TA的每日心情 | 怒
2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点 _- p1 \- ^3 H2 ~) @* u; ]" O
器件失效会存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信
1 D! [/ I, D& I- ], N8 I) d% t& ~息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的物质基础。因此，开展失效9 y6 C/ v; G x. w8 s
分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
5 \3 T; I: X- C( _! W度。
: b8 @$ ]$ ~9 F5 n; M+ {失效预警及启动分析机制
3 Z: g) x9 T; B) Q, W6 k失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻! ? @$ |9 }3 i% [
底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失
1 {! |8 R# n3 f8 }$ U) E. |3 n效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而' {6 X ]: E# Q4 m C; G( U
实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。
R/ r/ r; t$ @8 h: @开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器0 l, O+ L, A+ {# y+ T1 u
件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低( Q; Q: L, L! z- H- l9 O9 `
预警门限，加大失效分析的覆盖面。: h1 c. G2 b1 n1 w b
生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过
% y2 @! q9 a6 b$ i9 L0 @应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相
* ?& J, X% Q1 v# a5 W6 l0 [对较高
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发表于 2021-10-21 14:50
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楼主
发表于 2021-10-22 09:28
