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本帖最后由 Clap3hame3 于 2022-3-17 10:55 编辑
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! N3 D$ u& K$ c1 V E) n6 M- 导线介绍:& T; n {- s2 K& f: B5 [" y: p& \
铜线材经过一系列的硬膜进行冷拉丝至合适的直径,在这个冷拉处理过程中会引入应力并使晶粒结构拉长。高导电性无氧铜(OFHC)是将优质的铜阴极进行感应熔炼而成,加热在无氧环境中进行,纯度至少99.99%。高强度铜合金(HSCA)通常是镉-铜或镉-铬-铜合金。
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某些设备上使用的铜线外电镀一层金属以改进保护及连接性能。如银,镍, 锡。多股绞合以提供柔韧性。, S- Y. @7 o6 _5 u- _; M0 r; T
- E! F4 s1 H8 C/ s9 J! E* W# h! E! X导线所用的绝缘材料主要是芳香族的聚酰亚胺,聚四氟乙烯(PTFE)和交联乙烯基四氟乙烯。 - 连接线主要是由三个因素引起失效: 即电, 热,机械。常见的失效特征有:' l& d2 z5 g6 g+ _0 U6 _% H& ~
/ N7 g+ C6 E& a& @1 m+ {5 x4 I再结晶:
" G( G. n; A# `" l( G7 j冷拉铜丝的过程使晶粒尺寸减小和晶粒结构沿着铜丝轴线方向伸长,如果随后铜丝被加热到再结晶温度,则晶粒结构将发生变化。这种变化与时间和温度有关。再结晶与温度和时间有关。
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3 [2 S# ^5 }2 M珠状连接线末端:
9 T3 R$ V$ x) c$ X }5 u当导线处于电弧中时,就可能造成局部加热,导致导线熔化并在线股末端形成熔珠。熔珠状是电弧现象的特征,并且是温度远远超过熔点的标志。电弧可以在直流或交流电路中发生,交流电路中的电弧经常受助于断断续续的接触,磨损或污物。导体直接接触引起的电弧会被过流保护装置中断。
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5 G( h; o( s1 t4 R) X1 k7 _ R! ]当两个导体之间形成电弧时便会发生金属转移。电弧通常伴随着金属熔滴从一种材料到另一种材料的转移。一般熔点最低的材料损坏更严重,一般用SEM和EDX来确定材料转移的程度。& f2 z, ?' K( \2 J: ^. k
& m/ N5 | l0 |! Y; `& }杯形-锥形断裂:
" u1 j7 y) B& R: s! N这种形貌是拉力超负荷的表现,在拉力初期导线被拉长,这种拉长伴随着颈缩现象,一旦发生颈缩便在中心形成若干气孔,并且由于径向形成裂缝而出现刃口。伸展的裂缝在靠近表面处形成45度的切变裂痕,特有的杯体由一个带有凹坑的平坦中心区和外面的45度切变裂痕构成,相对的一侧则形成圆锥体。失效机理包括疲劳, 超应力腐蚀开裂,扭曲等。7 x$ C% t+ ~ s7 A& D8 f
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绝缘体故障:) Z" `- \) r$ j( X
电击穿可能导致绝缘材料的碳化,被碳化的绝缘材料是导电的。从绝缘材料被机械磨损开始,可能要经过一段时间发生,也可能突然发生。跳火是突然的使绝缘材料碳化。由于电缆头工艺不良使水分侵入电缆内部,或电缆内护层破损而使水分进入。疲劳龟裂,由于长期震动而产生疲劳龟裂。过电压,由于过电压引起绝缘层被击穿,尤其是系统内部过电压会造成多根电缆同时被击穿。绝缘老化、电缆在长期的运行中,由于散热不良或过负荷,导致绝缘材料的电气性能和机械性能劣化, 使绝缘层变脆或断裂。外皮腐蚀,电缆外皮受腐蚀而产生空洞。环境因素如紫外线,湿气,油等可以加速绝缘体退化。
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绝缘的热损坏:
( ?' h7 }+ \% F导线的绝缘体在高温下容易损坏,主要表现在颜色变化,失去柔韧性,溶化或破裂,失去电阻性。单靠目检是不能确定绝缘体承受的最高温度的,热损坏取决于温度和时间,仅仅外表面被破坏,是受到外部热源影响,只有内表面损坏则是导体本身的热源造成。正常导线的绝缘电阻大于100兆欧,热损坏之后可能在1兆欧以下。
m, h8 v) u* \' h" R# T一些材料的熔化温度:
6 Z5 o) b- d7 N聚乙烯100~150 ℃;
0 ?3 m) ?/ _3 L- t* [8 |/ A1 X聚氯乙烯105 ℃;
2 F) }( I# `' t0 h2 R( o6 U尼龙200~250 ℃;! K. f! F) R2 w5 ^5 i1 {. r' `. x
聚四氟乙烯327 ℃;/ P) p9 Q8 n+ p8 _
乙稀基四氟乙烯267 ℃;
, N( J" N4 G0 F# T! R. e硅树脂260 ℃;
' v( S. ` I% F+ G聚酰亚胺260~315 ℃
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导体变色是由热暴露引起的,并且是被氧化和镀附材料被吸收到铜中的结果。颜色一般会无光泽。 镀镍导线铜与镍相互扩散,失去光泽变黑。镀银导线互相扩散成为暗褐色。当基底材料暴露于湿气环境中则形成绿色铜基化合物。( _9 u. c" v6 D! |
. h1 e( {7 _0 D铜导线腐蚀反应:
4 b2 T W( a( t2 b# c) e镀银或镀锡的铜线在遇到水和氧时会发生反应生成氧化亚铜, 呈红色, 也能够生成氧化铜, 它是黑色的。如果还有其他离子存在,还可以形成碳酸盐和卤化物,镀锡情况下形成绿色产物。原因是当镀层受损或存在针孔时,就会发生腐蚀。, g$ d" c1 y- K0 E! n" [
/ r8 f+ `! Y& M导体熔化的原因4 z5 e# s* ~ s" p
火灾的温度通常不超过815 ℃, 而铜的熔化温度在1093 ℃,所以熔化的铜一般认为是电弧造成的。如果铜熔化出现在导线一小段,则为电弧所致。但另外 一种情况是形成铜合金, 合金的熔点低于其任一组分,它的熔点要低得多。 - 为了深入研究需要分析导线的晶粒结构要做断面分析,五个步骤 :
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1 用环氧化合物浇铸,固化: R1 D1 p8 I# B) a" D# I3 ~" ^" R- T
2 切割要用AL2O3 切割轮来切割$ C6 Y, {, {$ ~. m8 T
3 碳化硅砂纸研磨 (240G-600G) V5 t0 s H& }
4 先使用1um 金刚砂磨料, 再用氯化铁(即三氯化铁)抛光60s" E% ~" U0 Y! P. C( r
5. 为了做镜检,推荐最后一步使用氧化铁抛光,但是会留下一层雾活性的薄膜,对刻蚀是惰性的,在氧化铝抛光布上少许旋转一下可以去除这层膜, 可以用用0.05um的氧化铝最终氧化铝抛光。加几滴由氢氧化铵和过氧化氢组成的混合液(50ml/5ml)更容易抛光。
5 M5 d! ~, r8 u5 p" n1 n$ w6 刻蚀:氢氧化铵/过氧化氢(30%)/水=(50ml/5ml/50ml, 可以调节水的比例以控制刻蚀速度),为区分Cu2O 和CuS,可用偏振光检查, Cu2O呈现红色,而CuS为黑色。但在明场下都是灰暗的。$ q/ J: S) K" C( J
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