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片上网络路由器的测试及其外壳旁路故障的诊断
$ p" F) V" f6 |6 \/ j摘要:目前采用IEEE 1500测试外壳的方法可以一定程度上解决NoC(Netword on Chip)路由器测试的问题，但当测试外壳的旁路出现一个以上的故障时,很可能导致一整条扫描链上的NoC路由器测试失败.针对该问题,本文通过提出一个深度优先最短路径算法得到从固定的扫描输入端到扫描输出端的最短路径,并通过提出的递归划分逐步求精法对路径进行筛选分块排序,构造多条扫描测试链将整个网络中的路由器分开测试.本文给出了测试外壳旁路故障的诊断和容错方法,使用节点分类测试方法实现对NoC路由器旁路故障的定位,并通过本文提出的测试外壳结构实现对故障旁路的容错.- T: I: A8 y( {6 q3 \7 M; v1 O
关键词:旁路故障;诊断;片上网络;测试外壳
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1引言# g9 i: I* l8 c/ U9 D& u6 e1 P/ U
SoC( System on Chip)是现代集成电路设计中,代替由多芯片组成印刷电路板的具有完整系统功能的芯片.随着芯片上集成越来越多的核,片上通信效率已成为决定全局系统性能和成本的关键因素.
7 h! h/ m B1 J% b1 D# D1 e1 |当SoC的规模变得越来越庞大时,存在着通信架构的可扩展性和可复用性差等问题.为此引入片上网络NoC( Netword on Chip),它是基于分组交换网络的互连架构,采用全局异步局部同步机制,可以克服传统SoC的瓶颈集成更多的芯核1~3].
7 e" G& B: x' a/ s故障诊断是为隔离故障而设计的.诊断指的是对故障位置的识别,确定应当被替换的故障部件.理想的故障诊断能够精确地确定故障部件并提供最有效的修理.系统级诊断能够识别出故障电路板,然后进行修理4..
# a$ T7 Y0 X2 Q- [) ?+ X6 {7 f: t为了解决SoC测试中面临的问题, IEEE组织制定了IP核测试标准IEEE 150015.6],旨在标准化IP核测试接口,使得P核的测试变得方便高效7'.; V- _; D8 {4 {" W/ d% _
1 t6 T1 ^6 H5 @% _3 ]. }' Y% g; O) k9 _9 x# @4 {
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发表于 2021-3-8 11:08
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