TA的每日心情 | 怒
2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点
$ r7 {$ q, x; |4 B) J! ^9 v1 P( f" y器件失效会存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信+ i; ?# f* S+ t0 o3 d
息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的物质基础。因此，开展失效7 b% v+ ~% g' G- R* Z
分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
+ h4 j& w: h; X j7 X: M+ J8 M度。! \; [0 d: q& o: `
失效预警及启动分析机制
1 v/ q4 s3 ?. ]/ K失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻/ S- B; _% w9 d/ W4 ^
底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失2 h0 L# t5 ^9 M1 n4 F# o0 I
效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而; `4 y+ N& q) k
实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。* L% N7 s1 [+ u. ^+ _2 `3 @
开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器
6 M! c9 x% g9 T/ B件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低
# I, n1 h# M: Q. \, w预警门限，加大失效分析的覆盖面。! ^& \+ E' Y$ t
生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过
- p& V# V% [3 `% H4 O应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相8 `6 F, e; a& b7 H3 x
对较高0 S1 ?5 |7 q2 H. T0 |
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发表于 2021-10-21 14:50
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发表于 2021-10-22 09:28
