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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › 硬件设计讨论 › 掉电测试时Flash ROM中的ME数据丢失原因求助大佬！
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楼主: Dc2024122324a
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掉电测试时Flash ROM中的ME数据丢失原因求助大佬！

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超級狗

该用户从未签到
16#
发表于 2024-12-30 13:14 | 只看该作者
超級狗 发表于 2024-12-30 13:103 ]; h4 G: B- D# w; L' M+ X8 n
賽普瑞斯（Cypress）的方案
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瞎密！EOL 了。
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7 f4 F. U2 Y7 F; Z- m( a% R3 d

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超級狗

该用户从未签到
17#
发表于 2024-12-30 13:26 | 只看该作者
本帖最后由 超級狗 于 2024-12-30 14:03 编辑 1 ?* a/ [  d2 k. j% C1 R
超級狗 发表于 2024-12-30 13:14. Z8 W1 o. Q+ K3 l4 L' x
瞎密！EOL 了。
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小芯片（Microchip）有同樣功能的產品叫 Serial EERAM ！
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Serial EERAM | Microchip Technology7 M3 r* n8 g$ U- A5 H: z

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guchenglihua
  • TA的每日心情
    开心
    2025-9-16 15:57

    • 签到天数: 242 天

    [LV.8]以坛为家I
    18#
    发表于 2024-12-30 15:15 | 只看该作者
    这种供电方式是非常不合理的，你还费尽心思去验证一个不合理的供电电源，还不如想想如果去设计一个个合理的电源切换电路。flash电压不对去读写特别是写是很容易出问题的，具体你精确到单个存储单元的工作原理就知道原因了。

    点评

    谢谢分享！: 5.0
    超級狗
    谢谢分享！: 5
    都是為了生活，被調去支援破死雞（POS）部門兩年，就忍一忍唄！^_^  发表于 2024-12-30 15:45

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