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C8051F120的特点及其在多任务实时测试系统中的应用
2 h% c2 B2 e0 E# F2 i5 Z! g, m摘要介绍了C8051F120这款单片机的硬件配置及功能特点,并着重分析了其在多任务、实时测量、实时
& m; V5 w8 C' V+ S# z, e传输的测试系统中的应用。
/ O" w& B/ z1 g关键词单片机硬件特性测量
; l: S% B2 Q# Y4 }0 q) n: w( b5 _) T
1引言
3 `+ y- G" p1 ^, W8 L在某测试系统中,要求同时测量多个参数,主要
) y& G6 Z; Z2 p G0 s包括:利用两个增量式光电编码器分别实时测量两* {4 ?( w# [8 b( u4 f6 A
个旋转轴的转角和转速;利用扭矩传感器实时测量( T/ Y s: N; P c) `; G8 t; b
某旋转轴_上的动态扭矩;利用绝对式磁电编码器实
/ [( ^# {+ f6 }$ o9 j$ m时测量缓慢转过的角度和转速;利用三个加速度传
7 p- _* l0 J/ f感器实时测量某物在空间坐标系的角位置等。1 G; D& t4 ? C3 g( V! v
若要同时完成所有信号的实时测量、实时处理、/ U% X% G3 I7 G: W ]5 S. l8 e
实时传输,要求测试系统必须具备较快的处理速度3 L4 r; T7 e/ A \) I/ u V
和多线程的处理能力,同时还要有较丰富和完善的
/ h/ J+ c( w) z$ P+ d# k用户可用资源。据此，有两种可选方案。
: f" R8 ]* J7 W' }1 s6 o! n6 L7 b( X3 }一是采用ADC,cpld等芯片和上位工控机组
5 X' u8 s! a5 G9 L成系统,二是采用较高级的单片机等芯片和上位工" a6 E7 s9 f1 e1 H
# H6 w5 t0 v8 c+ u9 S. Z. ?: Z% E7 Q: k$ z( ]; z8 j( F
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发表于 2020-7-9 15:04
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