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下面提供美国军方的一个失效率表: , r/ Q, {+ G! J7 T9 I1 A1 A
摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页 ' e: J' g9 D& L2 ^
* Z9 B3 q z5 @+ t2 z 部件 ..................... 失效率(%/1000小时) ; D7 I# {- c4 q
1.电容器 ................. 0.02 * [) P0 e- y4 K U: F2 E/ K
2.连接器接点 ............. 0.005 3 n! E- ]# o- q: r
3.二极管 ................. 0.013
; n7 `. @0 i& N/ B; ]3 T 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015 % g& G2 h5 g7 r% I) i8 M3 ?0 y" l' F
5.石英晶体 ............... 0.05
6 b: X4 W6 L1 T7 q3 i# _ r 6.电阻 ................... 0.002 - w3 T: |7 ?: g4 W$ c" f3 u; E i
7.焊点 ................... 0.0002 : z& w" k6 Q& _$ v9 D$ a/ M8 N
8.变压器 ................. 0.5
$ \1 X' ~8 s1 b 9.晶体 ................... 0.04
: [$ B4 c7 b* f- {4 k5 M) t 10.可变 ................... 0.01
% b: b# \6 \4 Y% Y j, A 11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------!
0 O% ?; M( w2 I, s! A " F* g" R7 C; S/ o; G- o# c8 V
平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。 5 {* l2 C+ _; A1 s0 A( X% C
当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
) Q( H( ~: K) u8 C+ _6 f 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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