ADS 拟合去嵌实测走线s参数，发现的一些问题，请大神解答

遗忘小勇

使用ADS最近联系拟合实测去嵌走线的S参数，发现两个问题，
  u% R" D: z& n1 }  P
3 B: T+ [+ h( Q3 T# ]5 f' J: h1，调整完DK及拟合完线宽，间距值为4.4/7.6，（85ohm阻抗）然后想要验证一下阻抗，就用ADS软件自带的CILD测试了一下结果发现结果竟然有95ohm 然后又用了另外一个软件算了一下大概83ohm，差别这么大吗？是哪里搞错了吗？

2，如图所示关于拟合完的走线的回损感觉不是很正常（s55的曲线）不知道是哪里出了问题，有大神知道吗？

遗忘小勇

大神可能还没太理解目前的情况，目前是通过拟合走线调整了DK，线宽，线距保持与实测去嵌数据保持一致，但目前情况下得到的线宽线距测出来的阻抗和实际想要得到的阻抗不一样实测是95ohm，理论得到的是85ohm/
7 h& _' F1 s5 T8 @

Griffin

ADS软件自带的CILD测试是用于进行阻抗分析的，本例中建立的层叠：
& U2 p% C. G- v" E  \! e# {
1设置合理的层叠（根据工程需求确定层叠厚度，介质材料）。
2进行传输线的分析，例如内层带状差分线。
3根据原始设置，点击仿真得到结果。
/ L, n+ T/ s" q4 K; t& _# G8 _4优化设计，例如调整差分阻抗的大小。
5使用扫参功能，观察和分析多个参数的同时变化结果。