车载USB charger, 30M到245M传导辐射超标12dB

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! R) D9 D. s- k" r0 R  T5 k; A! s" ^傳導發射（Conducted Emission）顧名思義就是從纜線（Cable）上散發出來的雜訊干擾，又可分為電源線（Power Line）和訊號線（Signal Line）兩種。

+ a6 Y0 g7 g( \3 O  Q$ q& T7 V  P# dLISN（Line Impedance Stablization Network）
量測從電源線（市電）散發出來的雜訊干擾。

ISN（Impedance Stablization Network）
0 P; k6 x1 Q/ L+ S; n. |* S$ Q0 ~/ K量測從訊號線（Signal Line）散發出來的雜訊干擾，通常是電話（PSTN）線或乙太網路（Ethernet）線。
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量測方式
電源線（Power Line）或訊號線（Signal Line）會經過一個 CDN（Coupling / Decouping Network）的電路盒子，將雜訊取出至頻譜分析儀進行量測。當ˋ然 LISN 和 ISN 使用的 CDN（Coupling / Decouping Network）會是不一樣的型號及電路！


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敲字快累死我了！

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HC2 Conducted Emission Debug 建議

看了一下電路，覺得比較可疑的是創惟科技（Genesys）USBSD Card Reader Controller GL835。因為它內建 12MHz 振盪電路。201MHz 有可能是 SD Card 讀寫造成的，它剛好約略是 25MHz 或 50MHz 的倍頻。33MHz 我比較不解，但有可能是 GL852 內部 12MHz 利用 PLL 升頻，產生 33MHz 給裏面 MCU 使用的時脈。
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* c3 k# c/ m' H) K+ K, b

先釐清干擾來源

依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。

• 先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否還會超標。
• 停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否還會超標。
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! K- k. ~. _1 d8 x. l如果如預期傳導發射（Conducted Emission）干擾沒了，那就是創惟科技（Genesys）USBSD Card Reader Controller GL835 造成的影響。
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修改建議

• 創惟科技（Genesys）USB SD Card Reader Controller GL835 支援展頻（Spread Spectrum）功能，請檢查有沒有被開啟。如果沒有、就把它開啟，展頻（Spread Spectrum）有助於抑制電磁干擾。
• 簡單來說傳導發射（Conducted Emission）就是電源上的擾動在纜線上作怪，可以在加大 C25 和 C26 看看。上次我們的案例是在 C26 多併一顆 100μF 的電解電容。
• L3 共模線圈（Common Choke）我看不清楚型號，但可以檢查規格上的阻抗值，可以換高一點的型號試試看。上次我們的案例也是共模線圈（Common Choke）的阻抗值由 470Ω 提高到 1KΩ 才過的。而且阻抗高點越接近 200MHz 越好，因為在 201MHz 恰巧也有一個干擾存在。參考附圖，上次我們用的 CK07102CR 1KΩ 阻抗值看起來就不錯。
• 創惟科技（Genesys）USB SD Card Reader Controller GL835 3.3V 電源輸入或其 LDO 電源輸入端，可以考慮串磁珠（Bead）。不過這個會動到線路佈局（PCB Layout），留待都沒辦法時再當最後手段。
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" ?1 H0 \: {# \* a0 U* B
樓主：
) P& p) l3 E$ R# h& d' X1 v! h7 Q我今天在實驗室想到一個問題，33MHz 有可能是 Intel 電腦系統的基本頻率，201MHz 約略是 6 倍頻。所以我們應該先確定這些傳導發射（Conducted Emission），是不是來自於陪測的電腦，而不是從你的板子出來的。
1 @/ K* n8 t# ~( o3 b9 \0 Z0 D
因為主芯片是讀卡機功能，所以我猜想測試時，ˊ可能會接到一部桌機（Desktop）或筆電（Ｎotebook）來做讀寫。

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• 如果是筆電（Ｎotebook），請嘗試使用電池供電，而不要接適配器。前一個計劃發現單純用電池供電，陪測電腦帶出來的雜訊小很多。
• 另一個方法是，在這條纜線的末端銲上一個 USB 母座，插 U 盤、讀寫下進行測試。如果不接你的板子依然可以量到這些雜訊，間接也可以證明這些雜訊不是你的板子來的，而是陪測電腦產生。我們前一個計劃，也是利用純電阻負載，證明某個頻率的雜訊不是我們板子產生的。
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  f. t- w! U) E如果能證明雜訊不是來自待測物，且又找不到適合的電腦陪測。我們的認證ˋ實驗室，是允許報告上排除這些干擾頻率的！

