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本帖最后由 李秀芳 于 2012-12-4 14:40 编辑 n) u$ h2 r# |+ a3 Z: f
* w* ?8 e* r7 h0 Z" T
一、确保PCB网表与原理图描述的网表一致
. J0 }, t) Q& n+ ?4 x% F: d! i. Y) F0 J4 v$ L
二、布局大致完成后需检查
, x( u( t U$ |2 l, g, J$ T" T
4 H) a; B$ W$ n. U) ?外形尺寸
7 d; t Y' q% p8 B: }0 j2 l P确认外形图是最新的
2 ?: t$ }- l$ `3 F' K0 w. w% Q确认外形图已考虑了禁止布线区、传送边、挡条边、拼板等问题 3 u3 f4 D2 L2 d( {
确认PCB 模板是最新的 ; ?* m+ v4 m; ~& q6 s. n4 _
比较外形图,确认PCB 所标注尺寸及公差无误, 金属化孔和非金属化孔定义准确
9 C3 j. N! Y. g( y' v确认外形图上的禁止布线区已在PCB 上体现
) j3 U) D/ S1 W布局 6 Q& Z- W' m: |* i' J
数字电路和模拟电路是否已分开,信号流是否合理
2 e# @6 F; {6 h f时钟器件布局是否合理 ! s! R1 z9 p6 ~) ]8 Z: h
高速信号器件布局是否合理
% i1 E9 |2 K/ Q" M& z& \端接器件是否已合理放置(串阻应放在信号的驱动端,其他端接方式的应放在信号的接收端)
1 D, `0 R: p) e; SIC 器件的去耦电容数量及位置是否合理
7 y7 e# E0 J8 m0 A保护器件(如TVS、PTC)的布局及相对位置是否合理
/ b7 U$ [1 {3 a) H9 a6 f: J是否按照设计指南或参考成功经验放置可能影响EMC 实验的器件。如:面板的复
8 c0 t/ Q$ c. i! A* _; i位电路要稍靠近复位按钮 9 Y( d% ^9 X) Y- X( [4 `' h# `# `
较重的元器件,应该放置在靠近PCB 支撑点或支撑边的地方,以减少PCB 的翘曲 , _1 U& ~- Z; Y6 f+ c+ W `
对热敏感的元件(含液态介质电容、晶振)尽量远离大功率的元器件、散热器等/ [- |0 {) t3 D' W* [
热源 * {1 X/ |/ D6 @. ^$ T3 g x* `
器件高度是否符合外形图对器件高度的要求
4 C- ?6 J; l( B3 V4 x% B- I& b压接插座周围5mm 范围内,正面不允许有高度超过压接插座高度的元件,背面不9 W- c1 i5 `# Y3 ]& I K; y j2 X
允许有元件或焊点
* f" }6 D3 @* u( |9 k& c v在PCB 上轴向插装较高的元件,应该考虑卧式安装。留出卧放空间。并且考虑固5 m. M: B% [+ H D: M" e; k2 P/ h
定方式,如晶振的固定焊盘 # f4 z( o; r4 Q- [6 h P, _* y8 }! n5 R5 B
金属壳体的元器件,特别注意不要与其它元器件或印制导线相碰,要留有足够的, d7 |' v% [7 z' v1 `8 x
空间位置
& v( `' F0 }+ u$ T# y+ v母板与子板,单板与背板,确认信号对应,位置对应,连接器方向及丝印标识正确
1 |1 ~" ~+ u9 A6 W打开TOP 和BOTTOM 层的place-bound, 查看重叠引起的DRC 是否允许
