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本帖最后由 pulbieup 于 2020-2-26 14:27 编辑 6 c: u6 D/ |7 ]+ l
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一． 概述
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% H& f, D2 k, `0 m+ R# q3 f
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$ J9 \6 s' c; C6 G S- {2 y+ c& j0 w: ~% \5 N" ?7 D
二． 结论
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芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。7 i: b+ Y5 d4 W0 \; w
9 e1 ]; G& ?% R. y4 t- C1 M! j, g4 l
9 l% F+ f n; }, M7 v: u; _2 [9 M ^- x T; L
三． 分析过程1 F5 J I$ l0 G" O
! S/ E- }2 c" U9 v4 W5 c3.1 失效确认
/ r& a6 Q! M5 [- }+ ^' a
- m) G+ ^( G/ b# c% x' c把器件换到正常的PLL板上测试发现PLL无法锁定，ADF4360输出频率不对，且输出相噪很差的信号。
. |! S) Q6 @* A$ o; d
' I( j) E; m6 G+ d7 F
7 Y8 u2 b6 A2 \. b, s# F( X
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把失效器件更换到评估板上测试，改变评估板软件的输出频率，ADF4360-7输出频率（423MHz）不变，且输出相噪很差的信号。测试ADF4360-7 Vturn电压只有几十mV。- |, U' N8 T2 T! Q
( O: I' P' U* R. H" c' E) M3 c) q
4 X, M' {0 d' P+ v' J5 O9 X. Z. L5 f9 f! J. b
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" N. g; J5 F3 @; k- b( b0 z) o
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4 \1 \+ m2 L. w* `$ A5 y/ I! {) m- i8 ~! p$ m- G1 S0 j# ?/ Q: V
更改配置软件的Core Power Current(改小)电流及RF Output power（改小）能使输出恢复正常。. b) |% x: o2 q& X
8 W2 H) J9 L+ l9 [3 u, O# V# V$ h
3.2外观检查' b2 v) _6 c3 {9 q5 E
. C, }+ f: b6 Y( O g+ W5 ~) s! {1）外观检查，没有发现外观损坏情况。
3 s2 P& O7 o4 f( o4 P4 ^3 `( q( C l! {+ w% f9 g- s. c$ |6 a
5 L, ~4 p* [8 }
, n# T2 O5 k* i$ Q1 D
2 [- ~6 z: T, ~ a) e0 N- j 3.3 X-Ray检查
% ^/ ^# `# v2 J* c0 {
6 v; E) K4 n) }1）X-RAY检查无异常。
% u( K' `6 Z/ w6 |% Y& }/ I- E# D" Z5 O
: W! k. z( |4 c6 C& ]0 Q$ x ' e/ c$ o3 U& p' k4 V# G+ g% Y6 W
& t' Q1 h3 U/ @" p+ e! ]
3.4 管脚电阻测试
2 }) B) @# c& E
- n/ ]- s' l% G6 @, f4 J管脚电阻测试正常芯片与失效芯片对比无异常。2 J6 s* @3 O+ J* c) ]
3 r. [& A/ ~5 E! j8 O8 e# U$ M$ |& [4 O
% ?7 E0 c" B+ [+ v7 L
{( x" C. b- j3 D) i
! u: J4 o* n) E1 g) ^3.5 管脚IV特性曲线测试
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/ Q. d' F$ i, | Y管脚IV特性曲线测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
+ f) ?6 n1 C+ ^, v K! J5 a, `/ e: {8 M G4 d. |
3.6 DECAP
/ B. n8 y! ^$ I: B
/ s8 x! b$ ]$ p1 F3 I5 P/ Q开封1 PCS失效样品与正常样品，开封观察芯片内部结构复杂，且表面覆盖了一层金属层，无法观察到异常
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2 c. b* s! S# Z( T$ o/ V
/ u/ k" o! Y' ~7 J; \$ q" m) G! y4 B6 ^* ]6 n8 C/ r
0 L2 }! N/ j: c. p1 r' u
6 g( Z$ L2 G; N! ^* }
# i' H9 I7 D: ~5 U% ?2 `
( A" e& Z y6 V7 {, b( @- E3.7后续补充
" v/ J4 E1 ?+ p) C2 B7 U
# q& y2 `$ }. a: E( w3 d后续ADI的亚洲区技术支持工程师专门来现场确认，现场更改了电路板及评估板的一些参数，包括更改环路滤波的参数，也没办法解决出现的杂散问题，带回了2PCS失效样品回去分析。) D! |2 G2 H! F `3 C3 Y4 ]
& `/ i" h% W+ I. L4 I$ k/ ]带回去的2 PCS失效样品他们确认是没有问题的，他们的工程师建议我们在没有用的RFoutB上加上一个50Ω的负载再测试看一下。5 S" { v' q2 W8 U9 ?0 d) T
; @4 y: u3 C& e+ I' }( P( A排查我们内部的评估板及PLL板发现我司的评估板及PLL板RFoutB均悬空，对Vvco加51Ω电阻后失效的芯片均恢复正常。7 E" I7 K2 q4 G/ r0 G
4 F7 Q3 K: e1 d, E9 d9 r
$ ]* K& ~" d8 b5 q7 I# s) w: w9 c" y0 l5 Y/ x# y3 C
查阅芯片手册发现芯片的RFoutA及RFoutB输出均为差分输出。
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6 T8 `/ ~- x% w: n8 O# }
7 B3 J( Z% p2 U0 l9 ^8 h" J
RFoutB悬空，导致恒流源电流全部从RFoutA输出导致的三极管电流过大，产生杂散及失锁。从改小Core Power Current能使芯片输出恢复正常也能从侧面说明此问题。且芯片手册上也有要求没用的输出管脚必须要做匹配处理，具体请见芯片手册。
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四． 结论- z7 S8 o/ h* d' }
+ j7 y1 y; x! |- `5 a6 C芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。% @9 ~2 \% {0 l8 Z
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发表于 2020-2-26 14:25
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