基于单片机的半导体激光器参数测试技术的研究

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要]随着半导体激光器(LD)参数测试技术需求的日益加大,提出了一种新型的半导体激光器PIV特性的测试方法。采用华邦51系
' ]& h9 K; [1 y0 J; o: j7 s列单片机(SCM)W78E58BP作为控制核心,实现高稳定度的LD连续及脉冲驱动、恒流控制及功率、电压采集。
$ [3 _6 e# F( _! u( c( z5 O: L) E3 t[关键词]半导体激光器(LD);单片机IV
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基于单片机的半导体激光器参数测试技术的研究，很好的毕业设计。