( I* F7 X7 c- A* K6 S波峰焊面,允许布设的SMD 种类为:0603 以上(含0603)贴片R、C、SOT、
/ S2 j6 I( z% T D2 K0 o: _5 YSOP(管脚中心距≥1 mm) 2 f+ h- \ M6 {2 B; O6 z! w3 V1 R/ \
波峰焊面,SMD 放置方向应垂直于波峰焊时PCB 传送方向
& A: v x4 R" e9 B波峰焊面,阴影效应区域为0.8 mm(垂直于PCB 传送方向)和1.2 mm(平行于: D3 T, h1 P8 W2 A
PCB 传送方向),钽电容在前为2.5mm。以焊盘间距判别
3 [2 w, l& {: \, Y( A, ~' M" X元器件是否100% 放置
# n w b/ t, ?/ x4 n# a; L是否已更新封装库(用viewlog 检查运行结果) 5 c, o8 k) ]8 w- m# k
器件封装 ( U' L0 d5 v m: q' ~! B
打印1∶1 布局图,检查布局和封装,硬件设计人员确认
. X& Q P2 f3 y! X% ^. |器件的管脚排列顺序, 第1 脚标志,器件的极性标志,连接器的方向标识 5 g/ B7 ]) T5 D( Z" K9 d8 C
器件封装的丝印大小是否合适,器件文字符号是否符合标准要求 1 E6 d. j* X, o. l6 P. {& k( M
插装器件的通孔焊盘孔径是否合适、安装孔金属化定义是否准确
/ [* M0 K$ P4 e) y+ \/ h表面贴装器件的焊盘宽度和长度是否合适 (焊盘外端余量约0.4mm,内端余量约
- N+ S) S& P! P3 q. L0.4mm,宽度不应小于引脚的最大宽度) 9 W1 V4 I# ^) k
回流焊面和波峰焊面的电阻和电容等封装是否区分 k5 ]$ g* X1 o% I- M. X+ s m
三、布线大致完成后
; e1 }. j+ \" @8 L/ W5 [& ?! ^. m+ r& c/ P P) E
EMC与可靠性
/ H) a' U" v+ H0 b' E, W布通率是否100% / K' m4 U T" A d' X8 I
时钟线、差分对、高速信号线是否已满足(SI 约束)要求
, |" H( J! Z& }) T0 C高速信号线的阻抗各层是否保持一致 $ v* y! u+ \- `* b9 h/ e0 ~9 \
各类BUS 是否已满足(SI 约束)要求 , p2 R7 S& Z! P3 v+ c1 w* k8 T
E1、以太网、串口等接口信号是否已满足要求 3 d8 F( n' Q; P4 V! R
时钟线、高速信号线、敏感的信号线不能出现跨越参考平面而形成大的信号回路 2 }$ j+ ~. j C- O
电源、地是否能承载足够的电流(估算方法:外层铜厚1oz 时1A/mm 线宽,内层0.5A/mm 线宽,短线电流加倍) 5 `! p V/ _! X4 W, }
芯片上的电源、地引出线从焊盘引出后就近接电源、地平面,线宽≥0.2mm(8mil),尽量做到≥0.25mm(10mil)
) X& E! @! t( A& O电源、地层应无孤岛、通道狭窄现象
% C: g1 e/ g& g* RPCB 上的工作地(数字地和模拟地)、保护地、静电防护与屏蔽地的设计是否合理
! ]/ p% y" g$ x) q2 B/ v& b) b: s* t单点接地的位置和连接方式是否合理
8 ]1 D" M# E4 L |/ Q: _8 U需要接地的金属外壳器件是否正确接地
4 [+ ^! ^* u% l( _信号线上不应该有锐角和不合理的直角 ( ^5 C q- j4 G* j% K9 p5 w3 ?
