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微电子器件可靠性的失效分析

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1#
发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:
) u6 F  J5 W( ]1 v* ]% p2 q- o
. I2 T& ^1 p5 }. f9 V第四章 失效分析. n& ^/ I( Y  T( h1 D. \! r
4.1 失效模式与失效机理1 n& t& {. p& M( y
4.2 失效模型
/ W# v' x% o: Y0 I4.3 失效分析的内容与程序
, }+ M' K- y- ^$ Q( Y& k8 q' v: b6 ]/ F4.4 微分析的物理基础
% M9 s, s6 s$ r' ?/ I- A# j0 A$ U  t+ r# j
补充材料:失效分析图片
1 w8 x$ _$ s9 J8 u  I$ ~3 R# {$ U' x, @' h' [, h5 D
本次课要点:
8 P9 ]% ^0 t6 m: _1、失效模式与失效机理定义区别
* O4 ?* U1 P0 t- w& u2、了解几种失效模型;
; Y! g/ T2 u4 C2 c3、掌握失效分析基本原则程序;, {/ Y3 l6 f- g5 b
4、了解微分析技术的物理基础。
; R" t3 d: I# \) n" Q
! r* q* }+ U. C* b附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1) , |7 W+ i: Y  O6 O
( c3 s% E) |1 o* n2 [/ _

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断' o) X/ w7 v) @2 w9 ^2 S$ F
这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。& R0 G6 N: n- i6 z3 P- W$ o
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。) N( W# B8 H4 Z/ E  {) S' S
      (应力不增加额外的失效模式)
' u; Y% |3 s$ \) l" K/ N) A% h
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-22 15:53
  • 签到天数: 1221 天

    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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