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本帖最后由 CE_Manager 于 2019-12-20 09:11 编辑
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9 s8 M3 Q- Q0 N, B$ F) n7 j半导厂商的神器-半导体测试系统J750
& o3 v% H$ {6 C 2019年12月6日,全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达(NASDAQ:TER) 在美国马萨诸塞州北芮丁市宣布J750系列半导体测试机台实现第6000台的发货。 J750系列提供了涵盖微控制器(mcus),无线设备和图像传感器的晶圆测试和最终测试解决方案。 Ardentec公司作为拥有最大的J750测试系统装机量的测试厂商之一,迎来了泰瑞达第6000台J750测试系统 。 泰瑞达J750系列提供了世界领先的汽车和消费应用类MCU产品测试解决方案,也是图像传感器测试的全球领导者。低成本产品的集成度不断增长,并已延伸到指纹传感器,MEMS和带有MCU无线功能的物联网(IoT)产品,J750测试系统的可扩展性使其成为这类产品的理想选择。 Ardentec公司副主席兼总裁Chi-Ming Chang说到:“J750是MCU市场上公认的解决方案。 J750的‘零占用空间’使我们能够最大程度地利用测试场地来增加容量,而更高的多站点吞吐量可以降低测试成本。 对于任何测试环境而言,这都是一个成功的组合,我们很高兴接受此次发货,这对泰瑞达而言是一个重要的里程碑。” J750系列使用IG-XLTM软件平台进行操作, 可快速进行程序开发,并自动扩展以支持多站点测试,从而节省了大量的开发时间和成本。 “泰瑞达很高兴与Ardentec公司共同成就这一重要里程碑事件。自2004年以来,Ardentec公司借助泰瑞达J750 测试系统机台,满足客户不断变化的需求。” 泰瑞达全球销售副总裁Ty Akin指出,凭借种类繁多的仪表, J750可以服务于广阔的市场应用和包括MCU汽车及IoT应用等各种产品。尽管产品复杂度和市场压力不断增加,泰瑞达 IG-XL软件和J750平台协同作业,仍可有效减少测试工程的工作量,帮助我们的客户按计划实现最佳的测试经济性。” 泰瑞达J750系列是测试质量的行业标准,有效帮助半导体制造商追求零缺陷目标和多站点吞吐量的目标。 J750测试系统的装机量现已超过6000台,已经在50多个OSAT广泛运用,可支持用于晶圆测试和最终测试的整套量产解决方案。 " c' C' x( x' y! e
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