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Si衬底LED芯片的封装与制造

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  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-3-9 13:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     引言$ g+ X- a0 _5 Y( F1 ~* c; k5 ~

    7 j% f  T% Q( X6 U& h" x* T  1993年世界上只GaN基蓝色LED问世以来,LED制造技术的发展令人瞩目。目前国际上商品化的GaN基LED均是在蓝宝石衬底或SiC衬底上制造的。但蓝宝石由于硬度高、导电性和导热性差等原因,对后期器件加工和应用带来很多不便,SiC同样存在硬度高且成本昂贵的不足之处,而价格相对便宜的si衬底由于有着优良的导热导电性能和成熟的器件加工工艺等优势,因此Si衬底GaN基LED制造技术受到业界的普遍关注。8 i9 O, c( {0 x' a
    6 |9 O  L3 L% s$ _# C4 }
      目前日本日亚公司垄断了蓝宝石衬底上GaN基LED技术,美国CREE公司垄断了SiC衬底上GaN基LED技术。因此,研发其他衬底上的GaN基LED生产技术成为国际上的一个热点。
    3 R, y) j* k- m1 F0 c
    + T6 S1 ?7 G' {7 g  E  1 Si衬底LED芯片制造
    ) Z. m7 w* W# V% k+ x" s  i$ L) X6 f
    ! p! C) [3 }9 x  1.1 技术路线
    0 N$ W8 n+ k% I9 a2 j6 p3 {, i: F+ P: M+ f( t
      在si衬底上生长GaN,制作LED蓝光芯片。, W4 t3 l: r) [9 C, H5 J# ^

    , y/ Q! h4 D8 l4 ~  e  工艺流程:在si衬底上生长AlN缓冲层→生长n型GaN→生长InGaN多量子阱发光层→生长P型AlGaN层→生长p型GaN层→键合带Ag反光层并形成p型欧姆接触电极→剥离衬底并去除缓冲层→制作n型掺si层的欧姆接触电极→合金→钝化→划片→测试→包装。  H7 c* e6 z: V& M. q
    ' a0 N2 F6 A. _/ i' ^7 L6 u( X- j
      1.2 主要制造工艺
    , _* H2 W- o8 F. i9 |) O7 t5 r; q1 \2 K' U& L
      从结构图中看出,si衬底芯片为倒装薄膜结构,从下至上依次为背面Au电极、si基板、粘接金属、金属反射镜(P欧姆电极)、GaN外延层、粗化表面和Au电极。这种结构芯片电流垂直分布,衬底热导率高,可靠性高;发光层背面为金属反射镜,表面有粗化结构,取光效率高。
    : ~- F, b7 I0 v  p
    8 _' |9 ]9 E4 a5 w  1.3 关键技术及创新性
    , K& K( V& ~# Y' x5 k3 l
      |3 `7 @  A) Z/ X6 m  @' g# v  用Si作GaN发光二极管衬底,虽然使LED的制造成本大大降低,也解决了垄断问题,然而与蓝宝石和SiC相比,在Si衬底上生长GaN更为困难,因为这两者之间的热失配和晶格失配更大,si与GaN的热膨胀系数差别也将导致GaN膜出现龟裂,晶格常数差会在GaN外延层中造成高的位错密度;另外si衬底LED还可能因为si与GaN之问有0.5 v的异质势垒而使开启电压升高以及晶体完整性差造成P型掺杂效率低,导致串联电阻增大,还有si吸收可见光会降低LED的外量子效率。5 ?+ P$ P" |1 I3 l; {, ~