间距
X1 D( N _* e9 c6 fSpacing rule set 要满足最小间距要求 + t* D- A1 I- N" i
不同的总线之间、干扰信号与敏感信号之间是否尽量执行了3W 原则
& |# o( C; n9 n* ?差分对之间是否尽量执行了3W 原则 8 k, H/ _+ @ t
差分对的线间距要根据差分阻抗计算,并用规则控制 ; _& L$ T7 K& r% H
非金属化孔内层离线路及铜箔间距应大于0.5mm(20mil),外层0.3mm(12mil)单板起拔扳手轴孔内层离线路及铜箔间距应大于2mm(80mil)
' \. ^# J* K- T0 @3 n铜皮和线到板边 推荐为大于2mm 最小为0.5mm , C/ e9 M) `9 K
内层地层铜皮到板边 1 ~ 2 mm, 最小为0.5mm 1 k9 R/ ^$ v. Z g- ^$ t
内层电源边缘与内层地边缘是否尽量满足了20H 原则 1 Q6 S: _! {+ s" e; p2 d" X
焊盘的出线 # Q) s( @" ~5 |- [8 \6 b0 @& X1 T
对采用回流焊的chip 元器件,chip 类的阻容器件应尽量做到对称出线、且与焊盘连接的cline 必须具有一样的宽度。对器件封装大于0805 且线宽小于0.3mm(12mil)可以不加考虑
, P0 f0 M5 P6 T) r对封装≤0805chip 类的SMD, 若与较宽的cline 相连,则中间需要窄的cline 过渡,以防止“立片”缺陷
2 W( {7 P: ]; w8 {- v. w# [. m线路应尽量从SOIC、PLCC、QFP、SOT 等器件的焊盘的两端引出
- F, i! d; b, P! J! L过孔 5 O- w H r* r; ^8 g
钻孔的过孔孔径不应小于板厚的1/8
- S, ]! X4 C2 e) U4 c0 g/ P5 j. R$ |过孔的排列不宜太密,避免引起电源、地平面大范围断裂
4 y2 j; K0 Q7 r在回流焊面,过孔不能设计在焊盘上。(正常开窗的过孔与焊盘的间距应大于0.5mm (20mil),绿油覆盖的过孔与焊盘的间距应大于0.15 mm (6mil),方法:将Same Net DRC 打开,查DRC,然后关闭Same Net DRC) : x( \7 | Y% i" s" X
禁布区
& ]7 M Q! x4 n6 L金属壳体器件和散热器件下,不应有可能引起短路的走线、铜皮和过孔 - P2 W9 R( B0 f% ~0 S2 W! ~/ U
安装螺钉或垫圈的周围不应有可能引起短路的走线、铜皮和过孔 2 z- |6 e6 F4 y: `6 a' B
大面积铜箔
' ~" ^& R* V. b4 F5 e( ]; s若Top、bottom 上的大面积铜箔,如无特殊的需要,应用网格铜[单板用斜网,背板用正交网,线宽0.3mm (12 mil)、间距0.5mm (20mil)]
7 ?! ~1 h L0 @" m大面积铜箔区的元件焊盘,应设计成花焊盘,以免虚焊;有电流要求时,则先考虑加宽花焊盘的筋,再考虑全连接 ( J6 z+ q4 B3 H k2 t' Z
大面积布铜时,应该尽量避免出现没有网络连接的死铜 ! U; h" a1 X. i: Y3 b' j
大面积铜箔还需注意是否有非法连线,未报告的DRC 5 o9 c/ j: V8 k0 A, c# \) E
测试点
/ j5 |2 v! ^4 s2 f* Q" T各种电源、地的测试点是否足够(每2A 电流至少有一个测试点)
, Y2 J3 l# S4 }% V; o% g测试点是否已达最大限度
4 |: p3 a- k) LTest Via、Test Pin 的间距设置是否足够 3 {+ ^. z1 J6 [' ?4 m* f
Test Via、Test Pin 是否已Fix / w0 B: Y8 N% t. P) z
DRC " D: P4 t M1 d+ U$ ?# z4 `, q
