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本帖最后由 yoursilf 于 2022-11-11 10:03 编辑
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. ~: W/ A$ Z @; S" L( y一、现象描述在PCBA组装过程中发现PCB有断线缺陷,常见的主要表现有下述几种形式。1.残液腐蚀导致的通孔开路特征:多数的通孔在通孔内壁变黑的同时,下侧的内壁也被腐蚀而无铜,大多数发生在组装过程中或长期保存过程中,如图1和图2所示。/ K$ W# x4 i n; \: G9 }$ d8 Q
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% S8 t% C% m6 K+ ^. A2 V6 {图1 断裂壁局部图 1 G, _+ o0 G& y, Q
图2 被残液腐蚀的通孔 0 B/ c0 V- ~; _
2.层间剥离导致的通孔开路特征:随着PCB基板内部的层间剥离而出现的通孔开路,如图3所示。
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) H I% J$ v6 l% K图3 层间剥离导致的通孔开路
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, f3 Y# Q! `. ^5 ?7 f" g" Y4 I3.玷污导致的盲孔开路特征:盲孔的镀层和盲孔连接盘之间存在树脂或其他污物,导致接触不良而开路,如图4所示。8 }* W, {- J1 e$ _! r ~
- Y7 k. U+ }$ H. F' I图4 玷污导致的盲孔开路
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4.焊料熔蚀导致的开路特征:PCB的铜层非常薄,每逢热风整平工艺或波峰焊接时铜导线就会被熔蚀从而开路,如图5所示。
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4 o4 Z u" T! z- p图5 被焊料熔蚀了的铜导线
% J3 K7 i( Q% g7 t5 J4 s) q: d5.静电损伤疑似断路特征:三角形伤痕较深,前端稍微连接着的部位断开形成开路,如图6所示。7 M& Z- |9 \8 o0 |
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图6 静电损伤疑似断路 + ?) T2 y9 ^5 Q/ D5 ]
二、形成机理6 x1 X [( r& k+ L
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1.残液腐蚀导致的通孔开路在PCB制造过程中残留的蚀液没有被清除干净,封闭在通孔内,长期地腐蚀通孔的内壁,从而引起通孔开路。5 t+ L: U2 h, s, s, C9 ^# U
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& u& t/ R& ?5 ?, c: Y+ I- y/ I2.层间剥离导致的通孔开路(1)PCB基材吸潮。(2)HASL工艺温度过高或时间过长。(3)PCBA组装再流焊接时峰值温度过高或在峰值温度下浸泡时间过长。
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3.玷污导致的盲孔开路采用积层工艺制作多层板,在激光钻孔时清除玷污不完全,使树脂残留在盲孔的连接盘上,从而导致盲孔开路。6 e' w7 G5 h8 B% u
" s( I! i$ k1 Z& D/ Q E4.焊料熔蚀导致的开路此现象通常发生在HASL工序或波峰焊接工序。由于基板上设计的铜导线厚度过薄或导线宽度过于纤细,在焊接的高温下,熔融的焊料对Cu的熔蚀作用将使铜导线变得更薄、更纤细,在PCBA使用过程中一旦受应力作用便会断裂而开路。. M; w1 z3 ?2 \5 h
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4 }: o* C1 X- w- \5.静电损伤疑似断路形成原因:图6是静电破坏出现的特有的三角形伤痕,尖端稍微连接,一旦受某种应力作用就会断开,从而引起断路。
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8 I0 {. T) u" `, W% \7 G三、解决措施
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7 H$ D& B2 L8 {% r: ?- ]1.残液腐蚀导致的通孔开路。向供应商反馈,加强对PCB制造过程中的质量监控。8 h) H0 X! w; h- T. B
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9 F4 s4 \' J8 @) L7 z9 Q7 g0 u& ]$ q2.层间剥离导致的通孔开路。① 在PCB基板制造过程中加强防潮措施,严格监控HASL工艺参数(温度和时间)。② 在组装过程中注意PCB的防潮,并选择合适的再流焊接峰值温度及在峰值温度下的浸泡时间,避免温度过高或时间过长。
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3.玷污导致的盲孔开路。PCB制造厂商应加强对PCB制造工艺过程和质量的监管和控制。
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4 a/ P/ P3 `- }4.焊料熔蚀导致的开路。① 布线设计时应避免采用过薄、过细的铜导线。② 执行HASL和波峰焊接工艺时,应加强对操作温度和时间的管控,切忌操作温度过高和操作时间过长。$ w4 M) ?5 {+ W, H
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5.静电损伤疑似断路。在PCB制造、存储、运输及组装过程中都要执行严密的静电防护措施,严防静电损伤。
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