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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑
7 ]+ C, P/ u0 b( E8 P2 l3 W. s6 \% j
: R% K5 q. \, a% C! u7 o6 A6 h9 t目录1 A& C4 Q) Q% W% N4 d
1、概述
# c% ] v5 n! O: Z: C( b3 @# J/ l, C2、过去的老化系统
) z+ a( U0 |$ T/ I6 w3、为什么要在老化时进行测试
B- c8 u! f D E: l3 h, a4、在老化中进行测试的好处
1 K+ [1 K. q- `& A6 x: C' m5、老化测试系统类型/ V; V+ z/ S; T6 D) |
6、逻辑器件老化测试
: M' w5 T J! P' z' |/ O9 P8 c7、内存老化
! `* m- ]; e9 e- z6 l' b/ f) g8、老化测试系统性能) t* @+ a) v1 [8 V% T( }2 Q
9、结束语
( ~6 c9 y1 m {( H' A1 b3 k. s' K2 x5 w! f
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发表于 2020-9-28 08:34
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发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
