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; I% C$ u8 e: [ \* y Accelerate Aging ——加速老化,使用人工的方法,加速正常的老化过程。
1 q1 K1 ~+ B; f! D Acceptance Quality Level(AQL) —— 一批产品中最大可以接受的缺陷数目,通常用于抽样计划。 * `; H x$ e; P/ M2 z4 F3 c
Acceptance Test ——用来测定产品可以接受的试验,由客户与供应商之间决定。
7 \9 l# H" q7 @" d" }* I; U Access Hole ——在多层线路板连续层上的一系列孔,这些孔的中心在同一个位置,而且通到线路板的一个表面。
# x9 v' a' C( m0 L Annular Ring ——是指保围孔周围的导体部分。 ) B/ O/ C* z8 ~4 y9 {6 a$ Z; c6 e5 h
Artwork ——用于生产 “ArtworkMaster”“production Master”,有精确比例的菲林。
7 P" N; l8 v) J$ D o Artwork Master ——通常是有精确比例的菲林,其按1:1的图案用于生产 “Production Master”。
' N7 G& S. T# r$ l3 x4 g B
6 \9 A6 W& ^) c. j Back Light ——背光法,是一种检查通孔铜壁完好与否得放大目检方法,其做法是将孔壁外的基材自某一方向上小心的予以磨薄,再利用树脂半透明的原理,从背后射入光线。假如化学铜孔壁品质完好而无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗,一旦铜壁有破洞时,则必有光点出现而被观察到,并可放大摄影存证,称为背光法,但只能看到半个孔。
4 D# k6 l/ M2 z4 B9 v' l1 z6 C Base Material ——绝缘材料,线路在上面形成。(可以是刚性或柔性,或两者综合。它可以是不导电的或绝缘的金属板。)。
y: M( z4 g! o Base Material thickness ——不包括铜箔层或镀层的基材的厚度。
/ I9 o7 N x, v2 C5 y Bland Via ——导通孔仅延伸到线路板的一个表面。
* c# d! Q1 ^. U- S( @. t3 {+ D Blister ——离层的一种形式,它是在基材的两层之间或基材与铜箔之间或保护层之间局部的隆起。 / V, ^3 p N+ v7 j& I
Board thickness 是——指包括基材和所有在上面形成导电层在内的总厚度。 , x) R/ ` Y8 A+ n3 `
Bonding Layer ——结合层,指多层板之胶片层 。 |