基于MSP430单片机的温度控制系统的设计

winushej

摘要:本文提出了利用单片机和热敏电阻设计温度测控系统的一-种用RC充放电原理测量温度法
& d  H8 `6 u2 I- a) D" w和温度脉冲加热控制法，并对硬件系统原理和温度控制作了简要描述。
8 e" D- r, f3 ^. C- \6 d5 j/ z* ~1 b3 t2 a
6 ^2 \- n; \) U) R- t- ~关键词:单片机;温度测量与控制;热敏电阻;可控硅
+ z* K0 z; ]  d" D2 F
1引言
在现代自动化控制系统应用中，经常对系统的温度、湿度、电压、电流、压力、流量等参数进行测量
' r3 `: n9 c/ {# ~1 P" O  T7 A/ a/ q和控制。利用单片机和热敏电阻不仅可以解决对温度测:量的技术问题,还可通过可控硅实现对温度的控制。
+ t+ L7 N7 ~4 }2控制系统 设计
, ^' ~0 [. Y( {, S' \2 y3 _以热敏电阻为测:量元件的MSP430F1121单片机温度测控系统电路原理图略(可向作者索取)。本文仅
对温度测量与控制电路部分进行描述。
2.1温度测量电路与软件设计
( M+ d: p/ F5 x$ \& @$ m传统的办法采用充电的办法测量,为增加分别率,我们取内部的
0.25Vcc作为阈值电压,采用放电的办法可分别测出参考电阻Rref的
  V% [8 y" l. |% {, x  N放电时间Tref,热敏电阻器电阻Rsensor的放电时间Tsensor则有下
6 j& e  o. Z5 s* z面的公式:
Rsensor =Tsensor XRref / Tref
, p5 {% L. t8 e6 S# v下面的程序，定时器A的输入频率采用约1MHz左右的DCO。由于电阻大小和放电时间成正比,对测得的时间进行
( l8 x/ r# n, C7 u) q比较,就可以确定热敏电阻器的范围。如图1所示，当热敏电阻大于参考电阻时，P1. 0输出低电平，反之，P1. 0
输出高电平。如果我们热敏电阻器采用负温度系数的103AT，参考电阻取10K，那么当温度大于25度时LED亮，
) \/ s8 R& M2 e- R小于25度时LED灭。如果我们要测量具体的温度数值，可以在下面的程序基础上增加热敏电阻器电阻值计算和
查表程序就可以了。
#include
9 y, `- S9 n) Z+ @" f8 V'msp430x11xl. h'
Ref
: M( C1 u& A( H+ u9 U/ [/ a001h; P2.0接参考电阻.
7 I$ ~, L  H' S* P' v) q( VSensor
8 ~5 j: T  K  C: i" s0 wequ
002h ; P2. 1接热敏电阻器
0 b) d# P# m& \+ q+ rORG
0F00Oh
+ W( _/ |; R8 u0 k& wRESET
1 f' t4 A2 e' N#300h, SP
; k8 N/ \/ U, G/ w: z1 aInit_ Sys
5 L% D9 A4 ~! f9 h0 q. _' x* Umov
' f* s) L% d1 ^; y#WDTPW+WDTHOLD, &WDTCTL
停看门狗
/ `9 M7 F# o, u, b5 L; t+ ESetupP1
2 T( |5 a+ p" X: d( Ibic. b
#001h,&P1OUT ; P1. 0输出低电平
bis. b
#001h, &P1DIR
SetupP2
- i' Y5 t4 \! C5 [9 Ebic. b
#Sensor+Ref, &P2OUT
# w! \" f- \7 {3 B- abis. b
/ ~  y! D6 f/ j& L0 A#Sensor+Ref, &P2DIR
SetupCA
mov. b
#CARSEL +CAREFO+CAON, &CACTL1 ; 比较器的参考电压0.25Vcc
mov. b
  w' O- x4 L9 h#P2CA0, &CACTL2 ;  P2.3比较器+
, H6 p; s) w9 H4 k3 e8 Z4 j
1 a1 ], m4 u) K

& F, H5 e4 [# k( C+ E7 A附件下载：

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MSP430F1121单片机温度测控系统