TA的每日心情 | 难过
2019-11-19 16:03 |
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1、失效分析全过程案例
2 o# \# p% C0 d z& W+ s8 x$ `# {* V
A、失效信息收集与分析
$ P2 N6 F! b1 Z. m* {% J6 R0 m, W3 i, b& K
B、思路分析
/ O* X" O1 ]( k: b# ^1 l) Z2 g$ G7 ^
5 [+ M4 {" X% a$ `* N- FC、过程方法
1 R; H Q/ W/ z
4 y" O( S! ]' V- k. S% vD、逻辑推导
; F5 ?# N Y# T/ y2 O& ~8 C" [5 ^- q/ D; _- }3 _
E、试验手段
4 J, ^3 E) f2 [) o$ B, B: m
/ i* w0 I) G. ?: \9 j% V( kF、综合分析- F& D( [' k1 A. I& q
# }$ j2 m9 U1 e; b, F* e: B
G、结论与建议6 J4 `+ U2 M' L) P: j$ a' N) B
0 Y9 D; O" @8 B8 T) ]
2、静电放电失效机理讲解与案例分析
6 g! w( v9 m! L8 ^
' X3 Z( A1 ~2 P7 b. \) dA、静电损伤的原理 9 G, n5 W- `$ g8 W2 T4 e
; G: a4 s; G0 T( v
B、静电损伤的三种模型讲解$ @+ l& P- c! L, }3 V
( N& a$ V: o% _# h9 ]/ j, P+ w
C、静电损伤的途径 , B. F7 m3 K) Q' p/ b \1 `' @ T
$ k+ v6 P1 V9 C# {: v
D、静电放电的失效模式
! z" {0 c+ J9 i( f. C, x9 y6 t
. @* K' O( X7 }" g! aE、静电放电的失效机理
* e: N! J0 T* d
* u( ]8 {( E- c3 d1 [ x P" t+ `! jF、静电损害的特点0 \- F) h$ b+ v7 o# E8 P( q
9 V( S" L! E" t! [2 }
G、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）
0 N/ i1 Q$ Y7 V, d2 {# p( f
; D* Z# x5 B+ A3、闩锁失效机理讲解与案例分析$ N3 s! L4 L; _2 e/ n8 R
5 n- O7 b) x4 X. d1 G* J6 y
A、闩锁损坏器件的原理
" |; W9 O6 j) ]7 X! c! o. S
8 Q: r9 I4 C0 KB、闩锁损坏器件的特征1 Q7 e" R' I/ C* Z$ S4 n
1 R' L" l( `* C* iC、闩锁损坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）
% n4 s. ^; P! i9 W4 t# X1 F- X' |$ d; A: y2 g
D、闩锁与端口短路的比较
& G( I/ ^; w: l( J# W, b, o. C9 j- K5 Z- F. @# d
E、CMOS电路引起闩锁的外部条件
& Z$ W: w0 ~0 f4 p# ~- A2 y+ v; j+ w( W" Y9 v% ~
F、静电与闩锁的保护设计3 i/ ]# Z6 l$ x: W
% n( n" i8 {5 D+ W
4、过电失效类失效机理讲解与案例分析
" U5 I# Y3 r- r/ {3 T5 Y) d% X7 F* r$ p/ M. {/ |
A、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）
) I4 y: l) V6 ~" B+ y: X
% {+ U8 F3 v$ KB、对应不同类型的过电的失效案例
, n p2 E. O9 l' C' U' |$ q
/ [, `* J$ s& T5 B1 ]- v7 A" o5、机械应力类失效机理讲解与案例分析
+ _( s1 j ^ f1 n
, F: D" B' o! g) o4 @A、机械应力常见的损伤类型5 a w0 A% x6 ?- D: Z" n' m
( t# H0 J0 w9 y7 M6、热变应力类失效机理讲解与案例分析; W6 L, x0 [- w1 X
# z" r: R1 }6 v$ y' T9 x. I1 R
A、热变应力损伤的类型和特征8 n$ p( ~% L' G: R
. X( A+ Z. |" z7 W$ G
7、结构缺陷类失效机理讲解与案例分析
- F/ k) Z* c! ]
3 W# ` y: i* @1 eA、热结构缺陷的类型和特征
+ z; b: o1 P! C- M6 Z
4 s) K$ d1 p8 W+ EB、发现缺陷的技术手段
$ j/ v3 q4 |" R
- ]' O# i" m+ Z8、材料缺陷类失效机理讲解与案例分析
8 r* h3 k8 R% v- R' V! N* C" a0 v. a' y2 A0 K% B
A、绕线材料缺陷 , ^) ]# @4 U! ?+ u9 i
# w0 ^* U0 P* D$ l' K0 hB、钝化材料缺陷 q# |# a3 c0 c2 H
; O; `: _3 q0 |2 ~C、引线材料缺陷
8 N+ M$ i3 k, n1 y; T4 o' B5 U3 k1 _& c! y
D、簧片材料缺陷
: _) \' k2 y$ A. l: |) Y' A# E- _" Y; T7 F* f$ f
9、工艺缺陷类失效机理讲解与案例分析
; \4 m0 L/ p, }* W% ?% _2 G3 w/ h% r6 _" l
A、工艺缺陷的类型和主要特征，发现手段" z0 C' Y, P8 \2 ?: p$ k
$ G5 G6 ^6 t7 r% K& q: u# @10、应用设计缺陷类失效机理讲解与案例分析/ w# D3 D, \; J6 x
- Z2 U* c1 j7 W0 W8 Y# i5 y11、污染腐蚀类失效机理讲解与案例分析0 k; D! q& N0 C' {2 v
5 z$ A& I& r2 a; j( H' `6 ^A、污染的来源与类型，腐蚀的主要原理' k5 Q* ?, t+ h0 ]# M9 t( @ s
: Y/ x" l+ Z2 g0 V* C12、元器件固有机理类失效机理讲解与案例分析
2 E+ s) Q. \7 N/ s1 x
. N; I, `! E# G4 j. RA、不同类型的元器件固有失效机理的归纳) P5 Q3 r; {* w! Z% V
0 t S: g/ [4 a/ k
13、面目全非的样品的分析 _- c; O" h! v: V& ? ?
& K# ?! Y/ t6 e. p
1 u7 t b8 N; q( Z- Z) g( T/ @ |* C0 E& c6 R. P0 |0 ?
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发表于 2020-3-9 15:06
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