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在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?

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1#
发表于 2020-4-9 10:23 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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你好,
# m0 @( H+ Z0 M% O' w6 d我目前正在研究一个项目,我需要在两个替代设计选项之间做出决定,我必须考虑可靠性分析。(我不需要担心我的设计中的软错误效应)7 a; e6 N/ ^; ?0 P" {
根据我的研究,我发现FIT值是FPGA可靠性的基本标准。- I; L9 S5 k, j5 X
在第一个设计中,我计划使用XC6SLX25T(Spartan6-0.045um-FIT:11)FPGA,另一个使用XC6VLX550T(Virtex6-0.040um-FIT:8)。
: Y* ]6 A: P' ?3 R. }# `当我看到“UG116 xilinx器件可靠性报告”时,我看到所有FPGA的FIT值都归类于工艺技术中,而Virtex6的FIT值明显低于Spartan6(约为34%)。# ]  l: q9 b7 G! l. b
我好几天都在搜索这个话题,但我找不到确切的答案。
# [- j9 L3 |* p* @为什么FIT率被归类为工艺技术?我观察到工艺技术和FIT值之间没有直接的相关性。- m  B) G3 B  N  [  A8 q2 K. l
为什么Virtex6与Spartan6相比具有更小的FIT值?$ s* e* z0 f4 k% l- v( a
为什么在相同的工艺技术FPGA之间的芯片尺寸或栅极数量没有区别: }8 `% Z: ?1 K7 n
在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?1 [+ _4 h6 L5 T

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-9 11:30 | 只看该作者
由于已发布的硬故障率基于实际数据(故障),因此它就是这样。
0 E) M7 k" f& J在特定技术节点上创建设备所需的一切复杂性几乎是无穷无尽的。5 b) k! c( Y8 C( ^) S
因此,一个部件的一个故障容易改变数量。% |& R0 E+ m: D+ }& @* F$ b1 E6 R
此外,此数据的置信区间为60%,这意味着真实或实际的故障率很容易变为表中的一半或两倍。
7 z6 \' y+ X+ T1 p3 A; F这不应该是选择哪个家庭的考虑因素(它们都是如此之低以至于完全等同)。6 j- g& B, J; t3 _- P" a9 K3 t5 Z
即使您正在构建数百万个单元,也几乎不可能看到您选择的硬故障率有任何差异。5 X8 J# ~# W9 u' H% J
当然,你如何使用该部件将完全控制你的现场失败率(例如,炎热的环境总是导致比温带环境更多的失败)。
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