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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑
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目录6 ~& Q$ v' z2 B' s0 S0 w" P: X% K$ p
1、概述
$ D y6 Z6 u' h1 _6 `, Y" z2、过去的老化系统1 }% f4 O, O5 w) W8 p. c
3、为什么要在老化时进行测试
# A b6 z" m9 t' T5 ], b; b4、在老化中进行测试的好处! Q0 x, G4 g* s4 |4 }: k7 c
5、老化测试系统类型
A2 B3 b8 K% f8 j8 o: P6、逻辑器件老化测试8 ]; z, R( C! F6 ~8 l
7、内存老化. H9 T( v5 ?# @( P* S9 _' H
8、老化测试系统性能
* R* u$ a0 _3 U3 T9、结束语0 ? O% x3 h5 Q& t5 J6 ^
$ O" V- R8 R. r5 u) B
Y) x/ `, o: ?
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