更新DRC,查看DRC中是否有不允许的错误 3 y7 }5 U( _2 I# L% p' T0 D
Test via 和Test pin 的Spacing Rule 应先设置成推荐的距离,检查DRC,若仍有DRC 存在,再用最小距离设置检查DRC ! W+ E* V7 M; s8 r! J- u; q
光学定位点 j8 [ `5 W& L: [) I
原理图的Mark 点是否足够
) A. H5 i {. i: \+ l3 个光学定位点背景需相同,其中心离边≥5mm
( J: Z: Z g1 N; s; j* _+ j3 W管脚中心距≤0.5 mm 的IC,以及中心距≤0.8 mm(31 mil)的BGA 器件,应在元件对角线附近位置设置光学定位点
, B/ \# {7 @* H1 D D周围10mm 无布线的孤立光学定位符号应设计为一个内径为3mm 环宽1mm 的保护圈。 # p* h5 j9 b7 E3 \# F% N
阻焊检查
. E: [1 t0 T; R& [1 R/ {# T! l0 [是否所有类型的焊盘都正确开窗 5 k1 x( z. p" N, |! Q% f5 e
BGA 下的过孔是否处理成盖油塞孔 5 V) A! A- \; h+ u' h
除测试过孔外的过孔是否已做开小窗或盖油塞孔 9 ~$ `) F9 ?8 B* E9 C. |/ S
光学定位点的开窗是否避免了露铜和露线
9 }$ b% I% a/ G电源芯片、晶振等需铜皮散热或接地屏蔽的器件,是否有铜皮并正确开窗。由焊锡固定的器件应有绿油阻断焊锡的大面积扩散
1 @! |8 u Z" ~7 k5 a# E丝印
8 a3 o9 ~8 `9 Y j- X" s0 ~PCB 编码(铜字)是否清晰、准确,位置是否符合要求
# J3 o8 \& L+ x$ \( b) V0 ]条码框下面应避免有连线和过孔;PCB 板名和版本位置丝印是否放置,其下是否有未塞的过孔 + P5 D8 L: Q' r; }
器件位号是否遗漏,位置是否能正确标识器件
: p1 @. Z' C& ]7 n: Q: T器件位号是否符合公司标准要求
8 f6 K, `+ P8 u! h B丝印是否压住板面铜字 4 d t9 ?4 M: L0 x! f
打开阻焊,检查字符、器件的1 脚标志、极性标志、方向标识是否清晰可辨(同一层字符的方向是否只有两个:向上、向左) ! f+ @8 c5 r+ y7 P& l$ R/ H
背板是否正确标识了槽位名、槽位号、端口名称、护套方向
1 o: g- }' o. j% i( H母板与子板的插板方向标识是否对应
% u+ r8 j/ o) P, t# G1 L* H工艺反馈的问题是否已仔细查对
+ |* h" v, f4 O( _9 v4 v( |四、出加工文件0 _/ W$ E4 Q$ _6 S
* ~! Z1 q8 \9 F, L5 Q* n- a+ H9 Y孔图
8 r" z+ m7 Y- ?9 p7 MNotes 的PCB 板厚、层数、丝印的颜色、翘曲度,以及其他技术说明是否正确
8 y4 V2 f; o" s* p叠板图的层名、叠板顺序、介质厚度、铜箔厚度是否正确;是否要求作阻抗控制,描述是否准确。叠板图的层名与其光绘文件名是否一致
G* F) A* ~; n5 B; h4 H将设置表中的Repeat code 关掉
7 P& b( b3 V) G' f+ ~4 F0 r孔表和钻孔文件是否最新 (改动孔时,必须重新生成) 4 w5 k! X3 H. h% V& ~
孔表中是否有异常的孔径,压接件的孔径是否正确
5 R1 W9 B& C4 B4 B要塞孔的过孔是否单独列出,并注“filled vias”
2 I) ]( q G1 w0 {& S光绘
. G/ A7 F, V& m5 z9 s/ l要塞孔的过孔是否单独列出,并注“filled vias”
+ `% @3 R" h5 N1 sart_aper.txt 是否已最新(仅限Geber600/400)
