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一、 电源类:
' k' {1 u* h9 Y9 A% h& _1)蓄能电容整板不少于两颗,其中必须有一颗104电容 7 c3 w8 `5 F u* t
2)旁路电容每个数字电路芯片不少于2颗,其中必须有一颗104电容,多电源芯片每种电源不少于1颗 & i% @+ H' W* C7 Y. K, H( b( R
3)4层板及上电源层做分割,遵守20H原则做电源层内缩
8 I \4 ^# q/ K7 ` q ~: j4)电源及地线不可以存在回路
6 i% Z2 H9 q+ x5)退藕电容尽可能靠近芯片放置,电源须先经过退藕电容后到达芯片电源脚
' L) v$ h4 y% l2 y2 T3 P6)电源截流量暂定1A布1mm铜皮(1Oz),0.5A布1mm铜皮(内层及表面HOz) 6 j* y% b7 q4 [" }* d* ? z' ]: f
7)双面贴PCBA,尽可能使退藕电容与芯片在同一面,避免使用过孔连接 1 R1 W* F1 \! X& h
8)BGA芯片电源管脚在芯片中心的,退藕电容尽量靠近芯片背部电源管脚,尽可能每个电源管脚一颗电容,若实在无法在背部就近放置,则在电源分割层上游放置,并增加过孔连接
8 @2 H9 y) } u0 n: _6 }# u3 _9)电源从源端经电源层到达负载端,必须使用铜皮加过孔阵列连接,以减少过孔阻力
8 r- f4 ~: F. q) a/ D' x& O10)蓄能电容及旁路电容接地必须可靠,且优先缩短到地平面路径,铜皮载流量按两倍电源载流量计算铜皮宽度 2 p! o: Y- i" G* V! k
11)电源滤波电容的选择,在工频下,可以尽可能选择容量较大的电解电容器,而在DCDC电路中,根据电源工作频率,1M频率下可以选择0.1-10uF贴片电容,频率越高,选择电容容值越小,大的电容由于等效电感的存在,在造成效率低下的情况,甚至产生振荡,加剧电源的纹波
1 o& a7 u; i, C; A' O( x. h% {12)在允许情况下,外部接口尽可能增加TVS作保护,以免其他原因导致的大电流高电压串入,损坏核心电路 % V0 j5 i/ C( d+ S m! p
13)电源回路问题,电源与地连接的回路尽可能平行走线,避免绕大圈引起天线效应,有助于提高系统的EMC水平
; E c4 @3 X, u& I5 w' s2 y9 ]14)各个功能模块的电源最好通过0R电阻进行分开,在电源调试过程中发生大电流可以有效地进行排查。同时可以监测各个功能模块的工作电流情况,及时定位功能模块工作的正常或异常
5 ]& D: @6 d) W* E15)电源与地在无平面层的情况下,须采用树状结构或者星形结构,避免出现环路 + F$ t% J9 ^3 V' F; [) L$ a- G
16)避免出现电源或地线长条形存在,避免铜皮孤岛,死铜 ; R- l; T/ A) o9 u
17)过孔分布宜分散,避免集中引起地平面分割
5 P6 p& `; c, O' V9 E2 `" ^+ ]( ?18)模拟电路、数字电路和高频电路电源宜分开,连接路径串入磁珠、电阻等隔离器件 : H; l/ w/ S2 j, b
………………………………分割占位线……………………………………
$ @ Y! C* Z" i& J; D二、 射频类:
8 X1 b! X6 `: ?1)天线周边铜皮尽可能净空,并减少有高度的器件,以减少辐射的吸收 9 f E2 B; f2 [6 L5 ?7 k' \
2)传输线须做阻抗控制,偏差+-10% 0 J0 A5 h% _ ?' N% w! D9 }
3)传输线尽可能不拐弯,必须做转角时,须采用圆弧线 4 n/ f7 @7 ? P: j- T% ^
4)天线处尽可能增加IPX位及认证测试点
- e, V( y5 n0 D% X9 u/ p5)传输线下方参考地必须完整
: ~5 c# E! n9 M3 D………………………………分割占位线…………………………………… ( `0 g; Q! a7 x$ F) |0 s6 G6 l
三、 高速类:
% C$ q5 p% I/ j1)布线遵守3W原则 / R7 B. P# i; Q) A9 ?
