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Si衬底LED芯片的封装与制造

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  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-3-9 13:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     引言
    8 R* Y& v( y0 r; i: ^$ }+ X  T
    , A7 L8 z- v8 P  1993年世界上只GaN基蓝色LED问世以来,LED制造技术的发展令人瞩目。目前国际上商品化的GaN基LED均是在蓝宝石衬底或SiC衬底上制造的。但蓝宝石由于硬度高、导电性和导热性差等原因,对后期器件加工和应用带来很多不便,SiC同样存在硬度高且成本昂贵的不足之处,而价格相对便宜的si衬底由于有着优良的导热导电性能和成熟的器件加工工艺等优势,因此Si衬底GaN基LED制造技术受到业界的普遍关注。
    - Q# M, l: W6 @2 W4 g+ }) k5 P" i+ j5 }( }& F* m1 l$ W6 y1 c
      目前日本日亚公司垄断了蓝宝石衬底上GaN基LED技术,美国CREE公司垄断了SiC衬底上GaN基LED技术。因此,研发其他衬底上的GaN基LED生产技术成为国际上的一个热点。, P$ k) J1 p' ^$ {
    5 |! M+ o( t/ M
      1 Si衬底LED芯片制造7 b+ Y7 m0 Y  o  b( ~3 U
    3 i+ @9 \9 B- u( j  y
      1.1 技术路线3 L8 V; s  v0 f! q! n

    % c% ?: v5 O8 F- y) `" N  在si衬底上生长GaN,制作LED蓝光芯片。% B# T  X+ U$ A0 g! a5 m- H! B
    - H3 s  ~; r. g* k- Z9 c& c7 ~0 z
      工艺流程:在si衬底上生长AlN缓冲层→生长n型GaN→生长InGaN多量子阱发光层→生长P型AlGaN层→生长p型GaN层→键合带Ag反光层并形成p型欧姆接触电极→剥离衬底并去除缓冲层→制作n型掺si层的欧姆接触电极→合金→钝化→划片→测试→包装。5 J5 x4 b' x/ R: x0 \  ^+ i

    " \/ B  b& _! }! r& ^' [- I  1.2 主要制造工艺+ b1 S+ y" f$ V! i1 @
    ' m1 p7 y5 E1 _6 R
      从结构图中看出,si衬底芯片为倒装薄膜结构,从下至上依次为背面Au电极、si基板、粘接金属、金属反射镜(P欧姆电极)、GaN外延层、粗化表面和Au电极。这种结构芯片电流垂直分布,衬底热导率高,可靠性高;发光层背面为金属反射镜,表面有粗化结构,取光效率高。$ @& o! Z3 m$ B+ A! }7 m* e

