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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:) P' X  q( W; R: H- z* p6 W9 Q" m
7 `* ?% ^% b, \6 K5 I, j' U3 ^
第四章 失效分析
6 Z8 w6 \% ?9 s4.1 失效模式与失效机理
9 h) |4 T0 t1 G: U4.2 失效模型
3 w6 d7 C# D5 s4.3 失效分析的内容与程序
0 X# Z$ f  r: v- v5 l. b6 e5 v4 \4.4 微分析的物理基础
; C$ e  |! Y. n( Y' I: ?  G4 }
2 t  f" }7 c/ D# O7 U7 N补充材料:失效分析图片8 P$ M8 p; X* p6 l5 C

( \1 ]; |4 h! }/ C本次课要点:
1 h3 f! x! ^* j8 ^1、失效模式与失效机理定义区别
6 U/ L( \" l# x6 M2、了解几种失效模型;: h9 D4 v* m8 Q8 a/ s* X
3、掌握失效分析基本原则程序;
6 E" k5 N9 H5 }7 ~4、了解微分析技术的物理基础。$ e! c. h& x$ r$ d

! O( w( {9 q8 ?- q! s附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1) : u2 H" P* T& V* B* T+ S1 @: Z

0 U6 A+ W+ c" b& g& {

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断
6 I( f* X2 J4 v' [6 O这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。
8 O8 v3 B, x% c7 _& h步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。. t7 D3 f: o! A3 f2 B
      (应力不增加额外的失效模式)
( }/ n6 ?6 G0 j0 i$ t
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    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
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    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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