9 t |0 w5 F. Q! i输出光绘文件的log 文件中是否有异常报告 1 j$ ~0 T# \/ ?- w F% N+ Q
负片层的边缘及孤岛确认
. E: C' l; j( C: n使用 CAM350 检查光绘文件是否与PCB 相符
$ r6 q' V4 x! b9 z8 Y出坐标文件时,确认选择 Body center。(只有在确认所有SMD 器件库的原点是器件中心时,才可选Symbol origin) . q) V ^# G4 _+ n8 t; O+ U! l
确定Gerb文件齐全:圆形孔钻孔文件(*.drl)、不规则孔钻孔文件(*.rou)、光绘文件(*.art)、坐标文件,生成文件时间必须比PCB文件(*.brd)晚。 2 [3 U( g7 ^ D) b
五、文件齐套: o, b$ e2 U9 o+ L* C! F
8 }3 @" Z8 B7 I5 O$ P; z3 B1 C% sPCB 文件:产品型号规格-单板名称-版本号.brd
4 ^5 ?2 M1 x. b" I+ LPCB 加工文件:PCB 编码.zip(含各层的光绘文件、光圈表、钻孔文件及nctape.log) O- b- ]- ` [1 ~
SMT 坐标文件:产品型号规格-单板名称-版本号-SMT.txt / v0 r( T( c! c4 R k* F( q# x
测试文件:testprep.log 和 untest.lst 9 U, q) e" Y/ V$ V- i5 {6 z$ [
[1-4]总包文件名:产品型号规格-单板名称-版本号-PCB.zip
+ p! f) ? P' G; }. n1 I. g( a
/ p! w' \$ p& c4 r6 @0 v0 N6 P" {9 k7 v- U) ]' [
器件间距要求
0 e W% A6 y& a9 {* k
: H& |" A! T: A8 x& p& aPLCC、QFP、SOP 各自之间和相互之间间隙≥2.5 mm(100 mil) # b+ y. G8 B- w, ~$ b7 V
PLCC、QFP、SOP 与Chip 、SOT 之间间隙≥1.5 mm(60 mil)
- T5 T( y/ T& E! K2 ]回流焊:Chip、SOT 各自之间和相互之间的间隙可以小至0.3mm(12mil)。
9 M' B3 F, ]. J4 \: P波峰焊:Chip、SOT 相互之间的间隙≥0.8 mm(32 mil)和1.2 mm(47 mil),
/ R# r8 c3 Y3 V7 D9 K. ^8 V钽电容在前面时,间隙应≥2.5 mm(100 mil)。
8 L# T* J( T' V0 U. Z2 |4 { \/ F; n4 W6 t' l9 t2 @" N$ n- l7 _
BGA 外形与其他元器件的间隙≥5 mm(200 mil)。
( }2 `; H0 @9 {3 hPLCC 表面贴转接插座与其他元器件的间隙≥3 mm(120 mil)。 5 |0 R/ p; ? V* H& X( L
表面贴片连接器与连接器之间应该确保能够检查和返修。一般连接器引线侧应该留有比连接器高度大的空间。
' C: l+ u8 x4 L( U. y元件到喷锡铜带(屏蔽罩焊接用)应该2mm(80mil)以上。
( _1 ?. v( i0 a9 v* W0 B6 {8 O( X元件到拼板分离边需大于1mm(40mil)以上。 : b1 C1 B" M; z2 B8 R$ x* h! r
如果B 面(焊接面)上贴片元件很多、很密、很小,而插件焊点又不多,建议插件引脚离开贴片元件焊盘5mm 以上,以便可以采用掩模夹具进行局部波峰焊。
2 A Z0 O2 I3 j$ `: x注:其中间隙一般指不同元器件焊盘间的间隙,器件体大于焊盘时,指器件体的间隙)
. n2 a0 i/ R* s( A* N7 L
: g0 n+ x+ T+ _9 g5 j3 ~
: w5 p- o- M$ c8 p5 D; w |
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