MCU测试向量生成

英尚微电子

mcu测试向量生成

: r, e2 T- B$ y8 ~0 h0 G7 g, k用自动测试设备(ATE)测试ARM芯片是一种传统的测试技术，其优点是可以灵活编制测试向量，专注于应用相关的功能模块和参数。但是由于ARM芯片的功能与应用有相当的复杂性，因此对测试系统所具有的能力也要求较高。这就要求测试设备本身必须要具备测试各种不同功能模块的能力， 包含对逻辑、模拟、内存、高速或高频电路的测试能力等等。同时测试系统最好是每个测试通道都有自己的独立测试能力，避免采用资源共享的方式，以便能够灵活运用在各种不同的测试功能上。所以常规的AR M 芯片测试设备往往要求相当高的配置才能应对测试需求。
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测试的含义非常广泛， 就ARM芯片测试而言，可以定义多种类型的测试，不同类型的测试需要产生不同类型的测试向量。而测试向量生成的方法，虽然可以人工编制， 但大多数情况需要由测试向量生成工具(ATPG) 生成，才能产生比较完备的测试集。本文介绍的ARM芯片测试方法，借助对应的ARM芯片开发工具产生测试代码，再由专用的测试向量生成工具生成测试向量.这种方法的优点是能针对ARM芯片应用开发人员关心的测试集合产生测试向量，因而比较高效，测试成本也能控制在比较低的水平上。可以借助大量的ARM芯片应用软件来转码， 能大幅减少工作量。缺点是不容易用算法来实现自动生成完备的测试代码。

ARM芯片测试向量生成器。测试代码可以从ARM芯片开发例程中获得， 测试向量通过编译器编译成ARM芯片可执行代码， 然后与激励向量和期望向量混合生成完整的ARM芯片测试向量。ARM芯片测试向量生成工具通过时间参数来确定测试代码。激励向量与期望向量之间的时序关系，ARM芯片时间参数可从芯片手册中获得.测试向量生成后， 通过BC3192 集成开发环境下载到测试系统图形卡中，启动测试程序，激励向量依序施加到被测ARM 芯片的输入端口，同时对输出端进行监测比较获得测试结果.综上，测试向量的产生是ARM芯片测试的核心，本文所述测试向量生成器通过输入ARM 芯片可执行代码和芯片时间参数来产生测试逻辑，具有易用.高效的特点，现已用于多个ARM Cortex 内核微处理器的测试中。

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用自动测试设备(ATE)测试ARM芯片是一种传统的测试技术，其优点是可以灵活编制测试向量，专注于应用相关的功能模块和参数。

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同时测试系统最好是每个测试通道都有自己的独立测试能力，避免采用资源共享的方式，以便能够灵活运用在各种不同的测试功能上。所以常规的AR M 芯片测试设备往往要求相当高的配置才能应对测试需求。

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测试的含义非常广泛， 就ARM芯片测试而言，可以定义多种类型的测试，不同类型的测试需要产生不同类型的测试向量。