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摘要:针对测控 系统恶劣、复杂的工作环境,分析了几类典型干扰即空间辐射干扰、信号通
" w$ o- ]1 j4 ~5 H道干扰、电源干扰以及数字电路引起的干扰的作用机制,阐述了干扰对单片机测控系统产生的不良
7 A8 R# O& \4 s. T7 r0 e# W影响，并结合实际给出了电源技术、接地技术、隔离、滤波屏蔽等硬件方面的抗干扰措施,以及数( y! J9 ~1 ?7 _; ]& r, Y: h/ {
字信号的输入方法、数字信号的输出方法和CPU抗干扰技术等软件方面的抗干扰措施。
6 t0 b4 u/ Q7 t关键词:单片机;抗干扰;软件;硬件! O: x7 g+ c' W1 p+ f' |% M
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/ ?! z. \. {; u4 D9 m2 S- x2 D单片机系统由于价格便宜、功能齐全而被广泛地应用到智能仪表及生产过程的测控系统中,一个测; F2 }6 {+ M; p/ y5 `2 g, o
控系统的准确性主要取决于两个方面:首先是系统中测量部分测得的数据是否准确,如果在这个环节上
( K) V/ Z7 K0 E3 B3 Q出了问题,整个系统的准确性也就无从谈起;另一方面,系统的控制质量,包括系统抵抗千扰的能力,也是" H2 L: Y, ~- V* D( q3 m9 A
至关重要的。但是来自系统内、外部的不可避免的电气干扰会对单片机测控系统产生不良影响。因此，0 u% @# k: e5 m7 _
如何在干扰情况下保证和提高系统的可靠性、安全性成为人们日益关心的课题。在实际的单片计算机测/ Y" u) h& N9 x5 a# m4 I
控系统中,要在硬件、软件或其他方面综合采取措施来克服现场环境的强大干扰,使系统的可靠性达到设0 M7 V$ @/ X5 ]) B5 L& V
计的要求。在此从常见的干扰人手，分析干扰的作用机制及产生的不良现象,介绍了在单片计算机测控0 f6 {! E+ s- Y1 L* K" [: S* J2 u
系统中常用的软、硬件抗干扰措施。2 r2 u4 a) y1 `" u4 z1 K
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1干扰源" X0 \9 G7 n" j0 B5 G. n
1. 1空间辐射干扰
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1 \# P2 V) u2 W% f# c; \, g! G" [# H% O0 g2 j& y; _" k
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发表于 2020-5-9 09:30
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