光电子元器件需要做的可靠性试验项目

angern

光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件，能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。主要包括这两类：

; k; i9 ], n; J8 q+ {7 s3 N5 L+ W' w光纤通讯器件

光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件，能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。主要包括这两类：

光纤通讯器件

如 LED灯具，或其它发光照明灯具、发光装饰灯具。

综上可以理解为， 产品需要电转、光转电， 或其它光电相关功能，即属于光电器件。

光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，各行业对光电子元器件的检测是一项必不可少的基础工作。而需要做可靠性检测的产品种类很多，每个行业的检测需求也不同，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。

那么光电子元器件大多数情况下，都要做哪些可靠性检测项目？我们一起来看看吧。

1、光电子元器件物理特性测试项目

密封性：确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。

可燃性：确定光电子器件所使用材料的可燃性。

可焊性：确定需要焊接的光电子器件引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积相当的扁平引线）之可焊性。

引线键合强度：确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。

2、光电子元器件机械完整性试验项目
! |3 U3 y$ l; o5 ]8 \4 Z
6 z) J* ^, z8 [, v- t% J8 O4 c% n

产品运输、使用中难免磕碰，即使被安装在设备上了，也极可能遇到风扇引起的振动。

机械冲击和振动就是针对产品可能碰到的各种不佳情况，提前做好预防与筛选工作。

( g0 @- ^' J/ K# h0 w

1、机械冲击：确定光电子器件能否适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。

2、变频振动：确定在规范频率范围内，振动对光电子器件各部件的影响。

3、热冲击：确定光电子器件，在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。

4、插拔耐久性：确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出，光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。

5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。

6、温度循环：确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。

7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。

8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。

8 h$ u- P) E7 f/ U
3、光电子元器件加速老化试验
: D9 Y2 E4 q  G/ l7 Q% a

在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。

1、高温加速老化：加速老化过程中的最基本环境应力是高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。

2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。

3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验，是定期按顺序逐步升高温度（如60℃、85℃和100℃）。

4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可对管电子器件进行加速老化。

温度循环的加速老化，目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。

6 ^7 |! l7 C. E& U6 _0 T

因此，光器件的可靠性其实是一个很复杂的系统工程。为提高光电子元器件的使用可靠性，须在元器件研发阶段、量产及出厂阶段做好相关可靠性测试、筛选等工作，由研发、生产、采购、质保、体系管理等多方面的参与，才能为提高电子产品可靠性提供坚实的保障。

% ~( p' H4 s2 v. U/ }

MXM098

使用方做哪些试验进行选型评估呢？

sugarbabysu

光器件的可靠性很复杂的

瞪郜望源_21

不错不错，很美味和有料，真是绝，尝鲜

nevadaooo

在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化