EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
, F' M% [ j0 q1 S5 Z' P0 T
" e3 Y/ _. V+ Y4 i+ k! Z5 G& l4 i辐射 EMI 干扰可以来自某个不定向发射源以及某个无意形成的天线。传导性 EMI 干扰也可以来自某个辐射 EMI 干扰源,或者由一些电路板组件引起。一旦您的电路板接收到传导性干扰,它便驻入应用电路的 PCB 线迹。常见的一些辐射 EMI 干扰源包括以前文章中谈及的组件,以及板上开关式电源、连接线和开关或者时钟网络。 # l/ }3 I$ C5 b3 f
+ Y, u) K, y& w
2 K" u/ k6 R7 w$ R图 1 传导性 EMI 信号的耦合介质
( ~6 J3 b) L& b# H- S* b% P7 {; |/ q+ l* E c
传导性 EMI 干扰是开关电路正常工作与寄生电容和电感共同作用产生的结果。图 1 显示了一些会进入到您的 PCB 线迹中的 EMI 干扰源情况。Vemi1 源自开关网络,例如:时钟信号或者数字信号线迹等。这些干扰源的耦合方式均为通过线迹之间的寄生电容。这些信号将电流尖脉冲带入邻近 PCB 线迹。同样,Vemi2 源自开关网络,或者来自 PCB 上的某个天线。这些干扰源的耦合方式均为通过线迹之间的寄生电感。该信号将电压扰动带入邻近 PCB 线迹。每三个 EMI 源来自于线缆内相邻的导线。沿这些导线传播的信号可产生串扰效应。 4 o/ ]0 L, [! @. U7 J$ n6 Y! Q
8 T+ u: k3 a( C4 p! @+ Q5 l/ r
. \. v7 p) B% d$ a9 n1 u |