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关于PCIE system Si 仿真问题

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发布时间: 2020-11-30 14:56

正文摘要:

1.点到点芯片提取的S参数是否可以用在模版中去验证.因为看起来模版都是基于链路的模块主板加背板加字卡。 & s1 ^( r4 p* G7 Q. O7 b% E2.验证结果差损偏小其他都符合要求,是否可以忽略差损问题。 7 K* W6 p6 Y2 e ...

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dzkcool 发表于 2020-12-1 09:14
手工搭链路,做Mask比对
davidyan 发表于 2020-12-1 09:13
modengxian111 发表于 2020-11-30 19:31:172 a# g1 A! ?4 Q/ h
差值有多少

. w, W% B0 d7 _" }- m4 H; F; z% i+ x
图上应该在两个阴影中间。现在却在上方阴影区域.
  H% L8 Z  i; S5 S% N  G( Y' D; i

“来自电巢APP”

modengxian111 发表于 2020-11-30 19:31
差值有多少
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