    ; \1 e# r+ }/ R) F  f' S% V; s  因此,针对上述问题,深入研究和采用了发光层位错密度控制技术、化学剥离衬底转移技术、高可靠性高反光特性的P型GaN欧姆电极制备技术及键合技术、高出光效率的外延材料表面粗化技术、衬底图形化技术、优化的垂直结构芯片设计技术,在大量的试验和探索中,解决了许多技术难题,终成功制备出尺寸1 mln×1 mm,350 mA下光输出功率大于380 mW、发光波长451 nm、工作电压3.2 V的蓝色发光芯片,完成课题规定的指标。采用的关键技术及技术创新性有以下几个方面。
    2 c# Q7 S: m! W7 a4 X
      z1 r' Z! D8 X! T  (1)采用多种在线控制技术,降低了外延材料中的刃位错和螺位错,改善了si与CaN两者之间的热失配和晶格失配,解决了GaN单晶膜的龟裂问题,获得了厚度大于4 m的无裂纹GaN外延膜。
    " g1 ~7 U5 e( B% O: h% K7 i6 z" n$ l- o$ p+ ^7 Q8 X$ S: D" |
      (2)通过引入A1N,A1GaN多层缓冲层,大大缓解了si衬底上外延GaN材料的应力,提高了晶体质量,从而提高了发光效率。1 {2 O: c0 r( @
    + i* n# o7 \: b! U- j
      (3)通过优化设计n.GaN层中Si浓度结构及量子阱/垒之间的界面生长条件,减小了芯片的反向漏电流并提高了芯片的抗静电性能。
    * t% Z7 S# s2 \7 C1 x" \9 d6 _
    0 N+ s. v+ U1 V+ R# d  (4)通过调节P型层镁浓度结构,降低了器件的工作电压;通过优化P型GaN的厚度,改善了芯片的取光效率。& f% O9 f6 D  M/ O
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      (5)通过优化外延层结构及掺杂分布,减小串联电阻,降低工作电压,减少热产生率,提升了LED的工作效率并改善器件的可靠性。
    ) f5 H) d5 @8 t9 ~* n. c7 _7 H$ |6 }1 S; l
      (6)采用多层金属结构,同时兼顾欧姆接触、反光特性、粘接特性和可靠性,优化焊接技术,解决了银反射镜与p-GaN粘附不牢且接触电阻大的问题。
    1 k/ `! y/ _# A8 O7 E" ?$ I' B1 p# G7 g& a
      (7)优选了多种焊接金属,优化焊接条件,成功获得了GaN薄膜和导电Si基板之间的牢固结合,解决了该过程中产生的裂纹问题。5 V: [) V. P: @8 I( v* Q8 |. _
    ( ^6 d( k" {) ~. Y
      (8)通过湿法和干法相结合的表面粗化,减少了内部全反射和波导效应引起的光损失,提高LED的外量子效率,使器件获得了较高的出光效率。
      x1 z- E5 V: c
    ; G( N% N; J! E1 O' s9 d' ?  x! w3 j  (9)解决了GaN表面粗化深度不够且粗化不均匀的问题,解决了粗化表面清洗不干净的难题并优化了N电极的金属结构,在粗化的N极性n.GaN表面获得了低阻且稳定的欧姆接触。
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      2 Si衬底LED封装技术6 ]# t, p. k/ ~+ m. B6 F
    ; ^- K6 q/ L8 b+ i4 F* W
      2.1 技术路线
    ' M$ y7 p; Q7 D. [2 R8 Y' r8 s: P9 K6 O+ t% \
      采用蓝光LED激发YAG/硅酸盐/氮氧化物多基色体系荧光粉,发射黄、绿、红光,合成白光的技术路线。
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      工艺流程:在金属支架/陶瓷支架上装配蓝光LED芯片(导电胶粘结工艺)一键合(金丝球焊工艺)一荧光胶涂覆(自动化图形点胶/自动喷射工艺)一si胶封装(模具灌胶工艺)一切筋一测试一包装。
    * y! l1 J- s3 b, m
    ; r% t- [% H  ]* L2 y  2.2 主要封装工艺
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      Si衬底的功率型GaN基LED封装采用仿流明的支架封装形式,其外形有朗柏型、矩形和双翼型。其制作过程为:使用导热系数较高的194合金金属支架,先将LED芯片粘接在金属支架的反光杯底部,再通过键合工艺将金属引线连接LED芯片与金属支架电极,完成电气连接,用有机封装材料(如si胶)覆盖芯片和电极引线,形成封装保护和光学通道。这种封装对于取光效率、散热性能、加大工作电流密度的设计都是的。其主要特点包括:热阻低(小于10~c/w),可靠性高,封装内部填充稳定的柔性胶凝体,在一40~120 oC范围,不会因温度骤变产生的内应力,使金丝与支架断开,并防止有机封装材料变黄,引线框架也不会因氧化而沾污;优化的封装结构设计使光学效率、外量子效率性能优异
    9 _. J: Z; ?+ ~/ T
    : Y$ a" m2 h& J# ~) g# h2 R& T  2.3 关键技术及创新性
    4 k+ r! [4 Q- P
    * K( q0 D! B! }+ Z, l# }  功率型LED的热特性直接影响到LED的工作温度、发光效率、发光波长、使用寿命等,现有的si衬底的功率型GaN基LED芯片设计采用了垂直结构来提高芯片的取光效率,改善了芯片的热特性,同时通过增大芯片面积,加大工作电流来提高器件的光电转换效率,从而获得较高的光通量,也因此给功率型LED的封装设计、制造技术带来新的课题。功率LED封装重点是采用有效的散热与不劣化的封装材料解决光衰问题。为达到封装技术要求,在大量的试验和探索中,分析解决相关技术问题,采用的关键技术和创新性有以下几点。7 Z! U! p7 K2 z0 K- J$ H

    4 m  j0 n% v5 f3 }- c5 R  (1)通过设计新型陶瓷封装结构,减少了全反射,使器件获得高取光效率和合适的光学空间分布。
    ( X" b9 B, K0 h7 G/ _# p# c! X) M* V0 j7 o( w6 E6 j
      (2)采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,以适合薄膜芯片的封装要求。9 V  t, q9 C. n3 F: K% h  l, G
    3 }; O) Z1 x& g; q6 ]
      (3)采用高导热系数的金属支架,选用导热导电胶粘结芯片,获得低热阻的良好散热通道,使产品光衰≤5% (1 ooo h)。
    . Y; y# U$ ^  O+ O6 C3 X) F/ O7 F2 O6 g
      (4)采用高效、高精度的荧光胶配比及喷涂工艺,保证了产品光色参数可控和一致性。
    : h' g  G+ N  \8 z2 [# s8 `2 m1 g4 J3 l
      (5)多层复合封装,降低了封装应力,实施SSB键合工艺和多段固化制程,提高了产品的可靠性。
    / p: g' ~4 ?" S. e/ i* a% M" G/ Z" C3 g" |) n
      (6)装配保护二极管,使产品ESD静电防护提高到8 000 V。* @; Q  \% `& U

