TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption# y) R3 p: }: a+ y- e/ y
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
4 E" S$ N, }7 D! \" C; j& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。& {" k1 Z/ D! n5 K: w( a
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
1 u; K7 \1 f PVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
* }1 K$ c$ z( L5 C. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load9 B" O6 Q6 J/ x* l3 ^1 B5 [+ C
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K5 Y# [; M" M! U
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D/ Y* @: m/ G7 I* A
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发表于 2011-5-21 11:12
发表于 2011-6-10 19:18