微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

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摘[size=8.83019pt]要： [size=8.83019pt]针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究，根据其表面等效辐射源形式的不同，设计了不
/ Q* O4 j# V# L( ^. |6 |) i0 g同的检测方法，并提出了相应的实验测试方案．其中，综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相
干源的情况；数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况；物理透镜成像的方法适用于表面等效
辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况．
6 s; E$ ^0 E7 s4 `# B关键词： 电磁泄漏；微波设备；成像；综合孔径；数字透镜；物理透镜
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5 ^( V( Z1 J9 S- P9 @( Y: C' r$ j+ Q随着航天技术及信息技术的发展，航天器所携带的
) r# F. e/ x. U1 v# L* B7 ?0 o" R微波设备日趋复杂，其链路中的微波信号会通过线缆耦
合、接头泄漏或天线旁瓣等途径辐射到外界空间中去．
航天器系统为了抑制这类辐射，会采用壳体将各种设备
; H6 O1 o4 ~/ @5 a5 R封闭起来．然而为了安装星表设备或保障星体内外设
! ]* z% v9 x! F& ]备，总会在这些壳体上切割一些小孔作为安装孔及线缆
  Y% K3 `2 l3 y1 i. M, x+ d( ]5 }; y进出的路径．由于这些小孔的存在，使得微波设备表面
  U. X9 J' G3 t- ]4 s" R壳体的电磁屏蔽特性受到破坏，造成设备内部的电磁信
号泄漏出去，对周围电磁设备形成干扰，从而引起电磁
9 Z: x0 k# G; K& M- P' w兼容性问题．因此需要在航天器出厂前对其所携带微波
. c0 Z5 m2 v/ K! b, {3 @& |设备的电磁辐射情况进行了解，检测其电磁泄漏情况，
: e; E$ W- i+ \+ `并能够对造成电磁泄漏的小孔进行定位，从而采取相应
+ t2 \" a8 u9 l& }) A" a0 K3 f的改进措施．

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非相干源、相干源和部分相干源