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快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策 

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    开心
    2019-11-20 15:00
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    发表于 2018-12-11 09:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策
    $ C8 K/ J9 m3 A

    . E! l9 O" _( ^8 K" Q+ |" r
    介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法,综合其他研究者的成果及笔者的实践经验.针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的埘策方案,以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。3 S. G4 T- F' {3 g
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    发表于 2020-7-20 17:58 | 只看该作者
    非回贴不可
    ( y/ y# b" Z; z1 R8 R9 a) n

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    6#
    发表于 2020-7-20 18:00 | 只看该作者
    这帖子不错,值得看2 h7 o2 J0 a7 w1 |$ L* t

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    7#
    发表于 2020-8-11 22:03 | 只看该作者

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    发表于 2020-9-7 12:42 | 只看该作者

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    发表于 2020-9-25 00:18 | 只看该作者

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    发表于 2021-6-8 18:47 | 只看该作者
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  • TA的每日心情
    奋斗
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    [LV.1]初来乍到

    12#
    发表于 2021-11-2 12:38 | 只看该作者
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    发表于 2021-11-10 15:20 | 只看该作者
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