2)尽可能减少过孔
% Z O1 J) j9 W* `8 \' ]3)差分线严格控制阻抗,不超过+-10% ' D$ H! U9 ?9 B. {+ z8 ?, a+ h
4)传输线参考地必须完整 1 l- C! w4 Z) \1 m% M% O
5)差分线铺铜距离必须超过差分线间距的2倍 E) z8 Z" S7 L0 \: h
6)晶体周围做地线隔离,限制电场的辐射
; a4 w+ b- O" ?/ N2 _7)晶体匹配电容电阻须放置于传输路径上
& G: E$ Z7 k; v: N' i6 j8)走线禁止出现锐角和直角,须以135度角或圆弧走线
R3 \" G9 \% |, _; i7 ]2 s4 ?% K9)蛇形走线要求如下 + j- R7 H+ X) G( R
: A) t3 T7 {1 ?4 |- Y9 z. |0 Q
. T" E: R( {$ l" z) L& i9 j e
10)避免走线出现分支,尽可能以菊花链的拓扑走线
3 ~8 ^! Z: D* N$ Z8 q5 U11)差分线及高速阻抗线在连入大焊盘时,大焊盘下参考平面层做挖空处理,以减少阻抗变化
$ i. O) n$ _/ P9 m9 N' z6 C s3 W- e12)关键信号的过孔在没有信号引出的平面将焊盘清除以减少阻抗变化
7 l2 ]3 R! m. Z" N. F13)匹配电阻及电容应优先选择小封装器件 7 s' n3 Q. I% _( O9 P
14)差分线必须做等长处理,处理的原则是优先在长度发生变化的地点就近绕线做补偿,其次是在传输线了做连续微小补偿,如下图
6 ]6 L% J" L$ o3 S/ n( P* \9 q; u1 I, o* o, l4 q
: R# H$ }4 y" |' E: b0 }避免在中间一次绕大圈进行补偿
$ X! |6 c! V2 X- A/ f2 {. z15)差分线过孔必须成对出现,且尽可能排列与差分线传输方向垂直 + z& G1 y+ M! K, m( Q9 V
16)差分线拐角换层后若出现长度不匹配,宜两面分开就近补偿,如下图
# N) v5 r9 H2 {+ u$ n+ Y n- p: ]) Q0 e8 x+ w; H8 C$ ]) r% Q
8 C, Z. x1 a8 s3 }/ m+ w
17)同组差分线,如LVDS、HDMI、MIPI等应同面布线,避免交叉换层 * o* [" o( T* U8 W6 q- W
18)差分线及高速线换层后应两面打过孔连接平面层,以减少回流环路;避免参考平面由地平面换成电源层或由电源层换成接地层,若不可避免,应就近放置一颗电容连接地平面与电源层,以连接成回流环路,同理,不同电源与不平接地之间也采用此方式补偿
, N8 T) h2 T7 a! Z# ]19)若差分线以电源层为参考平面,在源端与负载端须各增加一颗电源连接电源与地平面 ' p' S. R" F9 B5 h4 m
………………………………分割占位线……………………………………
; p- `3 }# Y; ]# T$ H四、 调试类
2 R* O+ {# u* |8 E- n( B& B1)样机阶段,尽可能增加LED指示,方便指示系统状态
( B! J3 L' Y# T0 y2)尽可能增加测试点,测试点位置放置须考虑测试夹具的可制造性和易用性 # |, q7 n( F$ `+ h. E. d# V
3)样机阶段,对于芯片不使用的GPIO口应尽可能引出,特别是BGA封装的芯片,引出到测试点以方便调试
8 m6 |( j8 Z% _# Z% u% B4)所有引出网络尽量增加电阻或排阻进行隔离 ; b+ l) H5 B2 B! s+ m! O' w
5)通信总线根据需要增加上下拉电阻位 " p; _# U7 O: S2 j3 E3 l8 s
………………………………分割占位线……………………………………
, M* _5 r: B' Y* W五、器件类 O' a, f6 z1 w& r# g- ~2 z: m$ q
1)二极管类,包含TVS,LED等,需要统一检查原理图与PCB及丝印管脚是否一一对应,避免出现反接大电流烧板子的情况
+ n0 `3 ^8 F4 N1 |2)三极管类,需要统一检查管脚顺序是否匹配,原理图与PCB管脚是否一一对应,DXP中选择的灵活性比较高,常出现不匹配导致管脚顺序错误,引起功能异常的现象
6 S2 N" S& S5 U' v/ P3)原理图设计中,对电解电容、二极管、LED、三极管、运放等元件封装,强烈建议打开封装库的元件引脚编号功能,便于对引脚的正常性进行检查,同时在设计完成时,一定要重新检查一下电路中所有此类元件的网络是否存在问题 $ m0 ~ D2 g8 H) Y! `9 t
4)元件管脚间距,在新元件使用前,必须对元件封装的管脚间距做确认 * b! g. v- E/ p4 i. X r
5)电容耐压,原理图设计前确认电容耐压是否满足使用要求,电容按最高工作电压不大于耐压的2/3原则来选择物料
' v$ j+ q5 R9 ^2 ^6)电阻功率,电阻若有功率需求,以最大耗散功率不大于额定功率的2/3原则来选择物料封装 9 q) b: i9 s! e& u# A8 A, @; o
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