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铜、金键合线的差异.

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发表于 2016-1-8 16:17 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 yuju 于 2016-1-8 16:43 编辑
! c4 i8 ]* \4 p0 K! ^* M" c6 \6 u3 E. S7 q4 q
现今主流的键合线有铜、银、金、铝等合金线。
) o  |; |5 q: k铝线多用在Pad间隙大,成本低的产品中;/ o1 C6 |9 T/ A& f
高密度键合用的比较早有金线,如今受到成本压力,银合金,铜合金的键合线也已产业化了。0 x* V! s/ D7 t6 y" ~1 e) f) `) h
在此对使用比较多的金、铜线做一个对比,供在方案选型中使用.& P% a6 _# o' M0 d: b
a. 成本:铜线一般只有金线的1/3左右;
0 x/ r$ ^" K+ I% m: q
b.电性能:铜电导率约0.62μΩ/cm),金电导率约0.42(μΩ/cm);
( C& b) V. a9 ?+ q9 c$ x7 uc.热性能:铜导热率约400w/mk,金导热率约300w/mk;
& q" {) s1 g& e' d2 N) U2 U. Pd.机械性能:铜刚度高于金线;
! _1 s( R, N  I8 g7 \" ae.层间化合物:金线与芯片pad之间容易产生Au2Al或AuAl2化合物,也容易产生裂纹;而铜与Al之间的扩散则慢很多;: b, m. h5 T; c/ ~9 o

" g" A* i2 \. w. _, g铜线具有较多的优势,为什么铜线在近期才开始普及.9 f" V9 V% b* E. }- @7 \
主要原因:/ L  u! s) A9 p' `, W
1.铜线容易氧化,在键合时需要额外的环境来保护键合时铜线不被氧化,增强稳定性,目前一般使用氢气还原方法.由此增加设备的改造,及增加危险性.1 ?7 }) y0 n& E* _5 U
2.铜线比金线的硬度要高,在键合时需要更大力度及超声强度去压合,容易在芯片pad的裂损或暗伤,需要修改芯片pad的结构,同时也可以增加pad中的铜成分改善.
8 A$ V# E+ X  w- f7 t. s$ c9 E+ b/ T! r6 m) Q
- A* W8 d' Z5 Q

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2#
发表于 2016-4-25 22:08 | 只看该作者
铜线居多吧~& I; O  |7 u' X# e/ \- l2 ?

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3#
发表于 2016-8-1 22:52 来自手机 | 只看该作者
然后呢然后呢

该用户从未签到

4#
发表于 2017-3-23 14:59 | 只看该作者
未来铜线应该是主流,基于现在工艺设备还有很多使用金线的,目前金线还是主流。

该用户从未签到

6#
发表于 2017-4-14 00:10 | 只看该作者
thank your sharing.
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    8#
    发表于 2024-5-9 15:01 | 只看该作者
    存储类的IC应该还是金线居多吧
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