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简单介绍一下JTAG

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发表于 2019-9-17 11:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种。当仿真时,IAR、KEIL、ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法:
9 R: g8 |& o- F  w* [; A" w/ n! D7 f9 c" N
1.在电脑上写一个服务程序,把IAR、KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气 物理层上的转换,就像RS232那样的作用)发送你的的目标板。H-JTAG就是这样的。H-JTAG的硬件就仅是一个物理电平的转换接口,所以很简单。 而电脑中装的h-JTAG软件就是前面说到的服务程序,负责协议转换的。
( d% `8 t+ Y# |5 e3 |1 D% _" Q; S! o, C+ h
2.做一个板,用此板直接接收来自IAR、KEIL和ADS等软件的调试命令,由此板做RDI->JTAG协议的转换。然后与目标板通信,这就是JLINK的工作原理。) G/ H& ~! M4 Z2 A0 m. e* G

2 O' e  Y  M) j6 b! a, c由上可以看出H-JTAG由于是软件作协议转换的,所以速度较慢,但是硬件简单。而第二种方法的JLINK一般带一个强劲的CPU,作硬件协议转换,把以硬件复杂,但速度快。
4 \# s! Y4 e) H0 d  n& }" S; T) w# u& O( X
JTAG的基本原理/ @; \* J8 c7 R2 @- a+ F& h8 _
8 x# P3 l, i1 g
JTAG(JointTestActionGroup,联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1兼容)。标准的JTAG接口是4线——TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。; ^+ f5 y6 T9 B& H. x

6 O' C) d+ I$ G- i( WJTAG的主要功能有两种,或者说JTAG主要有两大类:
7 ^/ A, T, t$ _" L  n* @* _; Y, I6 F3 o- L* o
1)一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;
6 T0 q+ z" W5 @4 g4 o1 h* s1 }+ i1 N% D" Y6 G
2)另一类用于Debug,对各类芯片以及其外围设备进行调试;一个含有JTAGDebug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器、挂在CPU总线上的设备以及内置模块的寄存器。本文主要介绍的是Debug功能。. u% b, m1 _" k- C/ s* A- `
! F( |% H8 r' \9 }1 a
JTAG原理分析# P. D- Y, @$ _4 R4 a
' ~& m  `  Y; V9 J  t. D- m, T
简单地说,JTAG的工作原理可以归结为:在器件内部定义一个TAP(TestAccessPort,测试访问口),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试。首先介绍一下边界扫描和TAP的基本概念和内容。2 v# l# ~3 o5 r0 D: j9 [6 y! U0 ~
, l  u; q! e$ G- m" o
边界扫描
2 G! R7 g) A6 T- v# y* Q% _* f" t. p. b
边界扫描(Boundary-Scan)技术的基本思想是在靠近芯片的输入/输出引脚上增加一个移位寄存器单元,也就是边界扫描寄存器(Boundary-ScanRegister)。& N) t8 h# o; h# K# t, q; ~/ Z6 l" m

+ s1 a, K9 M" g* B! W7 n( D3 @当芯片处于调试状态时,边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入/输出隔离开来。通过边界扫描寄存器单元,可以实现对芯片输入/输出信号的观察和控制。对 于芯片的输入引脚,可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号(数据)加载到该引脚中去;对于芯片的输出引脚,也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕 获”该引脚上的输出信号。在正常的运行状态下,边界扫描寄存器对芯片来说是透明的,所以正常的运行不会受到任何影响。这样,边界扫描寄存器提供了一种便捷 的方式用于观测和控制所需调试的芯片。另外,芯片输入/输出引脚上的边界扫描(移位)寄存器单元可以相互连接起来,在芯片的周围形成一个边界扫描链 (Boundary-ScanChain)。边界扫描链可以串行地输入和输出,通过相应的时钟信号和控制信号,就可以方便地观察和控制处在调试状态下的芯 片。
, \0 {1 c# E/ P0 S* R. Q' F1 E( r) q2 q8 V; j: [
测试访问口TAP; x, F3 V! Q  O3 ?  ]; F% b( S
3 V( h% p7 v2 @" B# b7 D
TAP(TestAccessPort)是一个通用的端口,通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAPController)来完成的。下面先 分别介绍一下TAP的几个接口信号及其作用。其中,前4个信号在IEEE1149.1标准里是强制要求的。' C, Q/ l5 x. `0 r! a) L

7 {, D" W0 E$ K# n7 pTCK:时钟信号,为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号。
8 _/ L* U. \- r; \% r4 Y7 f9 ^
8 k+ Y$ U% a# J9 O7 i( cTMS:模式选择信号,用于控制TAP状态机的转换。
6 Y; K4 }. V* R# m6 M! K  w; b% p* e5 N. u0 m
TDI:数据输入信号。
' B* i3 ~5 \7 u3 R: Q+ G+ P; t# L: v; c
TDO:数据输出信号。
  P* u; @# q) p+ h
1 G4 ~! E( j* T" JTRST:复位信号,可以用来对TAPController进行复位(初始化)。这个信号接口在IEEE1149.1标准里并不是强制要求的,因为通过TMS也可以对TAPController进行复位。
; G5 t. M% ~% {  M% v& R/ ?: Q
1 X+ }( ]5 ]8 b8 w6 dSTCK:时钟返回信号,在IEEE1149.1标准里非强制要求。
" b3 ~8 l  `; q9 F" I$ r9 g
, p5 I2 e4 b3 M6 v简单地说,PC机对目标板的调试就是通过TAP接口完成对相关数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的访问。7 e* R- h$ u. r
) q/ K% ?) z4 D' ~# x! f
系统上电后,TAPController首先进入Test-LogicReset状态,然后依次进入Run-Test/Idle、Selcct-DR- Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR状态,最后回到Run- Tcst/Idle状态。在此过程中,状态的转移都是通过TCK信号进行驱动(上升沿),通过TMS信号对TAP的状态进行选择转换的。其中,在 Capture-IR状态下,一个特定的逻辑序列被加载到指令寄存器中;在Shift-IR状态下,可以将一条特定的指令送到指令寄存器中;在 Update—IR状态下,刚才输入到指令寄存器中的指令将用来更新指令寄存器。最后,系统又回到Run—Test/Idle状态,指令生效,完成对指令 寄存器的访问。当系统又返回到Run—Test/Idle状态后,根据前面指令寄存器的内容选定所需要的数据寄存器,开始执行对数据寄存器的工作。其基本 原理与指令寄存器的访问完全相同,依次为seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR, 最后回到Run-Tcst/Idle状态。通过TDl和TDO,就可以将新的数据加载到数据寄存器中。经过一个周期后,就可以捕获数据寄存器中的数据,完 成对与数据寄存器的每个寄存器单元相连的芯片引脚的数据更新,也完成了对数据寄存器的访问。% f2 F  l! X# s0 `5 K5 D' W* G+ I
' U2 E: x; k( P+ S( I- A9 [- ~7 s
目前,市场上的JTAG接口有14引脚和20引脚两种。其中,以20引脚为主流标准,但也有少数的目标板采用14引脚。经过简单的信号转换后,可以将它们通用。
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