TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption3 n% C' s, p' n. q! R
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？3 H, O2 n' r( P8 w7 n$ A p4 y
& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。$ g/ p ~. E) s: ~
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]' e- m" T* H) l9 ?- A% ^
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点& E" r/ t" c% I; X# H0 n
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
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: T8 H& P1 r" w6 o% o$ m% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I3 n+ o4 `! N. O* ?
举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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, O9 ^1 O, D, \- U) [$ d, R, D这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
8 k1 ^$ Q) r1 Z3 ~% B下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D1 y3 Q$ L2 ]; o% x1 E7 w! ? E1 t
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