概念:电容:无论空间有多远,任何两个具有电压差的导体都存在一定量的电容。' B1 e$ T$ M7 m7 C6 K9 K
C:表示的是电容量,即存储的电荷与电压的关系的比值。当电压越大,可存储的电荷越多。- N0 V" H% @) G
影响电容量因素:两个导体距离、两个导体重叠的面积、两个导体重叠面积之间的介质。. a, m* Z' B, A- B6 w( |3 M
距离越近、重叠面积越大、介质介电常数越大,则电容越大。
: N1 F1 E! w1 G* ` \& p理解:减少互容的方式根本上为三条:1.拉开距离;2,减少空间上的重叠面积;3.选择低介电常数的板材;基本上PCB设计所采用的方式为1和2.
3 ]# b/ T4 x- ]/ j7 ~ 电容中的电流
' [6 O, m. {$ [. D5 \" b流经电容器的电流 I= dQ/dt=C*dV/dt: T- P. p0 D* F- v0 @
I:表示流过电容器的电流;$ V7 t( d) K$ V0 i1 N
d Q:表示电容器上电荷的变化量;0 ^# N, g- `2 M0 o
dT:表示电荷变化经历的时间;
( H: P+ u I! G& a; ]: r7 Z/ M- I% eDv:表示电压变化值;* O9 _5 O' T* D3 a
Dt:电压变化所经历的时间。
$ P. w& d4 O/ l8 p8 c! A+ B理解:其实电容除了漏电流的存在,本身并不流过电流。以上所说的电流,只不过为了计算方便而采用的数学值。从原理上考虑,因为异相相吸,在正电荷聚集的地方,肯定会有负电荷聚集。而负电荷的运动,造成了负极的电流流动。(负电荷的聚集造成了使流过电容的频谱呈-90相位)。从表面上看,就像电流流过电容器一样。但是理想电容器本身不消耗能量,所存储的能量,在外界适合的时候会向外送出,这时电容器负极也会将所聚集的负电荷释放。一收一放,就把能量传递过去了。
( B* `1 ~) P; y6 Z平行板电容
7 N& R6 f! U- l! ?, g& u8 D8 F, O公式:C=E0Er*A/H C= (ε_r ε_0 A)/H C:电容量; E0空气介电常数;Er 介质相对介电常数;A,平板面积。8 ]8 e# K. z$ d1 F8 P
H平板间距。
g- q; t( i9 T P4 ]. I$ W: r: @5 B由于板周围存在边缘场,实际电容要大于近似值,当平行板间距与板厚想当时,板周围的边缘场产生的电容量与平行板近似预测的电容量相当。
7 z) g: }8 a8 r4 r4 Y/ ~# Z理解:考虑边缘场,就要从电场和磁场角度来考虑,由于板并不是理论上的厚度为0的理想状态,所以板的边缘肯定也会发出磁力线向周围空间扩展,当四边的磁力线被底板接收到时,就相当于增加了底板所接收的电场磁场。变相的增加了聚集电荷的能力,所以电容增加了。
3 L* B1 S5 A) v1 H* D但这个值不好计算。
# c" O8 H6 c/ m( ^) B: ~&……*%……&***去耦电容的计算:……&%……&%¥¥%
4 X P! ^' ]7 X% S2 N" E' [) y- sδt=C*裕量*V^2/P t:表示电压下降量达到电源电压裕量的时间,单位秒;; q4 j M& N5 Z8 W! u
C表示去耦电容量,单位为F; 裕量:芯片的电源电压与最小供电电压的比值;
, l' _0 i1 [- fP表示芯片的平均功率;V表示电源电压。
% O z# ]# J3 H6 f7 u6 [# O& B( X理解:本公式可以计算去耦电容的值,对于经验用法上的10UF去耦电容,可以省略了。直接用这个来计算所想要的确切的值,留出足够的裕量,那么一个小功率的芯片完全可以采用5UF或1uF 来去耦,即可以降低成本又可以减少PCB板上的空间。: v0 u5 k7 K& P% k. R9 k
T 所表示的时间需要参考电源芯片,即电源芯片的反应时间。
) N9 U7 m5 b. o* _通过上面的公式,即可以设计选型电源芯片的型号。; p; o0 n; X( Y. |+ Z6 i- o) U
单位长度电容。% [& t! `: S$ F/ P, x+ v
单位长度电容是形容单位长度传输线的电容量。公式:C_L=C/L6 ^& Z; t3 b2 {: i; d
CL:单位长度电容 单位PF/in ;(单位可自己设定);
) A2 Y) S9 \2 T" KC:传输线与返回路径之间的电容量 ; L 传输线长度。
