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本帖最后由 EDADZE365 于 2022-7-25 10:42 编辑
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兴森科技做为国内规模前列的样板、快件和小批量板的设计、制造服务商, 2000年进入光模块PCB领域,2010年批量生产10G光电板,2013年实现耐MFG系列光电板的思科认证及量产,2017年交付了2阶HDI加埋铜的400G QSFP-DD光电板,计划明年上半年批量出货SLP(Substrate-like PCB 类载板)设计的光电板以及光模块的IC载板。 2 @7 n; Z, }/ a2 t: ^# T
光电板产品线自成立以来,销售额每年稳定增长,与光模块行业内的Top级客户群体建立了合作。目前出货产品覆盖800G以下除相干设计的光模块需求,同时可提供单通道最高112G的高速光模块设计、仿真的解决方案。服务的光模块客户群体超百家,月综合产能超6000平,用主流QSFP28的大小折算,每月可产超7KK pcs的光模块PCB。 兴森科技三大技术方向
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2.1 光模块PCB的设计流程及要点 ( ~+ b. [! ^8 O# H$ P9 V
如下图所示。兴森设计的高速光模块PCB是基于市场上主流的Inphi PAM4 DSP芯片平台。设计过的产品包括50G-800G光模块PCB。 PCB设计流程
% e2 L2 V! @# k8 z& i+ ]规范协议:需充分理解光模块MSA多源协议 及其他通用协议的要求,例如金手指的Pin定义和尺寸、光模块的功耗要求,等等。 ' ]& i, E5 I i0 ?
资料导入:需导入原理图、器件资料(用以建立器件封装库)、DXF格式的结构图,以及信号速率、电源电流大小等特殊要求。结构导入后,需仔细核实尺寸、器件定位、限高、禁布区、安装孔、顶视图和底视图等,并绘制板框。
4 j, K2 W9 S& T% _: w2 m9 }布局设计:按照信号流向、结构和禁布区要求等进行整体布局设计。首先需关注DSP封装(例0.5pitch BGA)和光芯片COB封装(Chip on Board),及其散热要求。其次,阻容感常会用到0201小型封装以提高布局密度,最小焊盘间距按照8mil设计。另外,还需关注DSP和COB的高速出线。最后,需综合高速信号完整性、电源完整性、可靠性的要求对整体布局调整优化。
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400G光模块整体布局示意图
+ h9 f3 E* m( k; n* D7 Z; d层叠规划:根据差分线的最高速率选择板材,低成本方案可考虑混压。400G光电板走线空间有限,常有多阶HDI的设计,需要较薄的PP片进行层叠以便激光孔制作,但用太多较薄的PP片会导致介质厚度不足,可能导致走线阻抗无法达到100欧姆的要求。从而需综合评估叠层的设计。
/ E- a; }& n$ {PCB层叠设计示意图 , k$ H' b+ j1 x# i5 S8 q
布线设计——高速差分线 设计要点: (1) 高速线走HDI或无孔stub设计,按照仿真做挖反焊盘处理。 (2)金手指盘下方以及AC电容下方做挖空处理,以消除寄生电容,保持阻抗连续。 (3)高速线通常通过不盖油处理来降低插入损耗,但不盖油可能出现差分线划伤的问题导致阻抗突变。 (4)差分线两边可设计栅栏孔减少串扰。 ( e9 ~$ M7 a6 c( E3 o% X0 s, z
高速差分线设计示意
+ |2 ] I4 \1 A2 R D2 T布线设计——电源线 设计要点: (1)金手指电源/地互连尽量多打孔; (2)电源模块靠近DSP放置,过孔数量和铺铜宽度满足载流要求; (3)DSP滤波电容回路尽量短。 `! ^1 b7 Y2 s: |7 \/ H
检查优化:常规项skill一键检查,并进行QA自检和互检。 & S+ U+ g( i; h6 r
光绘输出:检查无误后,点击输出光绘文件以及钻孔文件。
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400G光模块PCB的设计挑战在于: (1)阻抗控制与叠层设计息息相关,常见的光电板信号都是控制差分阻抗100欧姆。介质太薄会导致阻抗达不到100欧姆。 (2)分段金手指意味着有8对高速差分线需要从内层走线。 (3)满足56Gbps信号完整性的同时需要满足协议对插损和回损的要求。 (4)主流光电板的板厚基本都是1mm,层数有限制;尺寸较小,高密布局有挑战。 (5)COB光芯片 需要密集的邦定盘设计,并导致全板采用镍钯金表面处理。 (6)DSP的应用:使光模块的传输速率大幅提高,但同时也带来了散热和芯片尺寸太大的问题,增加了整体布局难度。 2 i! i$ P0 c( H9 t6 F1 \
