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在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?

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1#
发表于 2020-4-9 10:23 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
你好,4 m6 o( ^( J$ I6 ~: l) L
我目前正在研究一个项目,我需要在两个替代设计选项之间做出决定,我必须考虑可靠性分析。(我不需要担心我的设计中的软错误效应)8 L8 e! p3 n! k0 b5 J
根据我的研究,我发现FIT值是FPGA可靠性的基本标准。
& s# P" v' D* H# t在第一个设计中,我计划使用XC6SLX25T(Spartan6-0.045um-FIT:11)FPGA,另一个使用XC6VLX550T(Virtex6-0.040um-FIT:8)。
) d5 b6 K3 i0 S! N  ]当我看到“UG116 xilinx器件可靠性报告”时,我看到所有FPGA的FIT值都归类于工艺技术中,而Virtex6的FIT值明显低于Spartan6(约为34%)。7 R; U/ x1 ?: U
我好几天都在搜索这个话题,但我找不到确切的答案。
1 K8 l, l$ n3 J1 D3 L+ [4 p为什么FIT率被归类为工艺技术?我观察到工艺技术和FIT值之间没有直接的相关性。
3 G& b+ ^$ X3 `$ A1 \' {' l$ `4 s为什么Virtex6与Spartan6相比具有更小的FIT值?3 a' ?! R( T  Y3 K6 j5 {6 `  X' @
为什么在相同的工艺技术FPGA之间的芯片尺寸或栅极数量没有区别; `: E1 F7 U% h, J: z9 D& x
在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?
; d' `% n. O' M" W3 E; K" `/ D1 f

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-9 11:30 | 只看该作者
由于已发布的硬故障率基于实际数据(故障),因此它就是这样。) n4 N. U/ y1 ^* m. Q0 Q3 f3 T
在特定技术节点上创建设备所需的一切复杂性几乎是无穷无尽的。% B; O2 u( I; p; A! X4 @
因此,一个部件的一个故障容易改变数量。- _# J/ Q, x' g( g$ X
此外,此数据的置信区间为60%,这意味着真实或实际的故障率很容易变为表中的一半或两倍。
" M9 u9 `+ I% X- M# q4 l这不应该是选择哪个家庭的考虑因素(它们都是如此之低以至于完全等同)。+ F7 M" [5 ]: L2 [: A+ T1 R
即使您正在构建数百万个单元,也几乎不可能看到您选择的硬故障率有任何差异。
8 h* y: {) D4 ?; R5 T. C4 e6 ~当然,你如何使用该部件将完全控制你的现场失败率(例如,炎热的环境总是导致比温带环境更多的失败)。
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