# }+ p, [% g) V# y. _4 ^
! W/ l$ f9 @ @. y* V同轴电缆计算公式:CL=(2πε_0 ε_r)/(ln(b/a)) a:内部信号导体的半径;b:外部返回导体的半径。
5 W. E! R+ A9 l0 n9 z微带线计算公式C_L=(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{(5.98*h)/(0.8*w+t)})≈(0.67(1.41+ε_(r )))/(ln{7.5(h/w)})" @# R4 o" F! y9 Y( { x' U
CL:单位长度电容,单位为PF/in; ε_(r ):表示绝缘材料的相对介电常数;0 A1 f4 M( f8 k1 I
h:表示介质厚度;单位为mil;w表示线宽单位为mil;/ K: q, g1 m* I9 [; [
t表示导体厚度单位为mil。
$ B4 z( x$ z4 b. A+ s带状线计算公式C_L=(1.4ε_(r ))/(ln{(1.9*b)/(0.8*w+t)})≈(1.4ε_(r )))/(ln{2.4(b/w)})
$ b9 ~- y2 L- P8 L" r1 \7 T5 Z! QB:表示介质厚度;其余同上。
2 r1 ~) w+ M: c+ [- S/ o经验公式:微带线线宽如果是介质厚度的两倍即(w=2h)介电常数为4,则单位长度电容Cl=2.7pf/in 。这时微带线近视50欧姆特性阻抗。
; u- s0 F5 s; `6 [7 s带状线:如果介质厚度是线宽的2倍,即b=2w;单位长度电容为3.8pf/in ;相当于特性阻抗50欧姆。7 O, o. d5 J. a' P
经验法则:50欧姆特性阻抗单位长度电容大致为3.5PF/IN 。+ C, Z+ H8 N9 G
理解:特性阻抗的经验算法,只是大概。如果要是要求高精度,最好是实际测量,其次是计算。因为公式也是近视的。特别是板材的介电常数,随着制造工艺而有所不同。理论上裕量足够的情况下可直接采用理论算法来估计。
6 g9 D s' ?/ d9 V. Z6 [理解:微带线经常因为刷阻焊,或者由于蚀刻。导致介电常数和介质厚度都不是常量。所以特性阻抗仅仅能预估计。如果想要精确的阻抗控制,那传输线必须走带状线,否则制造不出完美的50欧姆特性阻抗的微带线。, i! \0 s# U& a# X! ?* u
理解:电容量的值跟下平面接收电力线的多少有直接关系,与介电常数有直接关系。如果按照电磁场方向来看,即可完美理解电容量的变化。9 j6 x6 B2 Q0 W3 e. W
( X% C% v, Q4 K3 ?4 U小结:" q* ?4 m/ O z1 S @) G
1.电容是对两导体间存储电荷能力的度量。0 s! X( u0 H* u
2.电容量是对流动电流大小的度量。1 P- H; W. h( o* ~# g' X
3.导体间的电压发生变化时,便有电流流过电容器。
2 n" e& u1 U) G; p3 s, o( M5 T4.本章的公式都为近似值,若要求精度为10%到20%就不应使用近似。
; A" ^4 _( i. t5.一般来说,导体间距越大,电容量越小;导体间重叠的面积越大,电容量也越大。' b# K0 V: ]4 J# K, e6 r
6.介电常数是材料固有特性,它反映的是材料使电容量增加的程度。, n/ ?5 U5 p N; j% s+ b
7.电路板上的电源平面和地平面间是有电容存在的,但这个量非常小,两平面的作用是提供低电感回路,而不是提供去耦电容。1 |, t7 Y, X) }, w+ Z
8.若要求精度优于10%,就不应该使用IPC的带状线和微带线公式;4 u( y3 G+ g) X$ C6 Q0 _
9.用二维场求解器,可以用来计算均匀传输线结构的单位长度电容。其精度优于1%;& z& `, D# [0 {/ n1 y
10.若微带线的厚度增加,单位长度电容也将增加,但增加的幅度非常小。
1 T5 |* y- b! W6 K& p# ~11.当微带线的涂层厚度与线宽一致时,电容量将增加20%;" X( E& a$ C v" y7 M6 {! {
理解:IPC的公式精度为10%,在设计时能满足至少15%的精度。2 I: D4 g+ T! }+ ]( V
微带线涂层假设不够厚时,电容量增加的并不是很严重。
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