q1 t2 Y; VE、电学测试5 p7 r( @0 k% c- t
$ c# ^; q6 |& z" P1 Y3 C: E" e
l 如何用电测验证失效模式和预判失效机理
. z+ H& }3 x( v9 _# ?& A9 e7 j& q0 V: e% K3 ?+ S7 l1 _
l 电测的具体方法
2 o; u4 \7 p$ J( S: Z' a. n) q. A" L
l 几种典型电测结果的机理解析
6 [: X$ [. v0 `% T
- f8 L' _4 N- s, @l 电测时复现间歇性失效现象的示例
- \& [( Q6 L- l* Z" L8 H  e8 }* h# O2 D
l 在电测中如何利用外部应力与失效机理的关联
" P: a; a* J' m; O
5 a) _4 X6 y4 {; ?1 |# vl 电测的常用仪器设备
% r1 J+ h" Y: D6 ?8 O; G0 uF、X-RAY0 h+ r4 j7 o. u5 d
, \3 y3 K; o9 |/ S( C+ f
l X-RAY的工作原理与设备技术指标$ C* b) v5 q9 |% V4 o9 C' d8 S% U

: n; c- M5 D4 \! o6 f  o" W! Y. X2 Ol 不同材料的不透明度比较
1 R. d) K9 Z! }6 M0 }; s
8 [! a& B/ k0 I3 P( fl X-RAY的用途2 z9 x1 c! n7 Z6 j- t! W( K
! ^! P7 j. P4 F; W: j* m
l X-RAY在失效分析中的示例
$ d4 u# f% d2 Z
/ q* M9 b0 D( D# U4 Nl X-RAY的优缺点- Y' `5 Q5 _7 l& j% F$ ^

: f" M$ H6 ?4 C$ \% rl X-RAY与C-SAM的比较
2 q$ ?1 T# u, ^2 D+ Q; c3 D3 q) c  D* l% X" j% j
G、C-SAM
, d, k+ s' v/ S2 R+ u! G  t% x1 ?" a' t, M/ ?$ A4 A# U! b% S
l C-SAM的工作原理与设备技术指标
! _) f/ B  M/ y) X* x
" U) t5 ]) F+ ql C-SAM的特点与用途
' u% z2 R0 K1 g) w0 N1 z7 V" O% q8 O8 I' ?* M3 N9 s0 R6 J3 v/ W6 D! n
l C-SAM、X-RAY在失效分析中联合应证的使用示例
" c4 k; o4 y" U
  H" C0 O- D; M' Ll C-SAM的优缺点
# W# e4 F5 e0 v: d' T- w0 H# w7 b4 }+ g% e+ x

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发表于 2020-3-9 16:18 | 只看该作者
电测验证失效模式和预判失效机理很重要
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