400G光模块PCB的设计挑战 ' n# Q+ J( k4 G }$ U( x
$ |8 B6 p c( k5 B! g: U5 Q光模块PCB的高速仿真% a3 t/ S6 `3 t- X, F2 w/ _
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高速光模块PCB的高速仿真流程如下图所示。
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PCB高速仿真流程
) P* _, v8 Z8 V2 N c1 p2 M8 c E光模块PCB TDR仿真:如下图,主要针对从金手指到DSP,DSP到TIA和Driver的传输链路,仿真数据需满足协议要求的插入损耗和回波损耗要求。PCB的阻抗一致性仿真主要是针对金手指、AC电容、过孔、器件焊盘等阻抗不连续点。
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400G光模块PCB高速链路图
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OIF CEI-56G-VSR-PAM4的插损和回损要求
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- C D# F& a5 T' _5 k. k2 c9 o$ @6 B光模块PCB频域仿真:如下图,插入损耗和回波损耗需满足协议要求。 2 V" W, O( O+ Q% U% n" l
光模块PCB频域仿真示意
2 K! z0 l% R6 b- T( P最终检查仿真得出的眼图,看看“眼睛”张得是否够大,各项参数是否达标。 ' \' a% @& a& a/ _9 N9 e' B% T& x. G7 h
56Gbps PAM4眼图 % c' X* ~5 u$ \( f" x9 ?% m
光模块PCB高速仿真总结如下
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光模块PCB高速仿真总结 0 F( s( _- O! j- j# O6 T9 k& u5 V
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对于400G光模块PCB而言,有5大工艺挑战:图形精度、全板镍钯金、多阶HDI、精密外形、阻抗控制。由9大工序组成的复杂工艺流程,实现其制作。
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400G光模块PCB 工艺挑战
, u; L. J6 I6 y$ m, n4.1 多阶HDI: 金手指带来的多阶HDI孔互连设计,对PCB层间对位精度和填孔的凹陷度提出了更高的要求.兴森采用镭射加工抓取N-1层靶标,采用C02+UV双激光头的镭射钻机实现直接镭射钻孔,再加上LDI制作线路,完全可以确保盲孔堆叠±1mil的对位精度。激光钻孔后会经过等离子清洗,最后采用VCP垂直连续电镀填孔,将盲孔进行电镀填平,从而确保产品质量的稳定性。
3 ?# f0 V# J% z" R$ p6 |兴森科技HDI切片图
2 G2 F! f- s; Y+ q) d4.2图形精度 :兴森通过LDI专用干膜,可以实现显影后2/2mil的线宽线距能力;加上高精度LDI曝光机,对位精度可以达到±0.5mil和±3um的边缘粗糙度。最后采用真空蚀刻机,拥有≧95%的蚀刻均匀性和≧4(1OZ其铜)的蚀刻因子。最终实现7.8mil Pitch邦定盘的批量生产。
6 a6 p. G3 T, P }7 h4.3全板镍钯金:采用此工艺可同时满足金手指插拔和COB打线的可靠性需求。 6 d( L& v1 J1 o5 I
(1)化学镍钯金表面处理:主要工艺流程是除油—微蚀—预浸—活化—沉镍—沉钯—沉金。可以满足钯厚0.05-0.6um的产品要求。月产能可达5000㎡/月。
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% g; M, \ Q; Q" b: c化学镍钯金表面处理 7 ^8 ]" d: U0 ?6 X; A
(2)邦定盘测试:除了焊盘污染、图形精度、镀层厚度等常规测试,兴森还可以开展平整度和邦定强度测试。
