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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 # K: K4 ?, I9 N' n2 g* r7 r1 t7 v
, e; k0 N4 t; }; l) w
目录 F) h2 x% Z9 Y; p) z. h8 o# e
1、概述
2 m0 E8 m0 @ u# w& \2、过去的老化系统
' N# J }/ W* ]6 D3 j6 \3、为什么要在老化时进行测试
; o$ q, D1 s& V; F' p4、在老化中进行测试的好处: i+ K+ X9 U- p- @; I$ S l( u# N
5、老化测试系统类型: T/ m' [: i. C6 e
6、逻辑器件老化测试
- D& q' G s0 x; _2 C7、内存老化
5 ?# C6 b- K5 a8 d5 W" r8、老化测试系统性能
3 o( O- X- h0 d* u6 B S) Q# R9、结束语
( P- m, M1 E7 p" _- L! _6 |) Z8 Z
. l& @& H7 o0 T$ { B( p' p6 G5 f
- U6 D( F* l7 ]* w. C2 [0 e- [5 [. s9 b$ K) O3 @9 O8 G0 U
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发表于 2020-9-28 08:34
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发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
