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版图layout经验总结

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发表于 2010-12-20 23:14 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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版图经验总结1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.9 p$ Y) z  r6 C# w, T
2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.% Z5 x2 B1 Q7 D0 Z( E: F8 r* Q
3布局前考虑好出PIN的方向和位置- h/ w! @& {; \, V: t
4布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起
$ [4 K8 n3 [7 }  @' o6 c5对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。
0 m8 T4 R* t+ y% K  d9 j+ O$ \7 s' z
6对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开混合信号的电路尤其注意这点.
7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.
7 n4 i* S* x& m2 J% i, e( `. N
8更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
9将不同电位的N井找出来.
9 U, g: Y0 m0 u( I10 更改原理图后一定记得check and save
  E1 P/ O, C8 w11 完成每个cell后要归原点

0 Q4 Y6 c; Y) l7 y12 DEVICE: ^+ F5 }3 F8 H
个数5 q; s  ?- G0 B
是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线' ?+ ^5 f6 Y5 x2 u
必须5 A8 |% y" B. w* K& g8 U
先有考虑(与经验及floorplan的水平有关
).
# N( ]8 K4 E* s! H13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来。
( j5 ?* p: M' a" p1 P, @! H1 q
14 尽量用最上层金属接出PIN。
8 |  \% P" E$ ]2 v8 z1 @! I* w) l15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.9 ~9 P5 P) E3 Z6 k6 }: A, b
16 金属连线不宜过长;
' l+ D9 u3 \  ]" O& m/ K
17 电容一般最后画,在空档处拼凑。
+ K, K0 T; ^0 `: d. e+ P! J0 D18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.  r" c0 ~$ M5 r; }
19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。
/ I4 t2 r: Z' I7 }; {! \: _
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.
1 z, t* Q1 U" ^8 u4 N21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联
.
; a8 t3 R0 C0 t; J! L+ A" o% u22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
' `7 z8 J' {  x  v. A! p+ ^
23 栅上的孔最好打在栅的中间位置." K2 b# A" J5 I: ^# K8 c0 {* s. r
24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅
.4 `/ t& j/ N  g4 W: r0 ~- M& @
25 一般打孔最少打两个
! G* p/ m7 u3 m/ l& k7 |
26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.: ~2 I  T5 }; r+ m+ M
27 薄氧化层是否有对应的植入层

( _, g8 t$ J+ T* }5 [" e7 V/ t28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.
9 w( I* I( X$ _3 O0 x7 G3 ?. d29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度
9 o" x* U- }$ y- N8 r9 {" |1 p
30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。
9 B& O) r- d4 i; G% y! o6 D* F31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。
$ b9 y( z8 M3 ?- D0 ^32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造.8 j8 G3 Y8 ]: O; w# f
33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。

! d: M4 P6 E  x% B34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um.% d( v* |0 G1 c! s9 ^
35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层
. ~2 I( D' r9 Q7 Q1 z) Q; e8 E' w4 y
36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.
! q$ ^8 V$ i- ~37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。
' G( O* Z) Y2 S  F% `( Y
38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。/ P- O/ T# j) D8 G2 y
39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。
$ x6 w' ^: ^" p. Y40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.% Y) h9 p; Q0 Z* I- X( _0 l
41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。

3 A2 |# @0 z" p% U  e, s7 V; U42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.
: ~) ], V% W* S' M! l8 Q43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好
.
4 {7 l+ a) n5 |6 h' j& e44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用
.8 U! c* {8 @! M
45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内
.
" w% e  @7 `4 j" q! _46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。- d# S. [1 R  w  q
匹配分为横向,纵向,和中心匹配。

1 H' X" y: ]8 {' I4 H1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置) 21; A+ o7 I4 g0 u. A
中心匹配最佳。

" |# o- \2 N2 f$ _$ u47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.; T5 h9 a; D( n$ c# ~0 B: j$ C- y
48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距
.
# k* q/ T! V! S% r' q49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。

. e8 m: i) m$ L2 B+ @50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.
6 d" c& M! r( U$ K1 y$ V51 05工艺中resistor层只是做检查用
& i' k! Q2 h3 z  |' l  l
52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.
- K9 e* o8 s1 d- ]7 H53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样
.
2 h. ^9 Z6 p5 [+ ~4 e5 m! Y54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。
5 L+ i9 U) n( b& H: E3 `( A& Z5 B
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.
/ U  l8 }3 `6 v- Z. s4 k' q8 b" y3 h56 关于
powermos: y& z! ^; o' e- j, d9 @) c
① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,
/ e% T: C4 C  h  \
② 几种缩小面积的画法。. T4 Y, ?* ?, E! @, o0 m
③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um. l( E# c2 r5 x: N4 ~
57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况
).
$ N7 d# P  ~/ C; t58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向
9 N6 K  I" z7 ?. E! l/ v! A
59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
6 H9 ?, A" u8 u' t1 W' V; U60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。

$ k; B' |- G- B9 B3 s7 M! I1 M61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.
( k: r1 ^0 T5 V# Z& f62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点
.
6 a$ h  F3 f, ?) k63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快
.' u5 f$ X& f# L2 }+ \) Y; J
64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺
)3 b; M$ i; }$ W3 G
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接
VSS PAD.
+ p- a8 D, `- d/ t- N0 E/ B, Z66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角
.; e7 D9 c, {# S
67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联

' |+ H1 ?) T- ^( f& b68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.出错检查:) w( s/ J: O" R
69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;
) L  _8 l  j  X5 [) A
70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX
8 r6 S" i  C/ l$ K71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。
; R$ S" q3 D3 E( t" V
72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2  0.55 um,即两根电阻间距的一半。
) L# ~' z9 R& H73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起7 \7 _7 O8 W5 e/ f/ w' {9 f
74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端' E, r$ s. h/ d& q: `! D' i1 b7 t
75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.
1 I& ^$ c4 ]- c: j. t4 E8 R76 大CELL不要做DIVA检查,用
DRACULE.
! F$ d) @" V. B3 [( \( ~  V77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此
pin.
0 O1 w. S; ]2 M- L" K78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖
dummy  I, }  W" X0 N% G7 J6 w; @' u3 V
79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线
.( X- p9 O+ ~( j$ [7 |. `
80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了
.7 i. \- u8 f5 X9 l9 e
81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱
.
; a  X, ~- i, g% ~% J( ~82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则
.
7 d6 _4 T" a& c% u6 k! }6 U83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.容易犯的错误
  H- N' d7 ~* R" S" a
84 电阻忘记加dummy/ M1 n4 e3 ^. I2 Z8 R( ], f0 N% D
85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏
.
, k: e- K% ^* x$ F( M86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示
.
# c; W2 U2 U. P/ K1 [& z( ~87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接
vddb/vddx.
8 n* e$ H1 h- O/ g' z9 W$ {88 是否按下capslock键后没有还原就操作

/ Y8 T/ q# P6 U% Q; }节省面积的途径( p" H8 |8 W. |' e4 j
89 电源线下面可以画有器件.节省面积.7 M' b! v  ^8 s
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。
( A8 ^; R! X; Y
91 电阻的长度画越长越省面积。
6 S( X& ~8 O1 j92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度./ v' T0 F3 {- O& v5 ~( ^
93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。

* Y, G0 U. t. n/ n/ m$ A7 }94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN/ \9 w8 _. O. R  N! S

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发表于 2010-12-22 14:52 | 只看该作者
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