    ' Z! `8 O/ u' q' Y7 Q  1.3 关键技术及创新性. L( a9 L0 [7 f- s
    ) [5 I, c  w7 G! ?& U- b! P: }5 X
      用Si作GaN发光二极管衬底,虽然使LED的制造成本大大降低,也解决了垄断问题,然而与蓝宝石和SiC相比,在Si衬底上生长GaN更为困难,因为这两者之间的热失配和晶格失配更大,si与GaN的热膨胀系数差别也将导致GaN膜出现龟裂,晶格常数差会在GaN外延层中造成高的位错密度;另外si衬底LED还可能因为si与GaN之问有0.5 v的异质势垒而使开启电压升高以及晶体完整性差造成P型掺杂效率低,导致串联电阻增大,还有si吸收可见光会降低LED的外量子效率。
    * ?' C9 Z- ~, h) \1 R9 m% ]! w8 K4 W* O
      因此,针对上述问题,深入研究和采用了发光层位错密度控制技术、化学剥离衬底转移技术、高可靠性高反光特性的P型GaN欧姆电极制备技术及键合技术、高出光效率的外延材料表面粗化技术、衬底图形化技术、优化的垂直结构芯片设计技术,在大量的试验和探索中,解决了许多技术难题,终成功制备出尺寸1 mln×1 mm,350 mA下光输出功率大于380 mW、发光波长451 nm、工作电压3.2 V的蓝色发光芯片,完成课题规定的指标。采用的关键技术及技术创新性有以下几个方面。  [* u5 O5 T, \! W- D" U: B: A
    5 G* y- [; T7 P, Y5 U6 b$ L
      (1)采用多种在线控制技术,降低了外延材料中的刃位错和螺位错,改善了si与CaN两者之间的热失配和晶格失配,解决了GaN单晶膜的龟裂问题,获得了厚度大于4 m的无裂纹GaN外延膜。
    $ E. k5 x" N' c. v7 V8 v3 x' |8 E2 t! A$ p' J/ c: J
      (2)通过引入A1N,A1GaN多层缓冲层,大大缓解了si衬底上外延GaN材料的应力,提高了晶体质量,从而提高了发光效率。
    7 Q' ^& B4 l* Y
    ) y/ l4 @' j  M. \% |  (3)通过优化设计n.GaN层中Si浓度结构及量子阱/垒之间的界面生长条件,减小了芯片的反向漏电流并提高了芯片的抗静电性能。/ A" m: ?- a. `. w% u# Y. E7 r
    6 s8 J( }. Z3 g8 e4 k  i+ t; v
      (4)通过调节P型层镁浓度结构,降低了器件的工作电压;通过优化P型GaN的厚度,改善了芯片的取光效率。
    ' N7 M- g! j2 Q
    $ }( F  t" R% E+ S" z3 S. _+ k8 Z. r" U1 h  (5)通过优化外延层结构及掺杂分布,减小串联电阻,降低工作电压,减少热产生率,提升了LED的工作效率并改善器件的可靠性。
    - O/ b' m! D1 J+ W7 C2 Q/ P( E9 m6 k) t$ T: S* M; A
      (6)采用多层金属结构,同时兼顾欧姆接触、反光特性、粘接特性和可靠性,优化焊接技术,解决了银反射镜与p-GaN粘附不牢且接触电阻大的问题。6 V: {( P+ M4 r2 v5 _9 Q

    : @; U- M& L# X" ^- |9 P# }  (7)优选了多种焊接金属,优化焊接条件,成功获得了GaN薄膜和导电Si基板之间的牢固结合,解决了该过程中产生的裂纹问题。
    1 g+ w4 P9 _: |- W7 s( d/ @* w0 j; f6 J. |! b
      (8)通过湿法和干法相结合的表面粗化,减少了内部全反射和波导效应引起的光损失,提高LED的外量子效率,使器件获得了较高的出光效率。
    9 \) W" x' `8 q# G2 H. X* ~# e! b0 ]/ [- O0 a
      (9)解决了GaN表面粗化深度不够且粗化不均匀的问题,解决了粗化表面清洗不干净的难题并优化了N电极的金属结构,在粗化的N极性n.GaN表面获得了低阻且稳定的欧姆接触。
    . ~' B/ P9 _* r( [3 `- {3 [9 `  e" P: h8 N8 ]7 q7 }: E
      2 Si衬底LED封装技术
    1 k, r  k  q5 p: ?! z
    - G7 e  R/ X  @; d! r* s& M  2.1 技术路线
    / o' }5 X% z3 s
    + J6 `* `6 Q: {8 u+ ~  采用蓝光LED激发YAG/硅酸盐/氮氧化物多基色体系荧光粉,发射黄、绿、红光,合成白光的技术路线。* t+ {$ A% m, f- @5 ~+ }& O

