本帖最后由 超級狗 于 2023-11-30 20:21 编辑 ' y" p: g) e, U0 j
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HC2 Conducted Emission Debug 建議 $ k) A/ f$ {/ }
看了一下電路,覺得比較可疑的是創惟科技(Genesys)USBSD Card Reader Controller GL835。因為它內建 12MHz 振盪電路。201MHz 有可能是 SD Card 讀寫造成的,它剛好約略是 25MHz 或 50MHz 的倍頻。33MHz 我比較不解,但有可能是 GL852 內部 12MHz 利用 PLL 升頻,產生 33MHz 給裏面 MCU 使用的時脈。
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* c3 k# c/ m' H) K+ K, b先釐清干擾來源 依照我的推斷,測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載,然後 SD Card 做讀寫。 - 先移除 USB 充電埠負載,看測試結果是否還會超標。
- 停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡,看測試結果是否還會超標。
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! K- k. ~. _1 d8 x. l如果如預期傳導發射(Conducted Emission)干擾沒了,那就是創惟科技(Genesys)USBSD Card Reader Controller GL835 造成的影響。
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: S6 V# Q A5 @ v9 p. P修改建議 - 創惟科技(Genesys)USB SD Card Reader Controller GL835 支援展頻(Spread Spectrum)功能,請檢查有沒有被開啟。如果沒有、就把它開啟,展頻(Spread Spectrum)有助於抑制電磁干擾。
- 簡單來說傳導發射(Conducted Emission)就是電源上的擾動在纜線上作怪,可以在加大 C25 和 C26 看看。上次我們的案例是在 C26 多併一顆 100μF 的電解電容。
- L3 共模線圈(Common Choke)我看不清楚型號,但可以檢查規格上的阻抗值,可以換高一點的型號試試看。上次我們的案例也是共模線圈(Common Choke)的阻抗值由 470Ω 提高到 1KΩ 才過的。而且阻抗高點越接近 200MHz 越好,因為在 201MHz 恰巧也有一個干擾存在。參考附圖,上次我們用的 CK07102CR 1KΩ 阻抗值看起來就不錯。
- 創惟科技(Genesys)USB SD Card Reader Controller GL835 3.3V 電源輸入或其 LDO 電源輸入端,可以考慮串磁珠(Bead)。不過這個會動到線路佈局(PCB Layout),留待都沒辦法時再當最後手段。
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