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移动设备向着轻薄短小的方向发展,手机行业是这一方向的前锋,从几代iPhone的尺寸可以看出----薄,是一直演进的方向(图1)。随着物联网、可穿戴等市场兴起,将这一方向推向极致。
- R0 ?& `$ }. [6 G9 l图1iPhone厚度变化
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+ e" P. W7 k9 @: b& w1 K* x+ a手机的薄型化,得益于多方面技术的进步,包括SiP、PCB、显示屏等技术,其中关键的技术之一就是EMI屏蔽技术。传统的手机EMI屏蔽是采用金属屏蔽罩,屏蔽罩在横向上要占用宝贵的PCB面积,纵向上也要占用设备内部的立体空间,是设备小型化的一大障碍。新的屏蔽技术——共形屏蔽(Conformal shielding),将屏蔽层和封装完全融合在一起,模组自身就带有屏蔽功能,芯片贴装在PCB上后,不再需要外加屏蔽罩,不占用额外的设备空间,从而解决这一难题。如图2,iPhone 7主板上,大部分芯片都采用了Conformal shielding技术,包括WiFi/BT、PA、Memory等模组,达到高度集成且轻薄短小的目的。
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图2iPhone7主板上采用共形屏蔽技术的模组! U& j7 g4 m: D) t4 O$ w$ x
- n1 ~% _/ @/ W$ [SiP封装共形屏蔽
) {& m/ [% |* _4 J) L电子系统中的屏蔽主要两个目的:符合EMC规范;避免干扰。传统解决方案主要是将屏蔽罩安装在PCB上,会带来规模产量的可修复性问题。 此方法也可以在SiP模组中使用,如图3中的模组封装,或Overmolded shielding将屏蔽罩封装在塑封体内。 这两种屏蔽解决方案,虽然实现了屏蔽罩的SiP封装集成,但是并未降低模组的高度,同时也会带来工艺和成本问题。7 y- S& u# ?5 f
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F4 N; X% G$ v( S! W7 ]8 f图3传统的屏蔽罩模组及SiP封装内集成(Overmolded shielding)屏蔽罩; w# Y1 `3 @0 r* x8 d7 {! `/ z$ G
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SiP封装的共形屏蔽,可以解决以上问题。如图4,SiP封装采用共形屏蔽技术,其外形与封装一致,不增额外尺寸。
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图4共形屏蔽SiP封装以及与传统屏蔽罩的区别4 O: i2 |) U; v( l! r! g/ |
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共形屏蔽的性能
# d' J, W% I$ w# s4 k共形屏蔽实现了极好的屏蔽效果,在远场高达12GHz,近场高达6GHz,以及10MHz-100MHz的低频,屏蔽效果在30dB以上。如图5,从SiP封装实际测量结果,可以看出共形屏蔽的出色效果。
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图5共形屏蔽的测试效果
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# |/ q0 h5 T L- H0 w共形屏蔽的工艺
0 s; c. D, M5 Q% t; [* y8 z共形屏蔽目前主流工艺有三种:电镀,喷涂,溅射。各工艺的优缺点对比如下表:
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以溅射为例,工艺流程如图6:/ F" S& `7 w3 U
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图6共形屏蔽的溅射工艺流程; j* Z' y8 ]4 X1 q7 G7 L( O4 f
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共形屏蔽的应用
]: |7 G* b( U& n共形屏蔽主要用于PA,WiFi/BT、Memory等SiP模组封装上,用来隔离封装内部电路与外部系统之间的干扰,如图7。
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- ?8 Q& q& A; Q: h6 M3 V图7 WiFi模组共形屏蔽结构
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对于复杂的SiP封装,将AP/BB、Memory、WiFi/BT、FEM等集成在一起,封装内部各子系统之间也会相互干扰,需要在封装内部隔离。另外,对于大尺寸的SiP封装,其整个屏蔽结构的电磁谐振频率较低,加上数字系统本身的噪声带宽很宽,容易在SiP内部形成共振,导致系统无法正常工作。/ }8 O5 h" |0 n/ H6 Y+ _8 R! u; I
2 z$ i5 ]' J8 Y# {3 ?Compartment shielding(划区屏蔽)除了可用于封装外部屏蔽,还可以对封装内部各子系统模块间实现隔离。其由Conformal shielding技术改进而来,用激光打穿塑封体,露出封装基板上的接地铜箔,灌入导电填料形成屏蔽墙,并与封装表面的共形屏蔽层一起将各子系统完全隔离开。另外,划区屏蔽将屏蔽腔划分成小腔体,减小了屏蔽腔的尺寸,其谐振频率远高于系统噪声频率,避免了电磁共振,从而使得系统更稳定。Compartment shielding典型的应用案例就是iWatch里的S1模组,如图8。
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SiP封装共形屏蔽简介、性能、工艺、应用及优点解析. ~/ S b1 U# x. w7 k; X1 s. ~
* m+ k5 C3 r* n' P图8苹果S1 SiP封装Compartment shielding结构
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( j m, S. D- ~ ~' ?总结SiP共形屏蔽的优点:# S4 b/ N1 Z/ C% h l$ {9 v' X8 i: {6 o
共形(Conformal)和划区(Compartmental)屏蔽方案应用灵活广泛:/ @1 i* }1 Y5 L+ q8 V& A" z: C4 O) e+ P
: ~: K- M; V0 A2 {0 o最大限度减少封装中的杂散和EMI辐射. g) f$ M) {. S7 m K; ?
4 q2 E0 g6 b- ~! J5 m5 x* ^最大限度减少系统中相邻器件间的干扰; q9 [' X1 }0 t; n" J% `1 e
8 Z% `( F V- v9 l器件封装横向和纵向尺寸增加几乎为零
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6 @0 r! ?% h4 G" a u3 O8 A) v节省系统特殊屏蔽部件的加工和组装成本
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节省PCB面积和设备内部空间8 M4 C! K/ D" ^! U
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共形屏蔽技术,可以解决SiP内部以及周围环境之间的EMI干扰,对封装尺寸和重量几乎没有影响,具有优良的电磁屏蔽性能,可以取代大尺寸的金属屏蔽罩。必将随着SiP技术以及设备小型化需求而普及。 |
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