    % H# u4 b1 N9 H4 Q- P8 ~) R  工艺流程:在金属支架/陶瓷支架上装配蓝光LED芯片(导电胶粘结工艺)一键合(金丝球焊工艺)一荧光胶涂覆(自动化图形点胶/自动喷射工艺)一si胶封装(模具灌胶工艺)一切筋一测试一包装。' r- v0 A: n3 V3 j' p6 x* d: A
    " k: V4 a1 p! Q5 @
      2.2 主要封装工艺3 O" C, h! P0 N5 a8 V  T2 n# P5 |
    + P, j, d, ]  G8 {2 _3 L
      Si衬底的功率型GaN基LED封装采用仿流明的支架封装形式,其外形有朗柏型、矩形和双翼型。其制作过程为:使用导热系数较高的194合金金属支架,先将LED芯片粘接在金属支架的反光杯底部,再通过键合工艺将金属引线连接LED芯片与金属支架电极,完成电气连接,用有机封装材料(如si胶)覆盖芯片和电极引线,形成封装保护和光学通道。这种封装对于取光效率、散热性能、加大工作电流密度的设计都是的。其主要特点包括:热阻低(小于10~c/w),可靠性高,封装内部填充稳定的柔性胶凝体,在一40~120 oC范围,不会因温度骤变产生的内应力,使金丝与支架断开,并防止有机封装材料变黄,引线框架也不会因氧化而沾污;优化的封装结构设计使光学效率、外量子效率性能优异
    " y$ P- m; j8 ^1 u$ i  l! l4 m3 y# [! c3 @! h& @4 x
      2.3 关键技术及创新性6 g, w7 y( ~. h: c
    : U# v1 G8 w% E$ K, g, l$ @! M
      功率型LED的热特性直接影响到LED的工作温度、发光效率、发光波长、使用寿命等,现有的si衬底的功率型GaN基LED芯片设计采用了垂直结构来提高芯片的取光效率,改善了芯片的热特性,同时通过增大芯片面积,加大工作电流来提高器件的光电转换效率,从而获得较高的光通量,也因此给功率型LED的封装设计、制造技术带来新的课题。功率LED封装重点是采用有效的散热与不劣化的封装材料解决光衰问题。为达到封装技术要求,在大量的试验和探索中,分析解决相关技术问题,采用的关键技术和创新性有以下几点。# O2 f5 m& t# R4 j6 ?
    3 J+ c# ~" \) Q8 `- G& E  I9 |
      (1)通过设计新型陶瓷封装结构,减少了全反射,使器件获得高取光效率和合适的光学空间分布。
    ' v: x" K% @% `. r) ^( A+ g+ i6 b% s/ X# Z* L5 d! H
      (2)采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,以适合薄膜芯片的封装要求。6 O% Z+ q! w$ L
    + C0 Z- d# S6 Q& T9 t
      (3)采用高导热系数的金属支架,选用导热导电胶粘结芯片,获得低热阻的良好散热通道,使产品光衰≤5% (1 ooo h)。
    " i' Z! N& E6 W1 F8 |# B; u9 N
    ! p1 C- {3 ?2 e  (4)采用高效、高精度的荧光胶配比及喷涂工艺,保证了产品光色参数可控和一致性。
    . L/ m9 f  G4 p$ `8 M) d! A$ b
    % P! o& H3 `7 ]* Q2 A+ `# `( _6 D  (5)多层复合封装,降低了封装应力,实施SSB键合工艺和多段固化制程,提高了产品的可靠性。
    6 u4 I$ \; F% T3 d3 I
    - i- w" J  ?! u3 Y9 N" C3 \  (6)装配保护二极管,使产品ESD静电防护提高到8 000 V。8 Y! w- ^6 ]+ c8 @% Q- e2 ]) C

