一种考虑空间关联工艺偏差的统计静态时序分析方法

zzz.dan

摘要:为了准确评估工艺参数偏差对电路延时的影响，该文提出一种考虑空间关联工艺偏差的统计静态时序分析方法。该方法采用一种考虑非高斯分布工艺参数的二阶延时模型，通过引入临时变量，将2维非线性模型降阶为1维线性模型;再通过计算到达时间的紧密度概率、均值、二阶矩、方差及敏感度系数，完成了非线性非高斯延时表达式的求和、求极大值操作。经ISCAS89 电路集测试表明，与蒙特卡洛仿真(MC)相比，该方法对应延时分布的均值、标准差、5%延时点及95%延时点的平均相对误差分别为0.81%，-0.72%，2.23%及-0.05%，而运行时间仅为蒙特卡洛仿真的0.21%，证明该方法具有较高的准确度和较快的运行速度。
' j2 d0 n4 V0 ~/ a关键词:集成电路;统计静态时序分析;空间关联;非高斯非线性;工艺偏差;延时模型
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一种考虑空间关联工艺偏差的统计静态时序分析方法