1 S) g' [# m' \0 vA、平整度测试:兴森测试中心配备有光学轮廓测试仪,分辨率为0.1nm,能对邦定区域的镀层进行粗糙度测试,确认镀层平整度。研究表明,当焊盘表面粗糙度Rq(表面轮廓根均方偏差Rq)达到0.68时,键合拉力和合格率就会明显下降,并导致键合不良。 , a4 s6 l" m. a {! r
平整度测试
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3 _" x. w. K5 I6 ~B、邦定强度测试:在选择一组样品进行20个点的打线测试,然后针对打线会做拉力和推力测试,只有三项测试都通过了,才能说明镍钯金邦定盘打线能力可靠性通过。 " G& R: `; O3 h5 ~
邦定强度测试
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4.4 阻抗控制:高速传输线的阻抗匹配控制有非常高的要求。阻抗匹配控制,除了高速材料选用,在生产过程中需控制线宽精度、铜厚均匀性、介厚均匀性、STUB、铜面粗糙度,这是通过对层压、电镀和蚀刻工序进行联合管控来实现的。层压工序中,兴森的全自动压机可实现 上下料、取放料、热压、冷压全自动完成,具有良好的厚度和平整度控制能力。
. C) | b4 ?, g& D7 z3 [阻抗控制) R, p1 q7 o4 t! F7 J! K* I
; I7 p: t, [% S+ K* M" `4.5 精密外形控制:QSFP-DD MSA协议要求金手指到边公差2mil。兴森通过高精度LDI曝光机,再加上外形定位精度为±5um和加工精度±50um的高精度CCD锣机,可以轻松实现客户的公差要求。
) F& V1 ]/ D- [3 T& C精密外形控制
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众所周知,为了保障光模块PCB质量,需要设计+制造+测试+人员+环境共同构筑稳定的质量体系。对于光模块PCB,需要开展如下表所示意的多项常规测试。
7 Y6 y% }' E+ L0 r$ H光模块PCB质量主要检测项目
* `6 n7 e' i6 ]针对高速光模块多阶HDI PCB的情况,本文专门介绍阻抗和IST测试这两个项目。 1 d0 i" f5 v5 W9 C& p' X
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兴森实验室配备有50GHz和67GHz的四端口网络分析仪,能进行阻抗和损耗测试。由于400G光模块一般面积比较小,线也不是很长,达不到IPC标准对于线长的要求,因此往往是对板边的阻抗测试样片(COUPON)进行测试,甚至会提供阻抗条给客户进行同步比对测试。测试结果需满足设计要求。 ; w2 Q8 E9 A$ g
PCB阻抗测试 7 ]6 D. I+ R0 A7 F, }8 {7 M* d' c
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400G光模块主要用了高速材料和HDI设计,导通可靠性是这种设计的关键指标之一,决定了产品的使用寿命。传统的导通可靠性试验是通过气相或者液相温度冲击来进行测试,但测试时间很长,一个循环要半个小时,200次循环需要4天的时间,1000次循环就需要20多天,不利于产品可靠性能的及时评估。
4 G! P( n9 j* Z& jIST测试* W* p/ U6 m" V2 c: Z' u/ I
; ^) x- y% q8 h: R7 y, s1 u. o做为一种替代的测试项目,按照IPC-TM-650 2.6.26的要求,IST测试属于一种更快速的温度冲击测试,其优势在于单循环测试时长仅为5min,一般做250循环不到1天就可以得到可靠性结果,是传统测试效率的6倍;另外其高温段可以达到260℃。 4 P' h( P) O5 _; N
它的试验原理是对测试条的电源端施加稳态电流,菊花链设计的电路在稳态电流作用下快速发热,并对模块的感应端进行加热。在加热过程中同时监控测试条的电源端和感应端的电阻变化,当阻值变化≥10%即视为失效。 7 m0 Z. z* i# B" Y
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兴森科技做为国内规模前列的样板、快件和小批量板的设计、制造服务商,光模块PCB已经有12年的历史,2017年就交付了2阶HDI加埋铜的400G QSFP-DD光电板。可以为客户提供 PCB设计-高速仿真-制造-测试 的完整光模块PCB解决方案。 ! r9 i5 N+ u2 U2 j- F' C
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