找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知

电路失效的影响因素分析方法

查看数: 531 | 评论数: 3 | 收藏 1
关灯 | 提示:支持键盘翻页<-左 右->
    组图打开中,请稍候......
发布时间: 2022-8-30 10:20

正文摘要:

在电路板卡的失效根因分析过程中,经过失效机理分析后,一般会采用影响因素验证的方法,对可能引起电路失效的外部和内部原因进行讨论和试验激发,并得到最终的失效原因。其中,电路内部的影响因素通常与部分关键器件 ...

回复

modengxian111 发表于 2022-8-30 15:40
可以快速确定失效器件和模式
瞪郜望源_21 发表于 2022-8-30 15:35
不错不错,很是专业和地道,值得好好学习下
somethingabc 发表于 2022-8-30 13:15
失效分析很有用的
关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-11-24 12:58 , Processed in 0.187500 second(s), 28 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表