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常用元器件失效模式及解决办法

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发表于 2023-1-28 10:35 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 winushej 于 2023-1-28 10:36 编辑 7 D/ }7 Z& J% _; b+ G) J& c/ J5 E

6 x* e9 e6 o, }+ r电子元器件主要包括元件和器件,电子元件是生产加工过程中分子成分不被改变的成品,比如:电容、电阻和电感等。电子器件是生成加工过程中分子结构发生变化的成品,比如:电子管、集成电路等。
2 @$ I& z. P( I! }; [7 e) [. j$ ~: s+ n% U3 u$ r  S0 E
电阻类元器件7 u+ @5 A4 e7 m) i
电阻类元器件出现故障在电子设备中占很大的比例,电阻可以分为分流、降压、负载、阻抗匹配等功能。根据构造的不同,电阻类元器件可以分为线绕电阻、非线绕电阻。* V$ K" C1 E& [/ y
电阻类元器件失效的主要方式有接触损坏、开路以及引线机械损伤。! a: w! X# M+ S" h7 S! ?
温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。
2 l* z2 R5 H6 N7 ~# l机械振动会使焊点、压线点发生松动,导致接触不良等机械损伤。1 S2 O. x8 ^9 W2 }7 q; t* K
* P* q& w& Z! c' _* l1 ^) r7 I5 q  q& `
电容类元器件+ H1 q  N- }5 f9 I. n8 F% ?5 Y$ p9 U
电类元器件失效的主要方式有击穿、机械损伤、电解液泄露等。
" B  M) h: f- i0 z0 t; j0 U7 b  L电容出现击穿的原因主要有:1、介质存在缺陷、杂质和导电离子;
7 `7 K7 }% j$ a; A% R) ~3 @- g2、介质出现老化;# l8 x* s7 Y1 ^$ A
3、介质材料存在电、气隙击穿;
+ _4 t' x$ j; y- q! i4、制造加工时介质有机械损伤;+ d/ k0 D3 M" q( s- w$ a, Q3 P
5、介质分子结构出现变化;4 C! n' O- w( ]  C0 V
6、金属离子迁移构成导电沟道或边缘飞弧放电。
0 A' A+ H: ?8 l" D+ N
! C* q3 W+ S5 r6 s4 f9 g& I
电容失效也可能是开路造成的,引出线与电容接触点氧化导致低电平开路,引出线与电极接触不良,电解电容器阳极引出金属箔由于机械折断等造成开路故障。此为,电容也可能因为电参数退化故障而导致失效,比如:电极材料金属离子出现迁移、材料金属化电极自愈效应、电极的电解腐化与化学腐化、潮湿、表面污染等都可能造成电容的电参数退化。
. W& d3 a( l4 `2 E2 j& @3 x9 Q; @1 v- u7 E6 R, S3 R0 d0 i9 `2 e
8 \8 c6 D# [7 d# l* z0 @4 Z4 K
电感类元器件) |7 U/ G% Q- I6 a- `1 J8 Q& ^$ _3 q0 G
电感类元器件涉及到变压器、电感、滤波线圈、震荡线圈等。电感类元器件的大部分故障是外界因素导致的,比如:变压器的温度升高、负载短路使线圈经过的电流过大等,都会使线圈出现短路、短路以及击穿等故障。. \# W% X3 f! F$ n0 U. [$ |
在集成电路中,不论哪一部分出现问题,整体都无法正常运行,比如:电极短路、开路、机械磨损、可焊接性差等都会失效。失效主要分为彻底损坏和热稳定性不良等,热稳定性失效主要出现在高温或者低温,超出了器件的工作温度范围而失效。5 H0 T- ], N& A# A6 I4 y. T
1 N! J! \1 k& k& _

& |( a2 k, E( V7 t: c; W解决方法# W- z9 R2 |8 b
那如何有效的找到失效的电子元器件,并更换或者修复问题呢?
: s4 P9 F# }/ t在调试中,出现电路无法工作或工作不正常的问题时。首先通过动态观察法,就是将线路设备通电的情况下,听、看、摸、闻等方法对电子元器件的故障进行判断。比如:听设备是不是有异常的声音,仔细看电路内有没有冒烟、火花等情况;摸一摸元器件、电路有没有发烫的情况;闻一闻有没有焦糊等味道。也可通过万用表测量电路中通断情况,通过测量正常与不正常电路中各类值来判断。' J. J, }! G* ~. A1 P; T( R: b

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    发表于 2023-1-28 13:11 | 只看该作者
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    发表于 2023-10-29 15:51 | 只看该作者
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