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瑞萨科技研制高速、高可靠性的MRAM 技术(图)

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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-5-6 09:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    瑞萨科技公司今日宣布研制出一种高速度、高可靠性的MRAM(磁阻式随机存取存储器)技术,用于系统级芯片(SoC)。& P8 K/ |* N- R$ K( S
      瑞萨科技运用这项技术,利用130 nm(纳米)CMOS工艺制造了存储容量为1 Mb的MRAM存储器原型样品。研究表明,在1.2 V的工作电压下,有希望在143 MHz或者更高的工作频率下高速运行,而且在一千亿次重复写入试验中进行的测量证实,它的性能并没有下降。
    2 T5 i5 k' x6 e, F7 d  }  瑞萨科技通过与三菱电气公司合作进行的研究,取得了这些成果,并且在2004年12月14日(美国时间)在美国旧金山举行的IEEE国际电子器件会议(IEDM)上宣布了这些成果。IEEE国际电子器件会议是在12月13 日开幕的。
    * I: N- d' b0 K! c; b/ t
      <背景知识>: r  M, A4 M3 v. H
      近年来,移动设备和数字式消费家电的功能和性能已经有了显着的提高,在将来,这个发展趋势还会继续下去。在开发产品时,由于要求性能更好、功能更强、功耗更低,需要有一项技术能够实现这一切。
    * Z1 v, F# i4 f  用于存放数据和其它用途的存储器是一项关键的技术,它起着重要的作用。利用这项技术,产品可以有更多的功能,更好的性能。如今已经研制出各种类型的存储器。为了满足将来的需要,做了很多工作,一方面是改进各种常规的易失性存储器和非易失性存储器,同时研究具有崭新特性的新型的下一代存储器。3 ?& f$ O1 P6 x$ E- G$ A  W' P8 ^: `
      MRAM就是这种新型存储器,它是一种非易失性存储器,在切断电源之后,它能够保留数据,同时工作速度很高。它能够实现常规存储器的各种功能,因此对于MRAM作为下一代存储器,人们寄以很高的期望。( f& ^- {, g3 \8 R  q: [; e
      <关于这项技术的详情>- i. l# R! P9 {, A% Z
      这项新研究出来的技术的详情如下:
    1 Z% s% g+ l/ n4 K! W  (1) 建立可以实现最优性能的优化方法: C: r' N+ b" g- G
      MRAM是利用硬盘读出磁头中通常使用的磁性材料以及一种MTJ(磁性隧道结)来存储数据的。MTJ包含一个隧道层。MRAM存储器的性能取决于MTJ的成份和结构。联合研制小组研究了磁阻(MR)比*1和MTJ中的磁阻面积(RA)*2 ,并且进一步运用与读出速度的相关性,从而形成了一个新颖的方法,可以用它找出实现高速度的最优条件。
    # p# t, I$ _2 z, c! k4 b5 k  这种最优化方法是在其它制造商之前开发出来的。研究小组弄清楚了电阻与磁阻比之间的通用关系,因而形成了这种最优化方法。利用这个方法,有可能确定电阻与磁阻比最佳组合。
    6 a$ p0 V/ P% A/ Q: J  (2) 使用可以实现高速度以及隧道层最优化的磁性材料2 `# ]. ]% Q# H* z! W: v
      MTJ结构包含一个自由层、一个隧道层和引脚层。瑞萨科技的常规MRAM分别使用 CoFe (铁钴合金:磁性材料)和 AlOx (氧化铝),在工作频率超过100 MHz时,可以达到很高的工作速度,这点已经在试验性生产中得到了证实。
    7 G. U. n7 T$ e2 x& u  为了达到更高的速度,磁阻比就必须更大,但是用最优化方法进行的研究表明,使用CoFe时,要提高磁阻比是很困难的。因为这点,研究并使用了下面的技术,以便达到更高的速度。" N3 P; Q, `# N) ]
      (a) 采用 CoFeB (铁钴硼合金) 磁性材料- G3 q0 t$ I5 K% K4 S. M! T8 k6 r
      运用上述的最优化方法,可以同时开展与材料有关的研究工作。结果发现, CoFeB是一种合适的磁性材料,用它得到的磁阻比可以实现高速运作,然而CoFe并不是合适的磁性材料。正如最优化方法所预计的,使用 CoFeB可以将磁阻比提高大约30 %至70 %。
    . n$ O8 M5 O7 v/ j/ i# ?$ i  (b) 隧道层厚度的最优化
    - J3 w0 D  S$ Y1 z" A6 D. L  只要把磁性材料改成CoFeB就可以提高磁阻比,然而电阻也增大了,但是并不能提高速度。另一方面, 只要把隧道层做得薄一些,就可以降低电阻,但是隧道层过份薄又会带来可靠性方面的问题。研制小组利用现有的最优化方法,找到了隧道层的正确厚度,不仅速度高,而且可靠。这样就有可能把磁阻比做得高,同时电阻也小。
    " i9 r' _$ N* t  运用上面所说的办法,一个存储单元的感测时间(读取数据的时间)为5.2 ns,读出周期就有希望达到大约7 ns,工作频率就有希望超过143 MHz。后来,在150 ℃的高温环境下进行了一千亿次的写入试验 ,没有出现性能下降的现象。这证实了虽然隧道层的厚度减少了,可靠性仍然很高。1 m. N1 M$ k# {+ c8 {5 z' ?% R" a/ o
      < 新技术的效果 >
    3 d& T- [' h% |! y" e/ j' Z, @  运用这项新技术,使用4层铜连接线制造一个MRAM原型样品,并且研究了它的效果。所使用的1T-1MTJ结构中,一个存储单元包含一只晶体管和一个MTJ结,TMR(隧道磁阻)组件的尺寸为0.26 × 0.44 μm2 ,实现了世界上尺寸最小的存储器单元,它的尺寸是0.81 μm2。1 c9 O1 ^1 e* {

    ) K! y: q- F/ b$ _( f1 Z0 h1 p2 V3 I7 I/ b
    4 Z" I: M6 E2 l" ?; l3 {4 M

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    发表于 2020-5-6 11:10 | 只看该作者
    为了满足将来的需要,做了很多工作,一方面是改进各种常规的易失性存储器和非易失性存储器,同时研究具有崭新特性的新型的下一代存储器。
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