    . u+ P9 ^- U  z6 H+ S, p3 L  3 产品测试结果5 w9 A$ _. F' b; i
    9 |7 i- c5 M- Q/ b* q. \
      3.1 Sl衬底LED芯片) s3 f" [; n+ P
    * z( \$ m9 ]- Y5 K
      通过优化si衬底表面的处理和缓冲层结构,成功生长出可用于大功率芯片的外延材料。采用Pt电极作为反射镜,成功实现大功率芯片的薄膜转移。采用银作为反射镜,大大提高了反射效率,通过改进反射镜的设计并引入粗化技术,提高了光输出功率。改进了A异反射镜蒸镀前P型GaN表面的清洗工艺和晶片焊接工艺,改善了银反射镜的欧姆接触,量子阱前引入缓冲结构,提高了芯片发光效率,优化量子阱/垒界面生长工艺,发光效率进一步提高,通过改进焊接技术,减少了衬底转移过程中芯片裂纹问题,芯片制备的良率大幅度提高,且可靠性获得改善。通过上述多项技术的应用和改进,成功制备出尺寸1 mmx 1 mm,350 n 下光输出功率大于380 mW的蓝色发光芯片,发光波长451 nnl,工作电压3.2 V,完成课题规定的指标。$ q& T5 ~9 ~3 v8 g
    7 Q( n- A% C/ z; L; [+ {
      3.2 Si衬底LED封装
    & T9 c1 E( W. D/ M" W" Q2 a5 r; x% x7 b
      根据LED的光学结构及芯片、封装材料的性能,建立了光学设计模型和软件仿真手段,优化了封装的光学结构设计。通过封装工艺技术改进,减少了光的全反射,提高了产品的取光效率。改进导电胶的点胶工艺方式,并对装片设备工装结构与精度进行了改进,采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,降低了器件热阻,提高了产品散热性能。
    5 Y5 Q3 u. g: g" r
    ' c) u6 i. p" G( I# s4 V% c! U  采用等离子清洗工艺,改善了LED封装界面结合及可靠性。针对照明应用对光源的光色特性的不同要求,研究暖白、日光白、冷白光LED颜色的影响因素:芯片参数、荧光粉性能、配方、用量,并通过改进荧光胶涂覆工艺,提高了功率LED光色参数的控制能力,生产出与照明色域规范对档的产品。蓝光和白光LED封装测试结果见表2。表中:Φ为光通量;K为光效;P为光功率;R为热阻; μ为光衰;I为饱和电流。0 T5 N/ _: f7 v( l+ }$ I

    ( `+ S. _6 j1 p' O- W& G& o, {3 l- _  R  4 结语# D5 r2 O" o: Y$ q/ u

    . f% @9 V$ j8 n9 {5 s  si衬底的CaN基LED制造技术是国际上第三条LED制造技术路线,是LED三大原创技术之一,与前两条技术路线相比,具有四大优势:
      |' k7 z0 p" J0 ]
    8 ^# B$ ~! t! e! M! a0 @  E  ,具有原创技术产权,产品可销往国际市场,不受国际限制。% _2 Z/ s' }* f

    # Z. f" d0 O# `  V& P4 _- f  第二,具有优良的性能,产品抗静电性能好,寿命长,可承受的电流密度高。( S$ U. N- Q8 s2 K2 g- Y% B7 p

    6 Y# I$ a1 C. @( M; q  第三,器件封装工艺简单,芯片为上下电极,单引线垂直结构,在器件封装时只需单电极引线,简化了封装工艺,节约了封装成本。
    6 C0 k+ i1 Z. M8 Q, f6 S" b) Q* `1 p" k( l
      第四,由于Si衬底比前两种技术路线使用的蓝宝石和SiC价格便宜得多,而且将来生产效率更高,因此成本低廉。
    , |; P8 s, P9 F! l' Z
    * P3 ?0 C: M# U3 i" {) Z7 }) n  经过三年的科技攻关,课题申请发明12项、实用新型7项,该技术成功突破了美国、日本多年在半导体发光芯片(LED)方面的技术壁垒,打破了目前日本日亚公司垄断蓝宝石衬底和美国CREE公司垄断SiC衬底半导体照明技术的局面,形成了蓝宝石、SiC、Si衬底半导体照明技术方案三足鼎立的局面。因此采用si衬底GaN的LED产品的推出,对于促进我国拥有知识产权的半导体LED照明产业的发展有着重大意义。
    # d7 \, K$ R& O* V: P0 E5 {7 |3 p/ F: e
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    2#
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