3 c$ P  v, C. Y- F$ I$ c3 h. S給您作為參考！

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DC LISIN
和 AC LISIN 的道理相同，都是電源上的擾動造成的。


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爛公司的教育訓練 - 電磁相容 EMC
( }  x" ?. O: B# P0 ?: F

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各種電學 dB 相關單位互換關係
2 ^0 e7 Y9 {6 {  @
dB 是兩個值對比，沒有單位。
$ q/ @! [! K! l' P& e: n' D
4 N2 y; b7 S5 x: @, o  U有點像是說 A 是 B 的三倍，類似這樣的敘述。

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各種電學單位計算表

9 Q1 `! L6 V0 b7 Y9 G

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• 我的 Host 不是笔电、 更不是桌机。 外形有点像 Mac mini 车载专用的 Host。 接口个数多且形状独特，有点像早年桌机的 PS/2。
  就是類似工業電腦的主機，敝爛公司也做這東西。
• 有无可能底噪就在门限附近，一经我的系统稍微抬一点就超标？
  1 |2 [; w6 Y2 p! f8 o, s可能！尤其是不當的纜線，可能讓雜訊又飆高很多 dB。
• 我的 Host 是我的客人指定的，我换不了其它。 我问过客人了， 他们也不清楚自己的底噪是多少。
  4 K0 U/ D1 v9 n! Q, U4 {所以更要確定雜訊是不是主機帶出來的。
  " h% e2 ]: k4 r" a/ S如果你只是要認證你的板子，可以和實驗室討論用筆電驗證讀卡機，USB 充電埠就接純電阻負載。
  4 v9 ]4 B3 W& J/ o" J/ u% e9 J如果你必須搭配客戶的板子一起認證，那更要釐清雜訊是誰出來的。
  所以 DC LISN 是在你和主機間的接線量測的嗎？纜線中有 12V 電源和 USB D+/D-？
  
  
  
  " E' q* p9 m* p! J# f+ h0 b0 X+ k

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纜線可以考慮纏繞磁環（Ferrite Core）擋擋看！

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* K3 L6 n# R2 B1 O6 Z6 V4 H2 J" X

• 我的实验用的是电流法，选择了 50mm 及 750mm 两个位置放置电流感应圈，这个距离是否有讲究。可否自行选择， 往哪边移会对结果好一些？
  . R& T  a5 R+ P/ ]3 V2 c: D車載的規定沒做過，我不是很清楚。但如果是電流感應線圈，應該是沒影響，因為整條線的電流應該是一樣的。
• 如果我的 Cable 里，即有电源线、也有 USB 的线、该怎么办？一起测? 还是分开测？
  . ?1 v& s0 c9 R* T就我的認知 LISIN 是測電源線（Power Line），ISN 是測訊號線（Signal Line），具體的狀況就看實驗室的設置。但據我所知，USB 應該是沒有 CDN（Coupling / Decoupling Network）可以擷取線上雜訊來量測的，所以他們應該只有量測電源線（Power Line）。
• 实验的连接 拓朴是这样的  Batt-_-_-_-_-_-_- (Host + My device's Power port)-_-_-_-_-_-(Ipad + My device's USB port)  备注上, 下两线, 表示有两跟/两种线)。也就是说, 我的 Device 同时连接电池与 Host 的电源输入及 Host 的电源及 USB 输出. 我如何能知道，这个噪声来自哪个方向？可能是我的 DC/DC 引起的, 也可能是 Host 输出的呢？如何排除噪音不是来自 Host？
  9 |  G( c4 q6 B. `+ K所以必須要有我所描述的一些手法，例如純電阻負載，或是想辦法接其他裝置。若依然有這些干擾，就表示這些雜訊不是你的待測物產生的。
  ) l* t9 ?! M; a: l你的 Charger 或 DC/DC 主頻都只有數百 KHz，15 倍頻都到不了 33MHz，所以我會說這些頻率有可能不是來自於你的待測物。
• 楼下某层，版主说只超出了 33MHz 和 201MHz 两个点。
  應該是我的習慣造成的，通常我是看最嚴重的點，而這些地方會優先抑制。其他點也有可能你下了對策後會跟著下降，到時候再解下一個順位。
• 为何只有两个点呢, 我看到的是 4 个点? 且 Limit Line 有 2 条，我该如何阅读呢？只看 Peak 吗？AVG 可以不处理吗？
  8 ^' o% l8 r% {- Z傳導發射（Conducted Emission）同時看兩種界限，兩種值超標都需要處理，但通常壓下來其中一個也會降低另一個。測報下面的表列會標註是 Peak 還是 Average，Margin 是指超標了多少，-3dB 表示 Under Limit 3dB，+3dB 表示 Over Limit 3 dB。
• 如何确认一个频点是另一个频点的‘倍频呢？特别是在数值上？不是整数倍的时候？这个倍频为何会跑偏呢？容差多少？可以视为倍频？
  3 H( ?! R( h4 _/ U) q: K頻譜分析儀由於解析度（Resolution）的問題不會非常精準，而測試因為時間的關係，儀器也不會設到很小的解析度（Resolution）。通常一除下來有 2.9 ~ 2.99 我就認為是 3 倍頻了。有些頻率是由鎖相迴路（PLL）倍頻而來的，通常他也會有點差距，不會剛好是整數倍。
  5 b- y) k- E, b7 {201MHz / 33MHz = 6.09
  

