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EMC测试技术介绍

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发表于 2019-7-26 09:53 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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EMC测试技术介绍
. c7 Y) W3 T& r$ }! ^
【1.基本概念】
- P7 S' m! z% I+ u8 G7 k      EMC(Electro Magnetic Compatibility,电磁兼容)是指电子、电气设备或系统在预期的电磁环境中,按照设计要求正常去工作的能力。
# `# N! K2 c/ q5 f# a      EMC包含EMI(Electro Magnetic InteRFerence,电磁干扰)和EMS(ElectroMagnetic Susceptibility,电磁抗扰度)。而其传输方式可以分为两类:通过导线传递的成为传导,通过空间传递的成为辐射。一般的,当设备和导线的长度比波长短时,主要是传导问题,当他们的尺寸比波长长时,主要是辐射问题。
" X* `# \( \# H' L9 Q, o& P& p. n: _" W7 ]* v0 ^9 N% ^
【2. 测试项目】* w/ |- c, O" [& r$ K& ~" g2 R7 [5 G
2.1 EMI(作为干扰源干扰其他设备、装置、系统)
, F4 G5 [! O! T6 h* r6 j
  • 传导骚扰
  • 辐射骚扰4 Y- T+ p" X; D/ [3 G& ?
2.2 EMS(受外界设备、装置、系统干扰的抵抗能力)
' n: U$ p: H" E* o6 i' R
  • 传导抗扰度
  • 辐射抗扰度
  • 静电放电3 O  q+ L' e9 ^( R9 y3 w
! k5 e! J8 G/ u3 e4 u
【3.测试实质】
# M: V) E) i& a" k3.1 辐射发射 % g1 T5 r6 ]+ K9 `* W8 \& i
3.1.1 测试目的
; U3 d7 }( ?$ M- o      测试电子、电气和机电设备及其部件的辐射发射,包括有关组件、电缆和连接线上的辐射发射。鉴定其辐射值是否符合标准的要求,保证在正常工作过程中不会影响环境中其他设备。 9 G3 i$ r1 X( ~1 z9 _1 q- I
3.1.2 测试设备
! G9 ?1 J9 P/ ]4 M  e
  • 半电波暗室
  • 各式天线(棒天线9kHz~30MHz,环天线9kHz~30MHz,双锥天线30MHz~200MHz,对数周期天线200MHz~1GHz,喇叭天线>1GHz等)
  • EMI接收机(检波方式:峰值检波、准峰值检波和平均值检波,其中准峰值最接近人耳对声音的反应,CISPR推荐使用)
  • EMI自动测控系统9 ~1 D1 [6 I8 w
3.1.3 测试布置汽车EMI测试分为10m法和3m法,依照不同的标准分别欧不同的布置方式,这里给出基本示意图。; h# |* u# Q+ V+ q; z5 ^

% F  y4 w8 g' y! U% S
5 o8 @) k, Q# T9 i, n8 Y
: R8 X* E8 O* w( m  ~/ Z! \& g5 K' q2 x7 }) {
3.2 传导骚扰

# I, y" i* e% U7 Q/ y1 A9 P4 H0 U$ J- D
3.2.1 测试目的
: [0 t, `' b4 `1 P7 J5 D4 E
      传导骚扰的测试目的是为了衡量设备从电源端口、信号端口向电网或信号网络传输的骚扰。

) s6 p, K  ]/ t- W3 ?+ J8 `: ^" N+ e
3.2.2 测试设备

6 [" s" w# u, v  W
  • 半电波暗室
  • 电流探头
  • 电源阻抗稳定网络(Line Impedance Stabilization Network,LISN)' U3 o: F& G0 |6 ]4 \, }& L
         --> 在规定的频率范围内提供一个规定的稳定的线路阻抗

3 t+ X4 l6 u8 `. l
         --> LISN将电网与受试设备进行隔离,只考核受试设备(DUT)的干扰

1 e' i0 k0 W; b( s5 s4 g- \5 q
  • EMI接收机(频谱分析仪)
  • EMI自动测控系统: ]: f8 ~2 j' b- `7 h( j
3.2.3 测试方法

/ Z3 N7 o, x2 F4 t$ ^# R
      半电波暗室内,LISN 实现传导骚扰信号的拾取与阻抗匹配,再将信号通过电-光-电转化传送到接收机(减小干扰),测试结果分别与标准中的电流和电压限值进行比较,判断是否通过测试。具体操作详见标准,这里给出布置图。
. ^- y4 @0 w5 D3 n" s" U) G
4 a- s6 E3 m6 {+ Y: ^

3 w$ T6 [, j% U8 l% S7 Z  v9 m+ e) Q0 _
0 W; [$ e% c4 m: G) ~
3.3 辐射抗扰
, S, v, R( _4 b
2 ^- m+ W8 [5 O! i0 ~+ A+ C
3.3.1 测试目的

& e1 R  _! K5 z
      建立一个共同的标准来评价电气和电子设备的抗电磁辐射干扰的能力。
( }( v, w/ z( u( k/ @  n
3.3.2 测试仪器
0 B3 m: o: I$ G0 I" V: X
  • 半电波暗室
  • 信号发生器
  • 功率放大器
  • 天线(双锥和对数周期复合天线)
  • 场强测试探头(主要用于校场用,得到场强、距离和功率放大器的关系)
  • 场强测试计算机和控制软件
    8 H6 n; ?. u7 {1 V
3.3.3 测试方法
/ l* z  W! a: s$ n) |1 Y6 G5 w
      通过功率与场强的关系(通过校场确定),控制设备发射相应值得场强,在控制室中观察EUT的变化(功能异常),具体见标准,这里给出示意图。

3 q/ h% @7 p4 N8 O. q. a8 ^
/ r$ [+ u& }/ F' |! z6 e6 e
" ^9 X+ c/ e8 G; D8 s6 l4 t

% C% P- ]& O7 x9 G8 V

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发表于 2020-5-9 12:01 | 只看该作者
测试电子、电气和机电设备及其部件的辐射发射,包括有关组件、电缆和连接线上的辐射发射。

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发表于 2020-5-13 10:43 | 只看该作者
半电波暗室内,LISN 实现传导骚扰信号的拾取与阻抗匹配
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