TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption
* {4 o& c ?' X" E- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
1 k% }6 P3 |6 D6 u& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。( I4 Q% s, _1 ]4 K' |
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
6 P, ?$ x j+ _: ZVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点' J1 l# e3 ]0 ~: W% h
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
. R$ F/ ]" _4 B1 L8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传
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7 ], z0 T& b0 i4 z! {( O2 j0 p* d. R; p2 V6 P
. L; E6 d# N ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a
5 T: D$ V b- l: B+ Y- S" f3 ]; t% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I
" I, ~7 _! n# [' ]" U D: f举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s5 n( X! E; G* ^% e% N
![]() 2008-4-29 08:45 上传
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6 j1 q( Y Z6 `. i& q) n7 {$ q9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z
2 ~( S$ N0 K3 E1 K; d+ W; d这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K p% f* _+ k, B6 v7 |4 _: {" Q$ P
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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发表于 2011-5-21 11:12
发表于 2011-6-10 19:18