2 o" r5 K5 g9 b! X; g5 y

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% m# ^; m* X% x如果你把自己板子上的功能都停掉，還會有干擾的話，就有極大的可能是來自於陪測物。
6 F- h. @* C7 _1 S  ]' a

先釐清干擾來源

依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。

• 先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否有改善。測試時 USB Port 有接東西嗎？因為傳導發射（Conducted Emission）來自於電源的擾動，如果上面有 1A 的大負載（舉例），很有可能是主要原因，但不一定是你的待測物（DUT）出來的。前一個案子就是 PoE 上加了 1.2A 的純電阻負載，電源 PoE Injector 就會出現 478KHz 超標的雜訊。是我們的板子造成的，但不是我們的板子出來的。
• 停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否有改善。
  

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Quantum_

“依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。
先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否有改善。測試時 USB Port 有接東西嗎？因為傳導發射（Conducted Emission）來自於電源的擾動，如果上面有 1A 的大負載（舉例），很有可能是主要原因，但不一定是你的待測物（DUT）出來的。前一個案子就是 PoE 上加了 1.2A 的純電阻負載，電源 PoE Injector 就會出現 478KHz 超標的雜訊。
停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否有改善。”

上周五已经安排同事去做实验了.
. x, n! e, F0 \0 w. a% Y! B1 y4 p也是新人去实验, 没有听明白我的意思. 基本上, 实验没有得出可靠的结果.
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  d) Z' j+ N/ ?. g) ?' A% X总体感觉与SD卡, 似乎关系不大, SD卡工作与否, 对测试结果影响不显著.
6 ^0 W6 |/ O4 ^, Z反而是7.5W的USB port对测试结果影响较大. (我没有亲自去, 也可能是实验没有做好, 测试结果也还没有发给我, 明天整理一下, 再更新)
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“是我们的板了造成的, 但不是我们的板子出来的”
以上这句, 不太理解.
1 N9 U7 x: ?: R
我们这的实验室好难约, 一星期就给2个小时.
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是我们的板了造成的，但不是我们的板子出来的，以上这句不太理解。
, h6 i) i* q- d3 s板子的負載造成 PoE Injector 的 Noise 變大，我們的狀況跟你們類似，有一個外接電源 12V 必須有 1A 的輸出，所以測試時實驗要求我們在這個輸出加上 1A 的負ˋ載。
後來我們不接板子，接了一個 1.2A 的純電阻負載，照常出現這個雜訊，而且大小一模一樣。不接我們的板子都還有，那就不會是我們板子產生出來的。

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2 v6 Z$ l- f0 o* {" Z% u6 w( M" J
; k3 X/ R$ X, Q9 C- v# l# E% c上周五已经安排同事去做实验了，也是新人去实验，没有听明白我的意思。 基本上，实验没有得出可靠的结果。
看來您也是主管，我覺得你該親自去，爛公司都是我帶新人去實驗室的。
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' T* u+ l' w+ k; V" L從 CISPR 25 傳導發射（Conducted Emission）量測設置圖來看，電流感應器應該只有量測電源線，實際情況要現場看他們的接法。
. t& [2 V3 P7 o) T. G# v' h
. }/ V2 Z) c8 C) C8 s實驗室的接法和法規不一樣，通常我們會提出質疑的。
- _5 G! j3 l) A- j. X. O
CISPR 25 使用電流感應器的作法，有別於 EN55032 使用 CDN（Coupling and Decoupling Network）擷取的方式。

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