TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
|---|
签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
|
Vmeas and test load descirption
& A+ Y( l- H7 F0 l: t1 Y/ x+ b) I- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
" N; c% N" }: a/ q1 Z& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
) q( b2 K9 `& s" L3 X) u2 N9 } y- o* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
- v; n/ e- E& G$ [# pVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点# w! x; P8 }3 a3 \
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load+ y$ W3 [/ u' @" \' }+ r. q" q8 g
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传7 I, j" _9 _+ P2 V4 R# ` {
下载附件 (23.05 KB)
, j V* A# {9 Z- t" |: F
- ]& s; d- w/ a. v( K
* K, w- [' }( I2 T. L; E6 d# N ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a& d4 F( Z- t# ?0 C& ]' G5 L: J
% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I
' |6 p- n. [" ~5 e举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
6 _% m: O4 z; ]# Q6 ]( Y![]() 2008-4-29 08:45 上传% v/ K1 ^: p& c4 p: Z
下载附件 (9.38 KB)
1 o& j' V4 ^: \' q! s# i# b" e) F' w& G* L. |# a
& x% i, T2 c6 ?
+ f- Y, R' ~- Y# x4 d9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z
6 a; p7 t, c$ x: w. M) D这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K+ e3 e1 ^3 L5 s, b0 D
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D; h3 x4 J; g" s" O! e# O
|
|
[复制链接]
/1 
发表于 2011-5-21 11:12
发表于 2011-6-10 19:18