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通孔测试点放置问题

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  • TA的每日心情
    开心
    2025-5-28 15:02
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    [LV.8]以坛为家I

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    1#
    发表于 2020-1-3 09:58 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    大家好!
    ! Q3 W3 H0 i8 o$ `; h模拟信号线上放置一个通孔测试点,模拟信号的速率在1Mbps,总感觉不太对,但又不清楚到底会有什么影响,还请大家提点意见,多谢哦!2 V, ^2 g2 S' V9 T/ `( F5 j

    微信截图_20200103095521.png (20.98 KB, 下载次数: 9)

    微信截图_20200103095521.png
  • TA的每日心情

    2025-11-19 15:08
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    [LV.8]以坛为家I

    2#
    发表于 2020-1-3 10:02 | 只看该作者
    桩线不宜过长
  • TA的每日心情
    开心
    2025-5-28 15:02
  • 签到天数: 334 天

    [LV.8]以坛为家I

    3#
     楼主| 发表于 2020-1-3 10:19 | 只看该作者
    garden009 发表于 2020-1-3 10:028 q7 J5 Y: E- ?2 V% N" D7 h* s6 [: }
    桩线不宜过长

    , S, C6 Z, L; |( @2 O% A: H4 K什么是桩线?能再具体说明一下么,就目前这个图片,线长如何?' Z3 e) ^# s8 I# ~
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    奋斗
    2020-4-9 15:05
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    [LV.2]偶尔看看I

    4#
    发表于 2020-1-3 10:37 | 只看该作者
    海星karie 发表于 2020-1-3 10:19
    4 o6 Z' C7 Q9 O* c4 l) K什么是桩线?能再具体说明一下么,就目前这个图片,线长如何?
      J& S+ e6 x+ {# d9 I* Z
    桩线就是stub。不过你的信号才1MHz,应该不用考虑那么多了,差了好几个数量级呢。
      a& D8 H! ]2 w5 w' A! G7 |不过,一般测试点不会做成通孔吧?不是因为板厚过孔长度的stub效应,而是,测试针如何接触的问题(有孔的话测试针头会插进去导致损坏吧?反正我是没有这么用过)。一般做成露铜焊盘就可以了。7 g+ l) s, v  t1 U
    另外还有些测试针头是梅花抱爪凹型的,可以直接顶住插件元件的焊脚,不需要另外做测试焊盘。这种方式可靠性和价格好像会差一些。  o6 T9 K, D, }3 k4 q% X
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    开心
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    [LV.8]以坛为家I

    5#
     楼主| 发表于 2020-1-3 10:58 | 只看该作者
    topwon 发表于 2020-1-3 10:37
    . E& Z+ B- G8 J桩线就是stub。不过你的信号才1MHz,应该不用考虑那么多了,差了好几个数量级呢。/ W1 Y) m( @3 l! H" V2 g. \: p
    不过,一 ...

    ; w# G) x& W4 y4 g多谢版主指导!0 r/ v2 M! q0 t  F# T4 x
    板上的测试孔有通孔的,也有贴片式的,通孔的话,用一个专用的插针勾进去,呈环形,可以方便测试的7 o- A: c: e; v2 [+ y
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    奋斗
    2020-4-9 15:05
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    [LV.2]偶尔看看I

    6#
    发表于 2020-1-3 11:22 | 只看该作者
    海星karie 发表于 2020-1-3 10:581 ]& B+ N, F) h7 Q9 Y0 a
    多谢版主指导!
    0 R% D0 E) S, ~! A3 S2 _  V板上的测试孔有通孔的,也有贴片式的,通孔的话,用一个专用的插针勾进去,呈环形,可以 ...
    - d! ]- u9 w! f1 k
    那你这个测试孔只是用于调试阶段方便工程师测量信号用的吧。批量生产线上的测试治具应该不会这样操作吧?0 }) S( B+ }! d) g4 F

    8 M5 }( u& c7 w! n
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    开心
    2025-5-28 15:02
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    [LV.8]以坛为家I

    7#
     楼主| 发表于 2020-1-3 11:48 | 只看该作者
    topwon 发表于 2020-1-3 11:22
    9 S, D0 C( `! c5 _3 Y# v那你这个测试孔只是用于调试阶段方便工程师测量信号用的吧。批量生产线上的测试治具应该不会这样操作吧? ...
    ' ?( V6 z; t9 Q1 [
    对的,目前打样阶段,批量的话,这些测试孔就要去掉的. k. Q5 A3 X0 x- n' u% _6 P+ w
    头像被屏蔽
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    开心
    2025-1-23 15:05
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    [LV.4]偶尔看看III

    8#
    发表于 2020-1-3 13:59 | 只看该作者
    提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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    开心
    2025-5-28 15:02
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    [LV.8]以坛为家I

    9#
     楼主| 发表于 2020-1-3 15:09 | 只看该作者
    aarom 发表于 2020-1-3 13:591 B, l2 W. h# Y5 R7 _9 E
    是測試孔的零件不上, 測試孔可以保留, 方便維修時測量. 及 量大時測試治具使用.
    / V& r, u+ v) y/ I; }4 M5 b# C/ I! Y9 {) Z: d! K5 t% x0 Y* C
    如 ICT 測試.
    % H  M3 n) s) m/ S: a
    有道理
    7 D2 j/ C$ Q: X. z- @, t多谢版主指导!
    - e, D- ^% c( b# C* l4 o9 a
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