基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究

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   摘要：讨论了 ＭＣＵ 芯片测试需求及难点，针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以 ＦＰＧＡ 为主控器件设计继电器矩阵控制电路，并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题，缩短了开发周期。通过自动测试系统验证，ＭＣＵ 芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源，实现了完全并行测试，与传统串行测试方法相比节约了测试时间，提高了芯片测试效率。
" d3 s: P) ?5 I5 [, W- J关键词：微控制单元；并行测试；继电器矩阵
$ ?* E; n4 A/ \5 R; d2 [1 v    微控制单元（ＭＣＵ）在处理器的基础上集成了存储器、计数器、ＡＤ转换器以及多种接口，甚至 ＬＣＤ 驱动电路，形成了芯片级的计算机，因而可应用于生产生活的各个方面做组合控制。ＭＣＵ 结构日益复杂，芯片种类繁多，为 ＡＴＥ测试解决方案设计带来了 挑 战。为 完 成 ＭＣＵ 测 试 任 务，ＡＴＥ不仅要具备逻辑功能测试、基本直流参数 测 试 功 能，而且要具备大功率测试、高压编程测试和交流测试功能［１］，甚至还需要具备外围电路扩展能力以完成复杂芯片的系统级测试。不同 ＭＣＵ 测试硬件相 对 独 立，为了兼顾各种测试任务，往往需要测试系统根据需要组成不同的连接，导致测试程序开发周期越来越长，硬件开发成本不断增加。

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2020-9-11 10:20 上传

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