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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

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House

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1#
发表于 2019-3-26 08:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响
) `2 v1 {  }8 ]3 h0 v& y
摘要, I3 P  r/ v7 C+ B( ^
相位噪声是时钟、射频频综最为关注的技术指标之一。影响锁相环相噪的因素有很多，比如电源、参考源相噪、VCO自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中，电源引入的低频噪声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品，为了获得极低的相噪性能，往往采用低噪声的LDO供电。然而，采用不同的LDO给频综供电，取得的相噪性能往往会有很大差别，同时，LDO外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。
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cat12620

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2#
发表于 2019-3-29 14:31 | 只看该作者
看看，谢谢楼主分享

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aquss

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3#
发表于 2021-9-30 17:02 | 只看该作者
好

“来自电巢APP”

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yearn

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4#
发表于 2021-10-23 16:06 | 只看该作者
LDO环路稳定性+ T' V% z' _; c0 B! B

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z55557777
  • TA的每日心情
    无聊
    2020-5-15 15:27

    • 签到天数: 14 天

    [LV.3]偶尔看看II
    5#
    发表于 2021-11-4 21:31 | 只看该作者

    ' C: m  v$ Y0 m5 e# C. J看看，谢谢楼主分享

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    Danny12243

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    6#
    发表于 2021-11-15 14:16 | 只看该作者
    学习学习学习学习学习学习学习! f- c/ U' Z8 [* T

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    hhh虎次郎

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    7#
    发表于 2021-12-3 20:32 | 只看该作者
    感谢楼主分享

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