|
|
EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
摘要：在数字信息技术和网络技术高速发展的今天，嵌入式系统已经广泛地渗透到人们的日常生活等方方面面中。而在嵌入式系统开发流程中调试是一个相当重要的环节．调试器是衡量一个系统开发环境优劣的重要因素。嵌入式系统的特点决定了发过程中交叉调试的必然性。$ F- H+ i0 E: J# z* |: [
* _3 ?* b, Y9 |2 Q$ H$ Y' i) l! t
本论文的主要工作是对当前两种主流的交叉调试技术即目标监控程序调试技术和片上调试技术进行研究与实现，之后对目前在嵌入式系统开发中常用的硬件调试方法ICE、BDM、JTAG的实现原理、系统结构作了详细的分析。在目标监控程序调试技术方面，根据Windows CE目标监控程序调试技术的总体框架对几个主要组成部分的具体实现进行详细地阐述。在片上调试技术方面，根据JTAG 片上调试技术的总体框架对各个组成部分进行具体实现。6 c( F% E; `& C' Z, r/ k& I
! Q! H: P8 ~4 o
% W8 H1 }8 W+ C$ O关键词：交叉调试， ICE，JTAG
' ?% }4 Q8 g0 d* o/ }2 O+ l# ~" S5 }" `2 P
# L, I7 B6 B' Z2 n0 @- H
1、 嵌入式系统的概述和各种调试手段, W0 T F+ K0 _9 r4 W$ h# N% l
. e% f. X0 w2 l( H4 k5 _" s) Q$ t B3 A, \9 Z4 I9 F8 s, P
/ c1 P. Z8 K; X6 b! O
|
|
/1 
发表于 2019-7-23 11:16
收藏
淘帖
支持！
反对！