    ' e) b* K' C( L& Q' y  3 产品测试结果# ?4 H( S* Y: b6 D" I! @
    9 H! `8 R0 S$ j
      3.1 Sl衬底LED芯片
    & V9 v2 z+ d0 A9 m, d8 M) f% _* P; P
      通过优化si衬底表面的处理和缓冲层结构,成功生长出可用于大功率芯片的外延材料。采用Pt电极作为反射镜,成功实现大功率芯片的薄膜转移。采用银作为反射镜,大大提高了反射效率,通过改进反射镜的设计并引入粗化技术,提高了光输出功率。改进了A异反射镜蒸镀前P型GaN表面的清洗工艺和晶片焊接工艺,改善了银反射镜的欧姆接触,量子阱前引入缓冲结构,提高了芯片发光效率,优化量子阱/垒界面生长工艺,发光效率进一步提高,通过改进焊接技术,减少了衬底转移过程中芯片裂纹问题,芯片制备的良率大幅度提高,且可靠性获得改善。通过上述多项技术的应用和改进,成功制备出尺寸1 mmx 1 mm,350 n 下光输出功率大于380 mW的蓝色发光芯片,发光波长451 nnl,工作电压3.2 V,完成课题规定的指标。3 Y# M8 S% B# ^

    2 i( @0 R$ {' T/ I3 h( z, Y; E  3.2 Si衬底LED封装1 A4 [, b& Y1 ?# ^7 B3 v- C0 S% U
    / S' w9 H2 e" J3 ]
      根据LED的光学结构及芯片、封装材料的性能,建立了光学设计模型和软件仿真手段,优化了封装的光学结构设计。通过封装工艺技术改进,减少了光的全反射,提高了产品的取光效率。改进导电胶的点胶工艺方式,并对装片设备工装结构与精度进行了改进,采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,降低了器件热阻,提高了产品散热性能。. G' h  P; P: f. I; l% A

    5 b: [8 J- S; f6 \' T  采用等离子清洗工艺,改善了LED封装界面结合及可靠性。针对照明应用对光源的光色特性的不同要求,研究暖白、日光白、冷白光LED颜色的影响因素:芯片参数、荧光粉性能、配方、用量,并通过改进荧光胶涂覆工艺,提高了功率LED光色参数的控制能力,生产出与照明色域规范对档的产品。蓝光和白光LED封装测试结果见表2。表中:Φ为光通量;K为光效;P为光功率;R为热阻; μ为光衰;I为饱和电流。
    $ E& h- U2 F  t+ ]6 c: q9 D
    6 b; p- f1 \, J  4 结语% U! ?9 I% P# D: f3 ^1 [
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      si衬底的CaN基LED制造技术是国际上第三条LED制造技术路线,是LED三大原创技术之一,与前两条技术路线相比,具有四大优势:& Y& ?  P1 p" b* v6 n% J! F
    + s9 [; _7 z, |, J0 h& F
      ,具有原创技术产权,产品可销往国际市场,不受国际限制。; o( ?) X, A7 }# I3 h% d  z

    2 S! \2 \$ v* q+ }4 P* e( }  第二,具有优良的性能,产品抗静电性能好,寿命长,可承受的电流密度高。
    9 {- V2 ]+ C( K8 M. ~( u' e
    3 J- S0 Z/ V+ Z5 _$ Z; }  第三,器件封装工艺简单,芯片为上下电极,单引线垂直结构,在器件封装时只需单电极引线,简化了封装工艺,节约了封装成本。
    3 e7 D3 m1 h- f% k2 V: I' e$ ?/ |4 U4 L) Q1 X  b! X* A
      第四,由于Si衬底比前两种技术路线使用的蓝宝石和SiC价格便宜得多,而且将来生产效率更高,因此成本低廉。8 C: S3 a  |, y: D& h
    / q6 G( V  A/ k0 A
      经过三年的科技攻关,课题申请发明12项、实用新型7项,该技术成功突破了美国、日本多年在半导体发光芯片(LED)方面的技术壁垒,打破了目前日本日亚公司垄断蓝宝石衬底和美国CREE公司垄断SiC衬底半导体照明技术的局面,形成了蓝宝石、SiC、Si衬底半导体照明技术方案三足鼎立的局面。因此采用si衬底GaN的LED产品的推出,对于促进我国拥有知识产权的半导体LED照明产业的发展有着重大意义。- ]& a0 {0 L! H
    / o7 ]) c; ~8 {  N# M9 e
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    奋斗
    2020-9-8 15:12
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